Биполярный транзистор с изолированным электродом затвора

Использование: в полупроводниковой технологии. Сущность изобретения: биполярный транзистор с изолированным затвором не имеет элементов затвора, а ток затвора проводится в кристалле биполярного транзистора с изолированным затвором, исходя из вывода затвора, непосредственно через слои поликремния электродов затвора к отдельным ячейкам биполярного транзистора с изолированным затвором. Техническим результатом изобретения является создание биполярного транзистора с изолированным затвором, который можно изготовить простым способом и который обеспечивает при этом гомогенное включение. 5 з.п. ф-лы, 5 ил.

 

Изобретение относится к области полупроводниковой технологии. Оно касается биполярного транзистора с изолированным затвором (IGBT) согласно ограничительной части пункта 1 или 2 формулы изобретения.

Биполярный транзистор с изолированным затвором такого типа известен из US-A-5 208 471. Там раскрыт кристалл биполярного транзистора с изолированным затвором, который имеет множество параллельно включенных отдельных ячеек биполярного транзистора с изолированным затвором, первый и второй основные выводы и вывод затвора. Вывод затвора электрически соединен с электродами затвора отдельных ячеек биполярного транзистора с изолированным затвором. Электроды затвора образованы соединенными параллельно слоями поликремния.

В биполярных транзисторах с изолированным затвором, согласно уровню техники, сигнал затвора в кристалле биполярного транзистора с изолированным затвором и минимальной поверхностью 0,2 см сначала распределяется по периферии кристалла с помощью питателей затвора.

Узкие полоски (элементы затвора) затем проводят сигнал внутрь кристалла (отчетливо показаны в ЕР 0755076 А2). Как питатели затвора, так и элементы затвора состоят из алюминиевой металлизации. Возможно также распределять сигнал по поверхности кристалла исходя из расположенной в одном углу или в центре подушки затвора через элементы затвора (смотри фиг.1).Обычно применяемое конструкционное правило гласит, что расстояние х между элементами затвора должно соответствовать следующему условию.

где R обозначает сопротивление слоя поликремния, который проводит сигнал с элемента затвора на физический затвор, с обозначает емкость слоя металл-оксид-полупроводник (МОП) на единицу поверхности затвора и τ - характерное время переключения биполярного транзистора с изолированным затвором, определяемое как τ =RGate·Сtot где Rgate обозначает сопротивление затвора и Сtot - общую емкость слоя МОП кристалла. Типичными являются величины с=30 нФ/см2, R=30 Ом и τ =200 нс. Это приводит к × <<0,47 см. Если выполнено это условие, то независимо от добавочного сопротивления затвора распределение напряжения в затворе в любой момент времени является плоским и тем самым плотность тока - гомогенной.

Однако элементы затвора требуют сложной и дорогостоящей металлизации припоем, если необходима пайка со стороны катода, и предъявляют высокие требования к пассивации. Изъяны пассивации приводят к коротким замыканиям между затвором и эмиттером, которые проявляются в виде досрочных выходов из строя и которые можно обнаружить только с помощью дорогостоящих испытаний на термическое старение. Аналогичные проблемы возникают при прижимном контактировании.

В статье Ивамуро и др. "Экспериментальная демонстрация МОП-тиристора с двойным затвором". Proceedings of the 7th International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's (ISPSD), Yokohama, Май 23-25 1995, Nr. SYMP. 7, 23 мая 1995, страницы 18-23, ХР 000594234 Institute of Electrical and Electronics Engineers, раскрыт МОП-тиристор с двойным затвором, в котором скомбинирован биполярный транзистор с изолированным затвором и тиристор. Общий полупроводниковый элемент имеет площадь 0,25 см, причем имеет переключательную способность 100 А/см2.

В основу изобретения положена задача создания биполярного транзистора с изолированным затвором, который можно изготавливать простым образом и который несмотря на это переключает гомогенно. Эта задача решена с помощью признаков независимых пунктов формулы изобретения.

