Устройство для контроля толщины изделий

 

< ) О П И С А Н И Е 236022

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Са(оз Советски(1

Социалистических

Республик.>HE!1IcII Ioc oT;Ji3T. свидетельства ¹

Залв iciio 12.V.1966) (¹ 1075233, 25-28) К(1, 421), 12>03

С fJPIICOC:(II I!C! IИС КИ №

1(омитет по делам изобретений н открытий прн Совете Министров

СССР

11риоритст

Опубликовано 24,1,1969. Бк>ллстсш, ¹ 6

Дата опуоликован;!л Oliiic31 (ПК ).) 01I) УДК 531.717.11:531. .717.53 (088.8) > . (B I l

Ii 3O(i !) С! < I!13

Н. С. Максимовы и И. И, Берште)!н,. c, явит(., и>

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛ ЩИ11hl ИЗДЕЛИЙ

I 1 p < . 1 М с T 11 3 О 0 р С Т C н l! 51

Известны устройства для контроля To,!IIIII! из;(ел и й, соде р ж l I!I I i c I I, è òó и з I H l if B T I I of )1!!T(I)liIll;1HT 1ll 1(I!11(>i(ci l i)3 lO

1((!1 jI II;) <1()O j)

1 1 j) С:1, I 3 г 3 () О С > с Т р О! 1 с Т В О 0 T. 11! i а (. <. 5! 1 С ) I . I TO Ol lO Cl13 0iI(< БЯ и< >< М и ы;<1 li plICOCO X!, < II. 1ПС 1 О I оj)ОI О ООССПС I I I БЯС(ВЫ II p51 )1.1< (ill ñ I I:> (< лия и il 10ï ос прилсган)!е сг0 к Ilëicic..-)тO устря:!лет дсц>ормяиии неча: IIIITIli, fl.) 1(л>!! и р и коI Il Il p f1 coc ii j)c:(ст а в(l ÿCT СОООII ВЫ ПО, 1IIГ !I II Ыс В ПЛIIТ(. I(СрП(>II (II к> г!51 j)—

IIo к с<. 11,10сi(ocTII 1(Яи явки, сооб(няк>и(и<>(5! вакуучныч иясосоч,;l по периметру плиты (тяновлси уц loTiiiiòñль, например j>CH!IifoBI>lи.

Кроме того, и IIITH установлена IIH ор(!зо)1тальной осii с воз,ioжность!о поворот;l оп!ос:Iтелы!о исс.

I I 3 i C il(< C C ) I 3 T I I I C C I(1 1 I I 3 0 б 1) ii ii(C I 0 I i p (. . !,131 ЯС СТ j)ОI! СТВО.

Оiiо с oдcрж!! (и, <.< I < J 1!3 . рi13(1 Я C на II H в к3 М I! I! МПЛOTII IITC, !е. <1, с)1 ОПТII роIJ 3 II II < 10 На "TOIII(HX 2, В ЯК > <>. >! 51 > IG < (ТЯП О В К) (.151 0ÒÊß l I I Â3 I I I! Л BО:).I ) <:Я TO Xf - М C l l, 11! T C, i C; i; 110 l(ci:)в(133 ЮII(l I )1 и j) ff Оороз! (>.

I I3 плиту 1 устанавливают подлсжа(нуiî контролю панель, при этом образуется замкнутый обьс:<1, ограниченный базовой плитой устройства, рез((иовым уплотнителем и панелью. (1ри отк: и ванин Бозд< .я панель плотно Ilj)!1тлгивастся ii п,HIITc. >то (103BOляст коитро,(и )03 < ТЬ TO,(И(II li) П 0 ПОТ)(3 IIH (> 1(ТИВНЬ(>>! ДЯТЧИКс . 1, ВI, IIO 13 СМ!>1М В !<(OC 1 ОБ < 10 СКСМУ.

Б 3 3 Bl!0 I I. <(O<. Ò i 1 01 И 3 ) l CI I CI I I 1 51 ТО Lti l I I l I>l I(OH 1 Р0,1ПР> смОЙ и lис,lи из)! Il>lclс)1 llil (h 1:.тнвнос II як!!Ihiloc co!Ipol Блсllflc )!с)к:(у стяльныч сср(С>< .

I I! 1 3,1 С Н О К а 3 I >I В ii 10 I i IC О П P I I 00 P cl, I I Я Н Р И )1 С Р

10 чикроям(иср)!с) ры . >(-2>4, от) арироваиного B :(i!! IIII cIX тОЛН lllll>I.

1.,> СГроиство длл контроля толщииь! IIB.(c15 лий, например, крупиогHOHptlтнык панелей, содсрж!!и(се пл>lòó llç <13! Пипного материала для крсплен!(л 113(cë«é, иидуктlIBiil>ill;(3Tчик и nol(331>IBHIoLIIIIII ир >бор> ит.ili 2<2>о(цвести тем, что, с

llcлью устрансни5! дс(1>ор:>!Янин лсгкодсформи20 руемык нсмагнитнык изделий при контроле, OIIO CIl3OiI(CIIO ВЯ!" ) . <(III>l. <1 ИPIICOCО)1, l Сн, 111( которого обсспе и!Бает выпрлмлсние изделия и и,к)т !ое прил I Híliñ его к!1 lllTc.

< СTj)ollcTBC) ПО Il 1> 0Т.222<((220(Ц((( В IIËИТС ПСРПСНД11КМЛЛPI!0 К СС ИГ10скости канавки, c000LL(HIOLL(IIcc51 с ваку) мным насосом, а но периметру плиты установлен уllлоп!Птель. Пяиримср рез!и!ОвЫ.

30 3. У< гройствo по и, 1, 0>.222<(«)оп((ГLл тем, ITо

Il i iIT3 > с ГЯ иовлси 3 нЯ 1 ОГ>изои таль)IОЙ ocll (ВОЗ .<1 оii(IIО(ТЬ(0 НОВО РО ГЯ От 1(ОСИTС,11>110 ИСС.

Р,,пк гор Е. Поздпвк (и/стииитсли КеllHl

Тскр < Л. A. Камыгопикова

Е//р! nк «/ры: А. Николаева!! Л. Абрамова 1и««< i 9 f, i иf;;!,и !N(! !! олписи/и

11111111П11 Комит ги nn "„,!;!;! !!!n /рлс!!n«и огкрытии ири (и .и и Л!иенс ров (;(;(1 ,т!иски;l. 1!си г!к ир. (рои;к,!. l 1 ипогрифии, пр (:ип« оии, 2

Устройство для контроля толщины изделий Устройство для контроля толщины изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к ремонтному оборудованию и предназначено для ремонта длинномерного оборудования

Изобретение относится к машиностроению , а именно к цеховому оборудованию

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Наверх