Способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета и устройство для его осуществления

Изобретение относится к области динамического масс-анализа заряженных частиц в переменных ВЧ полях. Способ масс-селективного разделения ионов основан на использовании анализатора, состоящего из двух плоских параллельных электродов с линейно-дискретными и противофазными по оси Y распределениями ВЧ потенциала и плоского заземленного электрода, ограничивающего электроды значениями у≥0. Дискретные электроды выполнены в виде емкостных или индуктивных линейных делителей ВЧ напряжения. К электродам приложены два противофазных ВЧ напряжения с постоянной амплитудой Um и частотой ω, под воздействием которых в анализаторе создается линейное по осям X и Y переменное электрическое поле. В анализатор через щель в плоском заземленном электроде вводятся ионы с начальными координатами хн>0, ун=0 и начальными скоростями vy, обратно пропорциональными массам m анализируемых ионов. При этом ионы по осям X и Y совершают близкие к гармоническим колебания с одинаковой амплитудой уm и периодом Т, пропорциональным массе m. За время анализа координата х ионов изменяется на противоположную x(tA)=-xн, а координата у становится равной нулю у(tA)=0. Отсортированные ионы последовательно во времени в соответствии с массой m выводятся из анализатора и поступают на систему регистрации. Технический результат: улучшение аналитических характеристик масс-спектрометров гиперболоидного и пролетного типа. 2 н.п. ф-лы, 2 ил.

 

Изобретение относится к области динамического масс-анализа заряженных частиц в переменных ВЧ полях и может быть использовано для улучшения аналитических, эксплуатационных и потребительских свойств масс-спектрометров гиперболоидного и времяпролетного типов. В известных гиперболоидных масс-спектрометрах развертка масс осуществляется последовательно, при этом скорость анализа оказывается невысокой, а для осуществления развертки масс требуется изменять во времени амплитуду или частоту питающего ВЧ напряжения. Обладающие высокой скоростью анализа времяпролетные масс-спектрометры со статическими электрическими полями чувствительны к разбросу начальных энергий и углов влета анализируемых ионов. За прототипы приняты динамические масс-анализаторы с квадратичным распределением ВЧ потенциала по двум координатам [1] и масс-анализаторы времяпролетного типа со статическими полями [2]. Техническая задача предлагаемого изобретения состоит в усовершенствовании способов масс-анализа заряженных частиц и конструкции анализаторов, использующих масс-селективную сортировку ионов в двумерных линейных ВЧ полях.

Предлагаемый способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета основан на формировании на граничных поверхностях х=x0 и х=-x0 масс-анализатора двух противофазных дискретно-линейных с шагом Δϕ по координате у распределений ВЧ потенциала

где n=0, 1, 2,...N - номер дискретных элементов поверхностей, N=Ly/d - число дискретных элементов поверхностей, yn=n·d - координата n-го элемента, d - расстояние между соседними элементами. При условии, что размеры анализатора Ly и Lz по осям Y и Z достаточно велики Ly>>x0, Lz>4x0 распределение потенциала в области сортировки ионов с высокой точностью будет описываться выражением

Распределению потенциала (2) соответствуют линейные по координатам x и у распределения напряженности электрического поля

При малых значениях параметра , где е и m - заряд и масса иона, движение заряженных частиц с начальными координатами 0<хн0, yн=0 и начальными скоростями по осям X и Y будет описываться функциями, близкими к гармоническим

Функции, описываемые выражениями (4), имеют период

За параметр времяпролетной масс-сортировки ионов принимается время tА=Т/2, за которое ионы по оси Y совершают возвратные колебания от начальной координаты ун=0 до конечной координаты у(Т/2)=0, а по оси Х их координата изменяет знак на противоположный х(Т/2)=-xн. При этом время анализа оказывается пропорциональным массе ионов

