Способ оценки катодного механизма инициирования пробоя в вакууме

Изобретение относится к технике высоких напряжений, в частности к области электрической изоляции в вакууме, и может быть использовано в электронной промышленности. Технический результат состоит в повышении результативности оценки механизмов инициирования пробоя в вакууме. Для достижения технического результата инициирование пробоя в вакууме осуществляют на основе предварительной обработки катода высоковольтными импульсами фиксированной длительности при минимальном перенапряжении. При этом перед началом каждого импульсного воздействия подают на промежуток постоянное напряжение, измеряют предпробойный ток, строят токовую характеристику и по ней определяют коэффициент усиления напряженности электрического поля на микронеоднородностях поверхности катода. Затем измеряют напряжение импульсного пробоя. Этот процесс повторяют до получения установившихся значений коэффициента усиления поля и напряжения импульсного пробоя при выбранной длительности импульса.

 

Изобретение относится к технике высоких напряжений, в частности к области электрической изоляции в вакууме, и может быть использовано в электронной промышленности, а также в научных исследованиях при изучении механизма вакуумного пробоя.

Известен способ оценки катодного механизма инициирования пробоя в вакууме [1]. Способ включает подачу напряжения постоянного тока на вакуумный промежуток, измерение приложенного напряжения и предпробойного тока, построение вольтамперной характеристики, определение по характеристике коэффициента усиления напряженности электрического поля β на микронеоднородностях поверхности катода, измерение напряжения Uпр первого после определения параметра β пробоя, вычисление по геометрии промежутка и напряжению первого пробоя электрической прочности E0 и проверку критерия катодного инициирования

Недостаток способа заключается в том, что он применим только в стационарном режиме.

Известен способ оценки катодного механизма инициирования пробоя в вакууме, выбранный в качестве прототипа [2].

Способ включает подачу импульсного напряжения на вакуумный промежуток, подъем его амплитуды до величины, достаточной для инициирования пробоя, измерение времени запаздывания пробоя, определение плотности тока и проверку критерия катодного инициирования в нестационарном режиме

где tз - время запаздывания пробоя в вакууме; j - плотность тока.

Недостаток способа заключается в том, что он применим только для эмиттеров известной геометрической формы, позволяющих определять плотность тока, и не применим для электродов с развитой рабочей поверхностью с микроэмиттерами неизвестной геометрии.

Задача, на решение которой направлено изобретение, состоит в повышении эффективности способа за счет распространения его на электроды любой геометрии.

Это достигается тем, что в известном способе оценки катодного механизма инициирования, включающем подачу импульсного напряжения на вакуумный промежуток и подъем амплитуды импульса до величины, достаточной для инициирования пробоя, применяют обработку катода высоковольтными импульсами фиксированной длительности при минимальном перенапряжении, при этом перед началом каждого импульсного воздействия подают на промежуток постоянное напряжение, измеряют предпробойный ток, строят токовую характеристику и по ней определяют коэффициент усиления напряженности электрического поля на микронеоднородностях поверхности катода, затем измеряют напряжение импульсного пробоя, а названные операции повторяют до получения установившихся значений коэффициента усиления поля и напряжения импульсного пробоя при выбранной длительности импульса, после чего все операции повторяют при другой длительности импульса и проверяют выполнение критерия

где

Кβ=β12 - относительное изменение параметра β в результате разных режимов импульсной обработки;

β1, β2 - установившиеся значения параметра β соответственно после обработки импульсами длительностью t1 и t2;

KU=U2/U1 - относительное изменение импульсного напряжения пробоя с изменением длительности;

U1, U2 - установившиеся значения импульсного напряжения пробоя соответственно на импульсах длительностью t1 и t2.

Введение операции обработки катода высоковольтными импульсами фиксированной длительности при минимальном перенапряжении обеспечивает реализацию оптимальных режимов импульсной обработки поверхности катода. Осуществление операций подачи на промежуток постоянного напряжения, измерения предпробойного тока, построения токовой характеристики перед началом каждого импульсного воздействия обеспечивает контроль состояния катодной поверхности по величине коэффициента усиления напряженности электрического поля на микронеоднородностях катодной поверхности. Повторение операций обеспечивает получение установившихся значений коэффициента усиления поля β, характеризующего состояние поверхности катода, и соответствующего ему напряжения импульсного пробоя при выбранной длительности импульса. Повторение операций при другой длительности высоковольтного импульса обеспечивает получение установившихся значений коэффициента усиления поля и соответствующего ему напряжения импульсного пробоя при другом режиме воздействия на катод и позволяет определить относительные изменения параметра β и импульсного напряжения пробоя, возникшие в результате обработки катода импульсами разной длительности. Проверка выполнения критерия (3) позволяет сделать вывод о применимости механизма катодного инициирования пробоя в нестационарном режиме. Выражение (3) получено на основе критерия катодного инициирования в нестационарном режиме (2) и экспериментальных данных по времени запаздывания пробоя в вакууме [3].

