Способ измерения азимута плоскости поляризации оптического излучателя

Изобретение относится к области технической физики и может быть использовано для измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения. Способ заключается в делении анализируемого оптического излучения на два идентичных потока и смешивании каждого из них с линейно поляризованными опорными излучениями, имеющими угол 45° между ориентациями плоскостей поляризации. Сравнение одного из углов поляризационного рассогласования между плоскостями поляризации анализируемого излучения и опорными излучениями, полученных через отношение переменных составляющих суммарных фототоков к их максимальным значениям, с углом между плоскостями поляризации опорных излучений определяет взаимную ориентацию плоскостей поляризации опорного и анализируемого излучений и азимут плоскости поляризации анализируемого излучения. Техническим результатом является сокращение времени и повышение точности измерения. 2 ил.

 

Изобретение относится к лазерным измерениям и может быть использовано при проектировании систем определения поляризации оптического излучения.

Известен способ измерения угла поляризации оптического излучения (см., например, В.П.Дунец, А.Ю.Козирацкий, Ю.Л.Козирацкий, П.Е.Кулешов. Патент RU №2284017 С2, G01J 3/04, 2006), основанный на приеме оптического излучения, смешивании анализируемого оптического излучения с линейно поляризованным опорным излучением, при этом анализируемое и опорное излучение согласованы по фазе, детектировании суммарного и опорного излучений, выделении переменной и постоянной составляющих суммарного фототока, вычислении максимального значения переменной составляющей фототока по формуле , где iГ - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля опорного оптического излучения,iс - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля анализируемого оптического излучения, определении угла поляризационного рассогласования анализируемого и опорного оптических излучений как отношение переменной составляющей суммарного фототока к его максимальному значению, определении по изменению величины значения выделенной переменной составляющей взаимного расположения векторов поляризации анализируемого и опорного оптических излучений, определении угла поляризации анализируемого оптического излучения как суммы значений угла поляризации опорного излучения и угла поляризационного рассогласования.

Недостатком способа является необходимость вращения плоскости поляризации опорного излучения для определения взаимной ориентации векторов поляризации опорного и анализируемого излучений, приводящего к увеличению времени измерения угла поляризации, а также к возможным ошибочным результатам измерения в случае соизмеримых скоростях вращения плоскостей поляризации линейно поляризованных анализируемого и опорного излучений.

Техническим результатом, на достижение которого направленно предлагаемое изобретение, являются сокращение времени и повышения точности измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения.

Технический результат достигается тем, что в известном способе измерения угла поляризации оптического излучения, заключающемся в приеме оптического излучения, смешивании анализируемого оптического излучения с линейно поляризованным опорным излучением, при этом анализируемое и опорное излучение согласованы по фазе, детектировании суммарного и опорного излучений, выделении переменной и постоянной составляющих суммарного фототока, вычислении максимального значения переменной составляющей фототока по формуле , где iГ - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля опорного оптического излучения, iс - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля анализируемого оптического излучения, определении угла поляризационного рассогласования анализируемого и опорного оптических излучений как отношение переменной составляющей суммарного фототока к его максимальному значению, определении по изменению величины значения выделенной переменной составляющей взаимного расположения векторов поляризации анализируемого и опорного оптических излучений, принятое оптическое излучение делят на первый и второй потоки, второй поток смешивают со вторым линейно поляризованным опорным излучением, плоскость поляризации которого повернута на угол αпов=45° относительно плоскости поляризации опорного излучения, при этом вторые анализируемый поток и опорное излучение согласованы по фазе, детектируют вторые суммарное и опорное излучения, выделяют переменную и постоянную составляющие второго суммарного фототока, вычисляют максимальное значение переменной составляющей второго суммарного фототока по формуле , где iГ2 - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля второго опорного оптического излучения; iс2 - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля второго анализируемого оптического потока излучения, определяют второй угол поляризационного рассогласования второго анализируемого потока и второго опорного оптического излучения как отношение переменной составляющей второго суммарного фототока к ее максимальному значению, сравнением значения второго угла поляризационного рассогласования со значением угла поворота плоскости поляризации второго опорного излучения определяют взаимное расположение плоскостей поляризации анализируемого и первого опорного оптических излучений, а азимут плоскости поляризации анализируемого оптического излучения определяют как сумму значений азимута плоскости поляризации первого опорного излучения и первого угла поляризационного рассогласования.