Основной идеей изобретения является то, что ток затвора в кристалле биполярного транзистора с изолированным затвором, исходя из вывода затвора, через слои поликремния электродов затвора непосредственно направляется к отдельным ячейкам биполярного транзистора с изолированным затвором без применения элементов затвора. Согласно первому варианту выполнения сигнал затвора можно подводить к кристаллу биполярного транзистора с изолированным затвором через расположенный в углу вывод затвора (подушку затвора) или, согласно второму варианту выполнения, - через центральный вывод затвора.

Таким образом, изобретение диаметрально противоположно преобладающему мнению, что, начиная с определенной величины кристалла, гомогенное включение достигается только при применении элементов затвора. В противоположность этому изобретатели впервые установили, что максимальная плотность рассеиваемой мощности является всегда гомогенной, если все еще гомогенной является распределение плазмы. Биполярный компонент ведет себя, в частности, в момент времени, когда МОП-ток в нем не является больше достаточным для поддержания внешнего тока, принципиально по-другому, чем униполярный элемент, например, МОП-транзистор. После этого момента времени происходит переход от биполярного тока к чисто дырочному току, сопровождаемый рассасыванием неосновных носителей главного перехода. Как только этот процесс заканчивается, полный ток обеспечивается дырками и создается зона пространственного заряда. Однако распределение плазмы в поперечном направлении все еще достаточно гомогенное. Поэтому быстро гомогенизируется также очень негомогенное распределение тока. В момент максимальной мощности рассеяния распределение тока почти гомогенно. Поэтому не сокращается область надежной работы и едва изменяется энергия переключения. В результате можно изготавливать биполярные транзисторы с изолированным затвором без элементов затвора, даже если превышается минимальная поверхность 0,2 см2, которая считается необходимой для МОП-транзисторов без элементов затвора.

На фиг.2а и 2b показан пример выполнения кристалла 1 биполярного транзистора с изолированным затвором согласно изобретению. Показан первый основной вывод 3, который окружен изоляцией 7 и рамкой 8 затвора. Рамка 8 затвора соединена с выводом 4 затвора, от которого, например, гибкий металлический проводник может вести к соответствующему выводу на корпусе. В противоположность этому, согласно уровню техники предусмотрены, как показано на фиг.1а и 1b, элементы затвора 6, которые распределяют сигнал затвора, исходя от вывода 4 затвора, по поверхности затвора.

Преимущества изобретения состоят, в частности, в том, что

- за счет отсутствия элементов затвора обеспечивается простое и дешевое выполнение металлизации припоем;

- более простая технология обеспечивает большую надежность при прижимном контактировании кристалла.

Ниже приводится подробное описание изобретения со ссылками на чертежи, на которых изображено:

фиг.1a - кристалл биполярного транзистора с изолированным затвором, согласно уровню техники, на виде сверху;

фиг.1b - часть кристалла биполярного транзистора с изолированным затвором, согласно фиг.1а, в изометрической проекции;

фиг.2а - кристалл биполярного транзистора с изолированным затвором, согласно первому примеру выполнения изобретения, на виде сверху;

фиг.2b - часть кристалла биполярного транзистора с изолированным затвором, согласно фиг.2а, в изометрической проекции;

фиг.3 - кристалл биполярного транзистора с изолированным затвором, согласно второму примеру выполнения изобретения, на виде сверху;

фиг.4 - разрез кристалла биполярного транзистора с изолированным затвором согласно изобретению;

фиг.5 - слой поликремния на виде сверху.

Используемые на фигурах позиции приведены в перечне позиций.

В предварительных опытах был изготовлен медленный кристалл на 2,5 кВ с минимальной поверхностью 0,2 см2 без элементов затвора и измерены его свойства. Они были внутри поля допусков не отличимы от версии с элементов затвора. Однако существовали опасения, что быстрый кристалл без элементов затвора будет отключать при экстремально негомогенных распределениях тока и поэтому будет иметь высокие потери переключения, медленные переходные процессы и небольшую область надежной работы. Однако аналитические вычисления, цифровое моделирование процесса переключения, а также тестирование переключения быстрых биполярных транзисторов с изолированным затвором без элементов затвора показали неожиданный результат. Было показано, что время распространения сигнала, сравнимое со временем переключения τ , необязательно приводит к негомогенному распределению тока при отключении. Опыты также показали, что включение не является критичным для отключения.

