Устройство для поворота дифракционных решеток

 

./3 / у ртт

T патеи,, „,-. .: Окйф ><6лнотекц у, -д

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства х!7

Заявлено 1З.II.1968 (№ 12! 7933/26-25) Кг(, 421;, 20/01 с присоединением заявки М

:! П 1i Ст 0 j j

i ДК 535.421:62-86(088.8) Приоритет

Опубликовано 10.III.1969. Бюллетень ¹ 10

Дата опубликования описания ЗОХ11.1969

Комитет по делам изобретений и открытий при Сосете Министрое

СССР

Автор изобретения

Е. Г. Барская

Зая!витель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОВОРОТА ДИФРАКЦИОННЫХ РЕШЕТОК

Данное устройство может быть применено r3 инфракрасных спсктромеUp»Y с дифракционными решетками.

Волновое число свега, выделяемого на выходной щели спектрометра, должно быть пропорционально показанию отсчетного устройства или перемещению регистрирующего приспособления. С использованием в спектромстр»х,дифракгционных решеток возникла возможность обеспечить 3То за счет закона дви- 10 жения сканирующего усгройства.

Известно устройство для поворота дифракционных решеток, содержащее, поворотный сто.7ик с закрепленными íà нем дифракционными решетками, косекансный механизм в виде 15 изо!гнутого рычага с oflopHoH поверхностью, касательной к окружности, центр которой лежит на оси поворота рычага. При движении толкателя по прямой, проходящей через ось поворота рычага, рычаг поворачивается по косекан- 20 сному закону вместе с дифракционной решсткой. В рсзульт»тс собсиодастся раpcícòâo:

=к с, гд(. т — ВО:!НОВОС чиСло СВСГ»; 25

К вЂ” «масштаб» спекгр1;

С вЂ” — смещение толкателя.

Предложенное устройство отличается от изьестного тем, что косскансный механизм содержит прямой рычаг с радиально направленной 30 опорой поверхностью, плоскость которой проодит через ось его поворота, а поверхность толк»те7я В мсстс СГО 1 »сания с ры !»Гол! Выполнена в,виде повеpYHocTI(вращения. Толкатель выполнен в виде !поверхности вращения

I1cpc. 1cHHbl l ради c01(1.1зививны. ПОВсрхность вращения состоит из ряд» цилиндрических участков.

Это отличие позволясг упростить мсханизх! сканиров»ния спектра, расширить и!апазон измерений, измснить масшт»б спектр» или сохранить этот м»сш-,»б постоянным при смене дифракционной решетки или порядка спектра.

В прсдложсннох! устройстве масштаб спектра определяется не формой рычага, а радиусом тела Вращения в гочкс касания его с рычагом. Следов»тельно, достаточно тело Вращения выполнить с .переменным радиусом (и»пример, вдоль оси) и снабдить устройством, П О 3 В 0,7 и! 0 I Ц И М В В О Д 1! Т Ь B С О П P 11 1 . О С Н О 3 С Н И С С P >!.агом ту или иную ci o часть, чтобы получить возможность легко изменять радиуc и, следоВатс 1bHD. поддс17жиВ»ть нсизмснньlм и, Ill мс-! «Tb ll0 своему усмотрс .!ию масшт»б спектр».

1 111 чсpтсжc 11pc . Ic Гав 7cна 1 ин cх(<1ТI I Oc! »я схем» предложенного уcTpoilcòÿà.

11» оси 1 поворотного столика —. H» когором »:крсплены дифракциснныс решетки >, посажен рычаг 4, соединяемый со столиком фикс»-! яром я. Опорная поверхность рычага лежит

В его радиальной плоскости и !взаимодейстьует с поверхностью вращения толкатсля .

238822

Предмет изобретения

Составите))ь И, Небосклонова

Редактор Б. Б. Федотов Техред Л. Я. Левина 1(орректор Н. И. Шачошиикова

Закво 1674)9 Тираж 480 Подписное

ЦН1Н !ПИ омнтета по делам изобретений н открытий при Совете Ми!)ветров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2

11аправляющпс 7 псзво;!яют толкатслю пере,з)с!цаться в плоскости, .проходящей чсрсз Ccb рыча!га. Фиксатор 8 обеспечивает соприкосноггние тела вращения с рычагом в ссчсппи с нужным радиусом. ,Чсхянпзз! !с))ствуcT слс IK !!)!Ij!1)! 0()1);!:!0)!.

Прп двпжсппп ползу!!!! в напр!)вляющпх 7 попсрхнсcть вращсни>! толкатсля, воздействуя

;а опорную линейку рычага, вызывает поворст последнего,;; вместе с ни)! и решетк !, по косекансному закону. В результате па щели спсктромстра может быть получен свет с волновым числом, пропорциональным персмсщеншо то 1KB.rc,Iÿ и связанного с ним QTcчетного или регистрирующего устройства (на черте)ке не показано).

Для смены,диф ракционной решетки или порядка ес спектра или для изоменения масштаба спекrpa фиксатор 8 перестраивают на другой уровень, а рычаг ) соединяют фиксатором 5 с соответствугощей решеткой.

I. Устройство для поворота дифра)ецион!!ых рсшеток, содержащее по воротный столик,с закрепленнымп на нем дпфракционными,решетками, косекансный механизм в виде рычага, и!меющего о!порную поверхность, касательную и окружности, центр которой лежит на оси пои с р с Г а) р ы а г а, и T o 1 K ) T Î I ü, !) тг г! а)0 гг(сс ся тем, !To, с целью упрощснпя мсханизма сканиI><)!Iания спектра и расширения диапазона из. срсний, косекансный механизм содержит прямой рычаг с радиально направленной опорной

10 поверхнсстью, плоскость которой проходит че)сз ось сго поворота, а поверхность толкателя в месте его касания с ры !агом выполнена,в ви:н повер хности вращения.

2, Устройство !по п, 1, оглича!ои4ееся тем, 15 что, с целью измененгия .масштаба спектра или сохранения этого масштаба постоянным при смене дифракционной решетки или порядка спектра, толкатель вьгполнен,в виде поверхноc1H:вращения с переменным радиусом кри20;:изны.

3. Устройство по I!I!I. 1 и 2, от,гичаюи1ееся тем, что, с целью изменения масштаба записи спектра в строго определенном соотношении, толкатель выполнен в виде поверхности .враще25 ния, состоящей из ряда цилиндрических участков.

Устройство для поворота дифракционных решеток Устройство для поворота дифракционных решеток 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области физической органической химии, к разделу спектрофотометрии растворов, находящихся при повышенном давлении, и используется для научных исследований

Изобретение относится к измерительному устройству (14), содержащему датчик (16) для определения, по меньшей мере, одного компонента и/или, по меньшей мере, одного из свойств материала (4), причем датчик (16) содержит, по меньшей мере, один источник (18) освещения, который направляет, по меньшей мере, один световой луч (20) на подлежащий исследованию материал (4), а измерительное устройство (14) содержит, по меньшей мере, один эталонный объект (34, 32, 33) для калибровки измерительного устройства (14), при этом часть светового луча (20) источника (18) освещения отклоняется на эталонный объект (34, 32, 33) так, что устраняется необходимость в попеременном переходе с исследуемого материала на эталонный объект

 // 257795

 // 265489

 // 278797
Наверх