В качестве устройства для масс-селективного анализа ионов по времени пролета предлагается использовать электродную систему, состоящую из двух дискретных по оси Y электродов 1 и 2 с рабочими поверхностями х=x0 и х=-x0 и размерами Ly>>x0 и Lz>4x0 по осям Y и Z, и одного сплошного электрода 3 с размерами Lx>2х0 и Lz и рабочей поверхностью в плоскости у=0 (Фиг.1). Дискретные электроды 1 и 2 выполняются или в виде двух наборов из N=Ly/d плоских, шириной l>>d и длиной Lz, равномерно распределенных по оси Y с шагом d параллельных пластин, образующих два линейных емкостных делителя ВЧ напряжения, или в виде плоских частей однослойных с равномерным шагом d намоток двух катушек индуктивности из N витков каждая, образующих два линейных индуктивных делителя ВЧ напряжения. К электродам 1 и 2 приложены два противофазных гармонических напряжения с постоянными амплитудой Um и частотой ω

Делители ВЧ напряжения создают на рабочих поверхностях х=x0 и х=-x0 электродов 1 и 2 дискретно-линейные по оси Y распределения ВЧ потенциала. Заземленный электрод 3 с нулевым потенциалом ϕ3=0 ограничивает пространство сортировки по оси Y областью значений у≥0. В электроде 3 имеется щель шириной Δх<<x0, длиной Δz<х0/2 с координатами центра х0/2<xщ<x0, zщ=0, через которую осуществляется ввод ионов в область сортировки масс-анализатора. Вывод отсортированных ионов из масс-анализатора происходит через отверстие в электроде 3 диаметром D<x0/2 с координатами центра xотв=-xщ, zотв=0.

Цикл масс-анализа начинается с образования за пределами области сортировки ионов с начальными координатами x0/2<хн<x0, ун=0, начальными скоростями по оси Y, обратно пропорциональными массам анализируемых ионов vy≈eΔϕLy/(2ωx0m), а по осям Х и Z с малыми скоростями vx, vz<<vy. Затем ионы в течение короткого промежутка времени tв<<tA вводятся через щель в электроде 3 в область сортировки масс-анализатора. В течение времени анализа tA, пропорционального массе m анализируемых ионов, заряженные частицы совершают в двумерном линейном ВЧ поле возвратные с одинаковыми амплитудами уm<Ly колебания по координате у и далее последовательно во времени в соответствии с массой m ионы через отверстие в электроде 3 выводятся из масс-анализатора и поступают на систему регистрации.

Предлагаемый способ масс-селективной сортировки ионов в двумерном линейном ВЧ поле по времени пролета и устройство для его осуществления обладают свойством временной фокусировки ионов с различными начальными координатами по осям X и Z, энергиями, углами и фазами влета, что улучшает аналитические характеристики масс-спектрометров пролетного типа. Технологичная конструкция электродной системы предлагаемого времяпролетного масс-анализатора и простой способ ВЧ питания улучшают эксплутационные и потребительские параметры приборов такого типа.

Фиг.1. Электродная система времяпролетного масс-анализатора

а) с линейными емкостными ВЧ делителями, б) с линейными индуктивными делителями ВЧ напряжения.

Фиг.2. Способ ВЧ питания и траектории ионов во времяпролетном масс-анализаторе с дискретными электродами

Литература

1. Р.Н.Dawson «Quadrupole Mass Spectrometry and Its Applications», Elsevier, Amsterdam, 1976.

2. Н.Д.Семкин, И.В.Пиянов, К.Е.Воронов, Р.А.Похмельников. Перспективы развития времяпролетных масс-спектрометров для анализа газовых и пылевых частиц. Прикладная физика, 2002, №2, с.124-141.

1. Способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном ВЧ поле, отличающийся тем, что на граничных поверхностях х=х0 и х=-х0 масс-анализатора с размерами Ly>>x0 и Lz>4x0 по осям Y и Z под действием двух противофазных напряжений с постоянными амплитудой Um и частотой ω создаются два противофазных дискретно-линейных по оси Y распределения ВЧ потенциала и на ионы, образованные с начальными координатами х0/2<хн0, ун=0, |zн|<x0/2 и начальными скоростями vy по оси Y, обратно пропорциональными массам m анализируемых ионов, воздействуют линейным по осям X и Y ВЧ полем, при этом ионы за время tA, пропорциональное массе m, совершают по осям X и Y близкие к гармоническим колебания с конечными координатами x(tA)=-xн, у(tA)=ун=0.