В случае, когда управление затвором происходит с периферии кристалла и выбрано

то при выключении сначала возникает перераспределение тока. Наружные части кристалла начинают отключать, нагрузка поддерживает общий ток неизменным и коммутирует ток в центр кристалла. К этому моменту времени анодное напряжение еще по существу равно нулю.

В этот момент времени МОП-ток уже больше недостаточен для поддержания внешнего тока. В чисто МОП-транзисторе теперь начинается увеличение напряжения. Увеличение напряжения через емкость затвор - анод вносит в затвор заряд так, что распределение напряжения по затвору остается постоянным и ток больше не уменьшается. Как только достигается полное напряжение нагрузки, то механизм регулирования разрушается, напряжение затвора падает и компонент отключает.

Сущность изобретения состоит в том, что было установлено и с преимуществом использовано то, что биполярный компонент с выше указанного момента ведет себя принципиально по-другому. С этого момента времени происходит переход от биполярного тока к чисто дырочному току, сопровождаемый рассеиванием неосновных носителей главного перехода. Как только этот процесс заканчивается, то весь поток обеспечивается дырками и создается зона пространственного заряда. Однако распределение плазмы в поперечном направлении все еще достаточно гомогенное. Поэтому в этот момент времени быстро гомогенизируется очень негомогенное распределение тока. В момент времени максимальной мощности рассеяния распределение тока почти гомогенно. Поэтому не уменьшается область надежной работы и почти не изменяется энергия отключения. Таким образом, можно изготавливать биполярные транзисторы с изолированным затвором, которые не нуждаются в элементах затвора.

На фиг.2а и 2b показан кристалл 1 биполярного транзистора с изолированным затвором без элементов затвора, согласно изобретению, на виде сверху, соответственно в изометрической проекции, содержащий первый видимый основной вывод 3 и второй, не изображенный второй основной вывод, а также вывод 4 затвора, который в показанном на фиг.2а и 2b варианте выполнения расположен на краю, в частности, в углу кристалла 1 биполярного транзистора с изолированным затвором. В противоположность к фиг.1а и 1b, которые соответствуют уровню техники, не предусмотрены элементы затвора 6, а сигнал затвора, исходя из вывода 4 затвора, распределяется через рамку 8 затвора по периферии. Как показано на фиг.2b, рамка 8 затвора также находится в непосредственном соединении с электродом 5 затвора. Она предпочтительно имеет сопротивление менее 5 Ом.

Таким образом, первый основной вывод 3 образован поверхностью, которая является выпуклой вплоть до гнезда вывода 4 затвора, причем в случае выполнения, согласно фиг.2а и 2b, его выполненная выпукло зона поверхности окружена рамкой 8 затвора. Если имеются несколько выводов 4 затвора, то по существу возвышенная поверхность первого главного вывода имеет соответствующее число выемок.

Между первым основным выводом, имеющим большую поверхность (показан в виде металлизации), который образован, в частности, катодом биполярного транзистора с изолированным затвором и выводом 4 затвора и рамкой 8 затвора, предусмотрена изоляция 7. Согласно изобретению вывод 4 затвора, соответственно рамка 8 затвора соединены со слоями поликремния электродов 5 затвора биполярного транзистора с изолированным затвором непосредственно, т.е. без промежуточного включения элементарных затворов. Слой 5 поликремния биполярного транзистора с изолированным затвором соединен непосредственно с выводом 4 затвора. Остальные слои 5 поликремния отдельных ячеек 2 биполярного транзистора с изолированным затвором соединены параллельно в компоненте. Один вариант выполнения расположения слоев 5 поликремния показан на фиг.5. В этом случае он покрывает по большой поверхности кристалл и имеет выемки 5'. На фиг.4 показана также изоляция 7, которая предусмотрена между выводом 4 затвора и первым основным выводом 3 соответственно, предусмотренное для нее углубление.