Способ оценки катодного механизма инициирования пробоя в вакууме осуществляют следующим образом. Подают на промежуток постоянное напряжение, измеряют предпробойный ток, строят вольтамперную характеристику и по ней определяют коэффициент усиления напряженности электрического поля на микронеоднородностях катодной поверхности, затем при минимальном перенапряжении подают высоковольтный импульс фиксированной длительности и измеряют напряжение импульсного пробоя. Названные операции повторяют до получения установившихся значений коэффициента усиления поля и напряжения импульсного пробоя при выбранной длительности импульса. После чего все операции повторяют при другой длительности импульса напряжения и проверяют выполнение критерия (3).

Согласно заявляемому способу при минимальном перенапряжении осуществлена обработка медного катода вакуумного конденсатора (d=0,2 мм; S=2500 мм2) высоковольтными импульсами длительностью t1=200 нс. Перед каждым импульсным воздействием в стационарном режиме измерялись напряжение и предпробойный ток, строилась вольтамперная характеристика, по которой определялось значение параметра β1. По осциллограммам приложенного импульса определялось напряжение импульсного пробоя U1. Затем осуществлена обработка поверхности катода импульсами длительностью t2=50 нс и определены соответствующие значения параметра β2 и напряжения импульсного пробоя U2. При длительности высоковольтного импульса t1=200 нс установившиеся значения коэффициента усиления поля и напряжения пробоя составили β1=107, U1=12,3 кВ при длительности t2=50 нс - β2=77, U2=17 кВ. Относительное изменение состояния поверхности Kβ=β12 c точностью ~3% соответствует величине , отражающей соответствующее изменению состояния поверхности относительное изменение напряжения импульсного пробоя, что однозначно указывает на реализацию катодного механизма инициирования вакуумного пробоя.

Технический результат изобретения заключается в повышении эффективности известного способа оценки катодного механизма инициирования пробоя за счет распространения его на электроды любой геометрии.

Источники информации

1. Емельянов А.А., Кассиров Г.М., Филатов А.Л. Прогнозирование электрической прочности вакуумной изоляции в стационарном режиме. // Изв. вузов. Физика, 1976. - N. 11. - С.138-140.

2. Емельянов А.А., Кассиров Г.М. Влияние формы импульсного напряжения на время запаздывания вакуумного пробоя. // Изв. вузов. Физика, 1976. - N. 11. - С.138-140. - прототип.

3. Емельянов А.А. О некоторых режимах повышения электрической прочности вакуумной изоляции, ПТЭ, 1977. -N. 5. 1997. - С.68-71.

Способ оценки катодного механизма инициирования пробоя в вакууме, включающий подачу импульсного напряжения на вакуумный промежуток и подъем амплитуды импульса до величины, достаточной для инициирования пробоя, отличающийся тем, что применяют обработку катода высоковольтными импульсами фиксированной длительности при минимальном перенапряжении, при этом перед началом каждого импульсного воздействия подают на промежуток постоянное напряжение, измеряют предпробойный ток, строят токовую характеристику и по ней определяют коэффициент усиления напряженности электрического поля на микронеоднородностях поверхности катода, затем измеряют напряжение импульсного пробоя, а названные операции повторяют до получения установившихся значений коэффициента усиления поля и напряжения импульсного пробоя при выбранной длительности импульса, после чего все операции повторяют при другой длительности импульса и проверяют выполнение критерия

где Кβ=β12 - относительное изменение параметра β в результате разных режимов импульсной обработки;

β1, β2 - установившиеся значения параметра β соответственно после обработки импульсами длительностью t1 и t2;

KU=U2/U1 - относительное изменение импульсного напряжения пробоя с изменением длительности;

U1, U2 - установившиеся значения импульсного напряжения пробоя соответственно на импульсах длительностью t1 и t2.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике высоких напряжений, в частности к области электрической изоляции в вакууме, и может быть использовано в электронной промышленности.

Изобретение относится к технике высоких напряжений, в частности к технике электрической изоляции в вакууме, и может быть использовано в электронной промышленности.

Изобретение относится к области электроники органических материалов и может найти применение в разных областях техники, в частности в электротехнике, в приборах и оборудовании с использованием полевых эмиссионных источников электронов.

Изобретение относится к области электронной техники. .

Изобретение относится к области приборостроения, а именно к технике индикации, и может быть применено для создания люминесцентных дисплеев для отображения различной информации.

Изобретение относится к технике индикации и может быть использовано при разработке средств отображения на плазменных панелях (ПП) переменного тока. .

Изобретение относится к технике индикации и может быть использовано в дисплеях отображения цветной информации с высоким контрастом и упрощенным процессом ввода информации, при использовании разных видов индикаторных элементов отображения.