При смешивании волн анализируемого и опорного излучений, если они однородны и согласованы по фазе, то амплитуда сигнала, образованная в результате биений полей, будет определяться степенью поляризационного согласования указанных волн (см., например В.В. Протопопов, Н.Д. Устинов Лазерное гетеродирование - М.: Наука, 1985, стр.5). Взаимодействием суммарного поля с материалом чувствительной площадки фотодетектора является выходной ток, который определяется выражением

где - единичные вектора поляризации анализируемого и опорного оптических излучений;

iГ - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля

опорного оптического излучения;

ic - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля анализируемого оптического излучения;

Δϕ - разность фаз исследуемого и опорного оптических полей (по условию соответствует максимальному значению фототока);

αП(t)- угол между векторами поляризации исследуемого и опорного оптических линейно-поляризованных излучений;

Ω - разностная частота анализируемого и опорного оптических полей.

Два первых слагаемых (1) представляют собой не зависящие от времени постоянные составляющие фототока, вызванные полями анализируемого и опорного излучений.

Третье слагаемое (1) описывает результат интерференции полей, то есть определяет переменную составляющую фототока, изменяющуюся частотой Ω и зависящую от поляризационной согласованности смешиваемых полей.

Постоянная составляющая дает дельтообразную спектральную составляющую на нулевой частоте, а переменная составляющая две дельтообразные симметричные составляющие на частотах ± Ω, расположенных симметрично относительно нулевой частоты. Переменная и постоянная составляющие могут быть легко отделены спектральной фильтрацией.

Из выражения (1) видно, что степень поляризационной согласованности смешиваемых линейно-поляризованных излучений может быть определена полезной переменной составляющей фототока, содержащей множитель cosαП(t).

Сущность изобретения заключается в делении анализируемого оптического излучения на два идентичных по поляризации потока и смешивании каждого из них с линейно поляризованными опорными оптическими излучениями, имеющими угол 45° между ориентациями плоскостей поляризации. Сравнение одного из углов поляризационного рассогласования между плоскостями поляризации анализируемого излучения и опорными излучениями (полученных через отношение переменных составляющих суммарных фототоков к их максимальным значениям) с углом между плоскостями поляризации опорных излучений определяет взаимную ориентацию плоскостей поляризации опорного и анализируемого излучений и, в конечном счете, азимут плоскости поляризации анализируемого излучения. Тем самым исключает необходимость вращения плоскости поляризации опорного излучения.

На фиг.1 изображено взаимное расположение векторов поляризации двух линейно поляризованных опорных излучений и разделенного на два потока анализируемого излучения, смешиваемых на площадках двух фотодетекторов. При этом плоскость поляризации второго опорного излучения повернута на угол αпов=-45° (или αпов=+45°) относительно плоскости поляризации первого опорного излучения. Плоскость поляризации первого опорного излучения имеет азимут αГ1=90°. Угол поляризационного рассогласования между анализируемым излучением и первым опорным излучением составляет αП1. Угол поляризационного рассогласования между анализируемым излучением и вторым опорным излучением составляет αП2.

Тогда выходные токи на выходах первого и второго фотодетекторов определяются выражениями

где нижние индексы 1,2 указывает на принадлежность членов выражений фототоков первому и второму фотодетекторам.

Определения значения углов cosαП1(t) и cosαП2(t) поляризационного рассогласования между разделенными потоками анализируемого излучения и опорными излучениями достигается через отношения выделенных переменных составляющих фототоков и сформированных их максимальных значений (см., например, В.П.Дунец, А.Ю.Козирацкий, Ю.Л.Козирацкий, П.Е.Кулешов. Патент на изобретение RU №2284017 С2, G01J 3/04, 2006).