2. Устройство для масс-селективного анализа ионов по времени пролета, содержащее электродную систему для создания в рабочей области масс-анализатора двумерного линейного поля, отличающееся тем, что в качестве электродной системы масс-анализатора используют два ограниченных плоскостью у=0 дискретных по оси Y с шагом d электрода 1 и 2 с размерами Ly и Lz по осям Y и Z, расположенных в плоскостях х=x0 и х=-х0, выполненных или в виде наборов равномерно распределенных с шагом d плоских металлических пластин или в виде плоских частей равномерных с шагом d однослойных намоток катушек индуктивности, и заземленный электрод 3 с рабочей поверхностью в плоскости у=0, причем в электроде 3 имеется щель для ввода ионов шириной Δх<<х0, длиной Δz<x0/2 с координатами центра хщ0, zщ=0 и отверстие для вывода ионов с координатами центра хотв=-хщ, zотв=0.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к приборостроению, средствам автоматизации и системам управления, а именно к области космических исследований. .

Изобретение относится к области спектрометрии заряженных частиц и может быть использовано для измерения зарядового и массового состава плазмы. .

Изобретение относится к области масс-спектрометрии и найдет применение при решении задач органической биоорганической химии, иммунологии и медицины, биотехнологии и экологии, при определении состава и свойств веществ в промышленности и в научных исследованиях.

Изобретение относится к аналитическому приборостроению, в частности к аналитическим системам, в которых определение состава и свойств веществ осуществляется по энергетическим спектрам заряженных частиц, извлекаемых из этих веществ, и может быть использовано для определения состава и свойств материалов в различных областях промышленности и в научных исследованиях.

Изобретение относится к области спектрометрии заряженных частиц и может быть использовано для измерения зарядового и массового состава путем ускорения ионов, которое происходит в ускоряющем промежутке, формирующимся в вакуумной камере между входным торцом трубы дрейфа и плазмой при подаче на трубу дрейфа импульса напряжения отрицательной полярности и длительностью меньшей времени пролета в трубе дрейфа ускоренных ионов анализируемой плазмы с наибольшим соотношением Z/Mi, где Z - зарядность ионов в плазме, Mi - масса ионов.

Изобретение относится к приборостроению, средствам автоматизации и системам управления, а именно к области космических исследований. .

Изобретение относится к приборостроению средств автоматизации и систем управления, в частности к масс-спектрометрии. .

Изобретение относится к приборостроению, системам автоматизации и системам управления, а именно к области космических исследований. .

Изобретение относится к приборостроению, средствам автоматизации и системам управления, а именно к области космических исследований. .

Изобретение относится к области спектрометрии и используется для обнаружения атомов и молекул в пробе газа. .

Изобретение относится к области газового анализа и может использоваться для определения микропримесей различных веществ в газах или применяться в газовой хроматографии в качестве чувствительного детектора

Изобретение относится к области газового анализа, в частности паров взрывчатых, наркотических и отравляющих веществ

Изобретение относится к масс-спектрометрии и может быть использовано при определении массы макромолекул

Изобретение относится к области аналитического приборостроения, а именно к устройствам предварительного концептрирования анализируемой пробы, объединенным с аналитическим прибором, и может быть использовано для создания быстродействующих анализаторов ядовитых или взрывчатых веществ в воздухе

Изобретение относится к способам разделения ионов, а именно к спектрометрам, работающим по принципу измерения времени пролета ионов, в частности к определению состава жидких и газовых проб, и может применяться в медицине, фармацевтике, криминалистике

Изобретение относится к конструкции спектрометров ионной подвижности, которые находят широкое применение для контроля содержания различных веществ в воздухе и, в частности, для обнаружения малых концентраций взрывчатых и наркотических веществ

Изобретение относится к области газового анализа и предназначено для обнаружения и идентификации следовых концентраций микропримесей различных веществ в атмосферном воздухе

Изобретение относится к устройству транспортировки заряженных частиц
Изобретение относится к области аналитического приборостроения для исследования и анализа веществ и преимущественно может быть использовано в целях испытаний, например, при проверке работоспособности приборов спектрометрии подвижности ионов, которые предназначены для обнаружения и идентификации паров следовых количеств органических веществ, прежде всего, наркотических, взрывчатых, психотропных, отравляющих или экологически опасных веществ
Наверх