Естественно, что вывод 4 затвора может быть расположен центрально на кристалле 1 биполярного транзистора с изолированным затвором. Этот вариант выполнения показан на фиг.3. В этом случае вывод 4 затвора также окружен изоляцией 7, которая отделяет его от основного вывода.

Перечень позиций

1 Кристалл биполярного транзистора с изолированным затвором

2 Отдельная ячейка биполярного транзистора с изолированным затвором

3 Первый главный вывод

4 Вывод затвора (подушка затвора)

5 Электрод затвора

5' Выемка

6 Элементарный затвор

7 Изоляция

8 Рамка затвора

1. Биполярный транзистор с изолированным затвором (IGBТ), содержащий по меньшей мере один кристалл (1) биполярного транзистора с изолированным затвором со множеством параллельно соединенных отдельных ячеек (2) биполярного транзистора с изолированным затвором, на каждом кристалле первый (3) и второй основные выводы и по меньшей мере один вывод (4) затвора, который электрически соединен с электродами (5) затвора отдельных ячеек биполярного транзистора с изолированным затвором, причем электроды (5) затвора образованы электрически параллельно соединенными слоями поликремния, отличающийся тем, что кристалл (1) биполярного транзистора с изолированным затвором имеет вывод (4) затвора без элементов затвора и такую величину поверхности, при которой в МОП-транзисторах с выводом затвора с элементами затвора происходит неоднородное распределение тока при максимальной рассеиваемой мощности, и что слои поликремния электрически соединены непосредственно с выводом (4) затвора или с каждым выводом затвора.

2. Биполярный транзистор по п.1, отличающийся тем, что кристалл биполярного транзистора с изолированным затвором имеет площадь, по меньшей мере, 0,2 см2.

3. Биполярный транзистор по п.1 или 2, отличающийся тем, что вывод (4) затвора расположен на краю кристалла (1) биполярного транзистора с изолированным затвором, в частности в одном углу.

4. Биполярный транзистор по п.3, отличающийся тем, что предусмотрена окружающая первый основной вывод (3) металлизированная рамка (8) затвора, которая электрически соединена с выводом (4) затвора, а между первым основным выводом (3) и выводом (4) затвора и рамкой (8) затвора предусмотрена изоляция (7).

5. Биполярный транзистор по п.4, отличающийся тем, что рамка (8) затвора имеет сопротивление слоя менее 5 Ом.

6. Биполярный транзистор по п.1, отличающийся тем, что вывод (4) затвора расположен, по существу, в центре кристалла (1) биполярного транзистора с изолированным затвором и окружен изоляцией (7).



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к силовым полупроводниковым приборам

Биполярный транзистор с изолированным затвором (IGBT) включает эмиттерную область, верхнюю область подложки, которая формируется ниже эмиттерной области, плавающую область, которая формируется ниже верхней области подложки, нижнюю область подложки, которая формируется ниже плавающей области, канал, изолирующую пленку затвора, которая покрывает внутреннюю поверхность канала, и электрод затвора, который расположен внутри канала. Когда распределение концентрации примесей p-типа в верхней области подложки и в плавающей области, которые расположены ниже эмиттерной области, оценивается по толщине полупроводниковой подложки, концентрация примесей p-типа снижается по мере увеличения расстояния сверху вниз от верхней границы верхней области подложки, расположенной ниже эмиттерной области, и имеет значение локального минимума на заданной глубине плавающей области. Изобретение обеспечивает возможность ограничить разброс напряжения в открытом состоянии и порогового напряжения на затворе различных биполярных транзисторов с изолированным затвором серийного производства. 3 н. и 9 з.п. ф-лы, 41 ил.

Изобретение относится к силовым полупроводниковым приборам и биполярным интегральным схемам. Изобретение обеспечивает повышение быстродействия, уменьшение энергетических потерь при переключении, упрощение технологии изготовления. Интегральная схема силового биполярно-полевого транзистора реализуется с использованием оригинальной функционально-интегрированной конструкции интегральной схемы, в которой функционально совмещены сильнолегированная область базы биполярного транзистора и исток и сток полевого транзистора, затвор полевого транзистора и область коллектора биполярного транзистора. 2 н. и 2 з.п. ф-лы, 3 ил.
Наверх