Взаимная ориентация (справа или слева по вращению часовой стрелки) плоскостей поляризации анализируемого излучения и первого имеющего известный азимут плоскости поляризации опорного излучения определяется путем сравнения угла поляризационного рассогласования между плоскостями поляризации анализируемого и второго опорного излучений с углом между плоскостями поляризации опорных излучений, составляющим 45°. Так, для случая представленного на фиг.αпов=-45° (или αпов=+45°) значение угла поляризационного рассогласования между плоскостями поляризации анализируемого и второго опорного излучения удовлетворяет неравенствам: αГ2≥45° (или αГ2<45°) если плоскость поляризации анализируемого излучения расположена справа относительно плоскости поляризации первого опорного излучения и αГ2<45° (или αГ2≥45°) - если плоскость поляризации анализируемого излучения расположена слева относительно плоскости поляризации первого опорного.

Предложенный способ позволяет полностью устранить необходимость вращения плоскости поляризации опорного излучения, что приводит к сокращению времени измерения и повышению точности измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения.

На фиг.2 представлена блок - схема устройства, с помощью которого может быть реализован предлагаемый способ.

Блок - схема устройства содержит полупрозрачные зеркала 22, отражающее зеркало 21, оптические элементы фокусировки и коллимации 23, гетеродин 19, первый 2 и второй 1 фотоприемники анализируемого оптического излучения, первый 4 и второй 3 фотоприемники известных опорных оптических излучений, первый 6 и второй 5 фильтры, первый 8 и второй 7 блоки вычитания, первый 14 и второй 13 перемножители, первый 16 и второй 15 блоки извлечения удвоенного корня, первый 10 и второй 9 амплитудные детекторы, первый 12 и второй 11 блоки отношения переменных составляющих, блок сравнения углов αпов и αГ2 17, блок определения азимута плоскости поляризации αс 18, поляризатор 20.

Анализируемое оптическое излучение с помощью полупрозрачных зеркал 22, отражающего зеркала 21 и оптических элементов фокусировки и коллимации 23 делится на первый и второй потоки и фокусируются на фотоприемники 1, 2. Опорное оптическое излучение от гетеродина 19 с помощью полупрозрачных зеркал 22 делится на четыре потока, при этом интенсивность первого равна интенсивности второго потоков, интенсивность третьего равна интенсивности четвертого потоков. В дальнейшем первый поток опорного излучения будем называть первым опорным излучением, четвертый поток опорного излучения будем называть вторым опорным излучением. Первый поток анализируемого излучения смешивается на фоточувствительной площадке фотоприемника 2 с первым линейно поляризованным опорным оптическим излучением, ориентация плоскости поляризации которого известна. Второй поток анализируемого излучения смешивается на фоточувствительной площадке фотоприемника 1 со вторым линейно поляризованным опорным оптическим излучением, плоскость поляризации которого повернута поляризатором 20 на угол 45°. Первый и второй суммарные сигналы, регистрируются фотоприемниками 2 и 1 соответственно, с выходов которых снимаются полные фототоки, содержащие переменные и постоянные составляющие и поступают на входы фильтров 6 и 7 соответственно. Фильтры 6 и 5 разделяют первый и второй полные токи на сумму постоянных (iГ1+iс1), (iГ2+ic2) и переменных , составляющих соответственно и поступают на входы блоков вычитания 8 и 7 амплитудных детекторов 10 и 9 соответственно. Блоки вычитания 7 и 8 производят вычисление постоянных составляющих фототоков анализируемого потоков (ic1=(iГ1+ic1)-iГ1), (ic2=(iГ2+iс2)-iГ2) и поступают на входы блоков перемножения 14 и 13 соответственно. В блоках перемножения 14 и 13 и блоках извлечения удвоенного корня 16 и 15 осуществляется формирование максимальных значений переменных составляющих первого и второго суммарных фототоков соответственно и поступают на входы блоков отношения переменных составляющих 12 и 11 на другие входы, которых с выходов амплитудных детекторов 10 и 11 поступают значения реальных переменных составляющих соответственно. В блоках отношения переменных составляющих 12 и 11 производится определения значений углов поляризационного рассогласования между анализируемым и опорными и излучениями соответственно αП1 и αП2. Значение угла поляризационного рассогласования между плоскостями поляризации анализируемого излучения и второго опорного излучения поступает на первый вход блока сравнения углов αпов и αГ2 17, на второй вход которого поступает значение угла αпов=45°. По результатам сравнения определяется взаимное расположение плоскостей поляризации первого опорного и анализируемого излучений. Результат сравнения поступает первый вход блока определения азимута плоскости поляризации αс, на второй вход которого поступает азимут плоскости поляризации первого опорного излучения, на третий вход которого поступает значение угла поляризационного рассогласования между плоскостями поляризации первого опорного и анализируемого излучений. В блоке определения азимута плоскости поляризации αс производится вычисления азимута плоскости поляризации анализируемого излучения.