Изобретение относится к технике индикации и может быть использовано в дисплеях отображения цветной информации с высоким контрастом и упрощенным процессом ввода информации, при использовании разных видов индикаторных элементов отображения.

Изобретение относится к области техники индикации и может быть использовано при построении наборных цветных телевизионных экранов коллективного пользования из модулей на плазменных панелях.

Изобретение относится к области техники индикации и может быть использовано при построении наборных цветных телевизионных экранов коллективного пользования из модулей на плазменных панелях.

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к технике измерения высоких напряжений в процессе испытания электрической изоляции

Изобретение относится к технике высоких напряжений, а именно к диагностике электрической изоляции в вакууме, и может быть использовано в электронной промышленности

Изобретение относится к области разработки способов повышения электрической прочности вакуумных высоковольтных промежутков в вакуумных выключателях, ускорителях и других высоковольтных устройствах

Изобретение относится к области электроники, а именно к вакуумным триодам, позволяющим коммутировать большие токи малыми напряжениями и использующим полевые (холодные) катоды

Изобретение относится к электронным приборам, предназначенным для работы в усилительном и генераторном режимах в диапазоне коротких, метровых и дециметровых волн

Изобретение относится к вакуумной микроэлектронике и может быть использовано при создании тонкопленочных интегральных схем

Изобретение относится к светотехнике и может быть использовано при создании осветительных приборов бытового и промышленного назначения для улучшения их потребительских качеств: получения свечения с заданным комфортным спектром, например разных оттенков теплого и холодного белого, с повышенной равномерностью или требуемой неравномерностью

Изобретение относится к системам получения заряженных частиц больших энергий и предназначено для применения в области ядерной физики и ядерных технологий. Ускоритель заряженных частиц содержит вакуумную камеру в форме участка кольцевой трубы, на торцах которого внутри находятся источник заряженных частиц и мишень. Источник заряженных частиц выполнен в виде соосно расположенных цилиндров с кромками в форме лезвия. Вне вакуумной камеры расположена система, создающая переменное магнитное поле в виде электрических контуров, соединенных с высокочастотным генератором переменного тока, с возможностью получения фокусирующего и одновременно ускоряющего переменного магнитного поля, зависящего от радиуса ρ орбиты заряженных частиц в соответствии с выражением Н~ρ-α, где Н - напряженность магнитного поля частотой 105-107 Гц, α=0,45-0,55. Электрические контуры установлены с возможностью перемещения в продольном и поперечном направлениях. Источник заряженных частиц и мишень установлены с возможностью перемещения по орбите заряженных частиц. Соосно расположенные цилиндры установлены с возможностью перемещения относительно друг друга вдоль образующей. Технический эффект заключается в получении большой плотности мощности потока заряженных частиц на мишени, что расширяет функциональные возможности применения ускорителя в области ядерной физики, например технологии получения трансурановых материалов. 3 з.п. ф-лы, 2 ил.

Изобретение относится к оптоэлектронике - светоизлучателям и дисплеям. Эмиссионная светодиодная ячейка выполнена как цилиндр - диэлектрический микроканал, на внутреннюю поверхность которого нанесен электрод - полупроводящий пленочный нанослой, совмещающий в себе катод, анод и коллектор. Полевой эмиттер, вторичный эмиттер и люминофор выполнены как несплошное покрытие нанопорошками, нанесенными на электрод микроканала из общей суспензии в едином технологическом цикле. Полевой и вторичный эмиттеры могут быть одним и тем же материалом. Состав порошков, их количество, доля покрытой поверхности определяются эмпирически в устройстве и подбираются так, чтобы иметь максимальный энергетический эффект. Микроканал ячейки длиной L и внутренним диаметром w, при ее использовании, механически и электрически плотно контактирует своими торцами с электродами, напряжение между которыми V, располагается вдоль линий электрического поля под углом φ. Действующее напряжение для эмиссии электронов и люминесценции оценивается по формуле V(w/L)tgφ. Отличие заявленного варианта заключается в том, что он действует как множество последовательных микроизлучателей. При этом цепь протекания электронного потока и электрического тока замкнута в каждом микроизлучателе, что уменьшает энергетические потери. Технический результат - увеличение КПД преобразования и яркости излучения, упрощение технологии. 3 ил.
Использование: для изготовления фотокатодов, предназначенных для работы при низком уровне освещенности. Сущность изобретения заключается в том, что на подложку наносят слой нещелочного металла, очувствляют его как минимум одним щелочным металлом, после этого, с целью увеличения квантового выхода, последовательно напыляют и очувствляют не менее 20 слоев нещелочного металла до прекращения роста максимума фототока при очувствлении. Технический результат: обеспечение возможности повышения квантового выхода и чувствительности фотокатода. 6 з.п. ф-лы.
Наверх