Предлагаемое техническое решение является новым, поскольку из общедоступных сведений неизвестен способ измерения угла поляризации оптического источника излучения, основанный делении анализируемого оптического излучения на первый и второй потоки, смешивании второго потока со вторым линейно поляризованным опорным излучением, плоскость поляризации которого повернута на угол αпов=45° относительно плоскости поляризации опорного излучения, при этом вторые анализируемый поток и опорное излучение согласованы по фазе, детектировании вторых суммарного и опорного излучений, выделении переменной и постоянной составляющих второго суммарного фототока, вычислении максимального значения переменной составляющей второго суммарного фототока по формуле, , где iГ2 - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля второго опорного оптического излучения; ic2 - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля второго анализируемого оптического потока излучения, определении второго угла поляризационного рассогласования второго анализируемого потока и второго опорного оптического излучения как отношение переменной составляющей второго суммарного фототока к ее максимальному значению, определении взаимного расположения плоскостей поляризации анализируемого и первого опорного оптических излучений сравнением значения второго угла поляризационного рассогласования со значением угла поворота плоскости поляризации второго опорного излучения, определении азимута плоскости поляризации анализируемого оптического излучения как суммы значений азимута плоскости поляризации первого опорного излучения и первого угла поляризационного рассогласования.

Предлагаемое техническое решение имеет изобретательский уровень, поскольку из опубликованных научных данных и известных технических решений явным образом не следует, что заявленная последовательность операций - деление анализируемого оптического излучения на первый и второй потоки, смешивание второго потока со вторым линейно поляризованным опорным излучением, плоскость поляризации которого повернута на угол αпов=45° относительно плоскости поляризации опорного излучения, при этом вторые анализируемый поток и опорное излучение согласованы по фазе, детектирование вторых суммарного и опорного излучений, выделение переменной и постоянной составляющих второго суммарного фототока, вычисление максимального значения переменной составляющей второго суммарного фототока по формуле, где iГ2 - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля второго опорного оптического излучения; iс2 - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля второго анализируемого оптического потока излучения, определение второго угла поляризационного рассогласования второго анализируемого потока и второго опорного оптического излучения как отношение переменной составляющей второго суммарного фототока к ее максимальному значению, определение взаимного расположения плоскостей поляризации анализируемого и первого опорного оптических излучений сравнением значения второго угла поляризационного рассогласования со значением угла поворота плоскости поляризации второго опорного излучения, определение азимута плоскости поляризации анализируемого оптического излучения как суммы значений азимута плоскости поляризации первого опорного излучения и первого угла поляризационного рассогласования.

Предлагаемое техническое решение практически применимо, так как для его реализации могут быть использованы типовые оптические и радиоэлектронные узлы и устройства.

Способ измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения, заключающийся в приеме оптического излучения, смешивании анализируемого оптического излучения с линейно поляризованным опорным излучением, при этом анализируемое и опорное излучения согласованы по фазе, детектировании суммарного и опорного излучений, выделении переменной и постоянной составляющих суммарного фототока, вычислении максимального значения переменной составляющей фототока по формуле , где iГ - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля опорного оптического излучения, iс - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля анализируемого оптического излучения, определении угла поляризационного рассогласования анализируемого и опорного оптических излучений как отношения переменной составляющей суммарного фототока к его максимальному значению, определении по изменению величины значения выделенной переменной составляющей взаимного расположения векторов поляризации анализируемого и опорного оптических излучений, отличающийся тем, что анализируемое оптическое излучение делят на первый и второй потоки, второй поток смешивают со вторым линейно поляризованным опорным излучением, плоскость поляризации которого повернута на угол αпов=45° относительно плоскости поляризации опорного излучения, при этом вторые анализируемый поток и опорное излучение согласованы по фазе, детектируют вторые суммарное и опорное излучения, выделяют переменную и постоянную составляющие второго суммарного фототока, вычисляют максимальное значение переменной составляющей второго суммарного фототока по формуле где iГ2 - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля второго опорного оптического излучения; ic2 - постоянная составляющая фототока, вызванная действием поля второго анализируемого потока излучения, определяют второй угол поляризационного рассогласования второго анализируемого потока и второго опорного оптического излучения как отношение переменной составляющей второго суммарного фототока к ее максимальному значению, сравнением значения второго угла поляризационного рассогласования со значением угла поворота плоскости поляризации второго опорного излучения определяют взаимное расположение плоскостей поляризации анализируемого и первого опорного оптических излучений, а азимут плоскости поляризации анализируемого оптического излучения определяют как сумму значений азимута плоскости поляризации первого опорного излучения и первого угла поляризационного рассогласования.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицине, в частности к медицинской диагностике, и может быть использовано для исследования покровных тканей, в том числе и для исследования слизистых и серозных оболочек внутренних органов.

Изобретение относится к области технической физики и касается способов измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения, вызываемых изменением поляризационных свойств поляризующих элементов либо воздействием на азимут поляризации оптически активным веществом.

Изобретение относится к оптическому приборостроению, конкретно к поляриметрическим устройствам для измерения оптической активности веществ, и может быть использовано для промышленного контроля и научных исследований в аналитической химии, биотехнологии и медицине.

Изобретение относится к методам измерения параметров электромагнитного излучения. .

Изобретение относится к оптикоэлектронному приборостроению и предназначено для измерения и исследования тонкопленочных структур и оптических констант поверхностей различных материалов путем анализа поляризации отраженного образцом светового пучка.

Изобретение относится к измерительной технике. .

Изобретение относится к фотоэлектрическим поляриметрам и может быть использовано для измерения концентраций оптически активных веществ в медицине, химии, биологии, пищевой промышленности.

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств поверхности и может быть использовано для измерения физических постоянных и параметров материалов.

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для исследования оптической активности жидких и твердых сред. .

Изобретение относится к горной автоматике и к полярископам и поляриметрам и может быть использовано для определения коэффициента линейной поляризации света при отражении от аморфных полупроводниковых покрытий для создания на этой основе светильников, которые могут быть использованы для наблюдения объектов в условиях пыли и тумана и для исследования и наблюдения деформируемости горных пород в массивах.

Изобретение относится к лазерным измерениям и может быть использовано в системах измерения поляризационных параметров оптического излучения

Изобретение относится к области физической оптики и может быть использовано в качестве средства исследования взаимодействия электромагнитного поля оптического диапазона волн с веществом, в частности, для исследования возбуждения вторичных электромагнитных волн в оптически прозрачных диэлектрических средах в процессе их нестационарного взаимодействия с электромагнитными волнами

Изобретение относится к лазерным измерениям и может быть использовано в системах, измерения поляризационных параметров оптического излучения

Изобретение относится к оптике и может быть использовано для определения систематических погрешностей измерений в поляриметрической и эллипсометрической аппаратуре

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для определения поляризационных характеристик лазерного излучения, в частности знака циркулярной поляризации лазерного излучения

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения поляризации света

Изобретение относится к области оптической локации объектов и касается измерений изменений параметров поляризации оптического излучения при прохождении оптически активного вещества. Сущность изобретения заключается в делении монохроматического линейно-поляризованного излучения на два равных потока, один из которых пропускают в прямом и обратном направлениях через измерительную кювету при наличии и отсутствии оптически активного вещества, гомодинном детектировании двух потоков и определении отклонения угла наклона плоскости поляризации оптически активным веществом по отношению амплитуд переменных составляющих фототоков в отсутствие и при наличии оптически активного вещества в измерительной кювете. Изобретение обеспечивает возможность определения влияния оптически активного вещества на поляризационные характеристики отраженного от объекта сигнала. 1 ил.

Изобретение относится к области оптических измерений. Измерение оптических характеристик заключается в том, что линейно поляризованный свет направляют на образец S через поляризатор. Затем свет достигает блока 131 подвижных зеркал и блока 132 неподвижных зеркал фазовращателя 13 через первую поляризационную пластину 9 и вторую поляризационную пластину 11. Лучи, отразившиеся на этих блоках зеркал, проходят через анализатор 15 и с помощью линзы 17 формирования изображения формируют интерференционное изображение на светоприемной поверхности детектора 19. При этом разность длин оптического пути между пучком, отраженным на блоке 131 подвижных зеркал, и пучком, отраженным на блоке 132 неподвижных зеркал, непрерывно изменяется за счет перемещения блока 131 подвижных зеркал, и непрерывно изменяется интенсивность интерференционного изображения, зарегистрированная детектором 19, что позволяет получить синтезированную форму волны, аналогичную интерферограмме, которая подвергается преобразованию Фурье, что позволяет получить амплитуду относительно длины волны и разность фаз двулучепреломления относительно длины волны. 6 н. и 9 з.п. ф-лы, 22 ил.

Изобретение относится к области спектроскопии и касается акустооптического спектрополяриметра. Спектрополяриметр содержит телескоп и установленный после телескопа акустооптический фильтр (АО) на основе кристалла парателлурита. АО расположен до фокальной плоскости телескопа на расстоянии 50-150 мм от нее. В фокальной плоскости телескопа расположено эллиптическое зеркало с центральным отверстием. Более длинный фокус эллиптического зеркала совпадает с фокальной плоскостью телескопа. Далее по ходу светового пучка установлены два плоских зеркала, после отражения от которых дифрагированные пучки +1 и -1 порядков отражаются от эллиптического зеркала, инвертируются и формируют на ПЗС-матрице, расположенной в более коротком фокусе эллиптического зеркала, ортогонально поляризованные спектральные изображения, смещенные относительно друг друга в плоскости дифракции. В центральном отверстии эллиптического зеркала расположена диафрагма, которая перекрывает пучок 0 порядка дифракции. Технический результат заключается в повышении качества изображения и увеличении светосилы устройства. 1 з.п. ф-лы. 1 ил.

Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для полного определения состояния поляризации света, отраженного от поверхности исследуемого образца. Для определения матрицы Мюллера, исследуемый образец освещают поляризованным световым пучком и измеряют изменение поляризации при отражении, используя разделение отраженного луча на р- и s- компоненты с разложением по амплитуде и фазе, получая на выходе четыре световых пучка с интенсивностями IΨ1, IΨ2, IΔ1, IΔ2, при этом азимутальные углы оптических элементов принимают фиксированные значения в определенных комбинациях, поляризатор фиксируют в положениях Р=0°, -45°, +45°, анализатор в амплитудном канале АΨ=0°, 45°, фазовом канале АΔ=45°, ромб Френеля R=0 и проводят измерения, соответствующие следующим конфигурациям: A: P45SR0WΨ45WΔ45; B: P45SR0WΨ0WΔ45; F: P0SR0WΨ45WΔ45; E: P0SR0WΨ0WΔ45. Изменяют состояние поляризации падающего на образец света с линейной на круговую, устанавливая в оптический тракт перед образцом фазовую пластинку в положении D=0° и проводят измерения, соответствующие конфигурациям: С: P-45D0SR0WΨ0WΔ45; D: P-45D0SR0WΨ45WΔ45, а компоненты матрицы Мюллера Sij определяют, решая систему линейных уравнений. Изобретение обеспечивает возможность полного определения состояния поляризации света, отраженного от поверхности исследуемого образца, для нахождения всех компонент матрицы Мюллера. 1 ил.
Наверх