Способ получения защитных пленок на основе окиси гафния

Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых приборов, в частности к способам получения защитных пленок. Сущность изобретения: способ получения защитных пленок на основе окиси гафния включает формирование на поверхности подложки защитного слоя окиси гафния при температуре 350-400°С из газовой фазы, состоящей из тетрахлорида гафния (HfCl4), кислорода (О2) и окиси азота (NO), при мольном соотношении, соответственно равном 1:1:(2,8-3,2), и скорости газового потока 15-20 л/ч. Изобретение позволяет получить защитные пленки окиси гафния при низких температурах.

 

Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых приборов, в частности к способам получения защитных пленок, из которых наиболее широко используемой является окись гафния (HfO2).

Известны способы получение окиси гафния (HfO2) - катодное распыление и электронно-лучевое испарение гафния с последующим его окислением.

Основным недостатком этого способа является высокая температура.

Целью изобретения является получение окиси гафния при низких температурах.

Поставленная цель достигается тем, что окись гафния получают из газовой фазы, состоящей из тетрахлорида гафния (HfCl4), кислорода (О2) и окиси азота (NO).

Сущность способа заключается в том, что на поверхности подложки формируют защитный слой окиси гафния при температуре 350-400°С осаждением из газовой фазы за счет реакции между тетрахлоридом гафния с кислородом и окисью азота.

Термодинамические расчеты показывают, что в прямом направлении указанная реакция самопроизвольно может протекать с большой скоростью, так как свободная энергия Гиббса имеет отрицательное значение.

Предлагаемый способ отличается от известного тем, что в качестве окислителя используют кислород О2 с добавкой окиси азота NO, что снижает температуру процесса.

В предлагаемом способе процесс ведут из газовой фазы, содержащей тетрахлорид гафния, кислород и окись азота, при мольном соотношении компонентов:

HfCl4:O2:NO=1:1:(2,8-3,2).

При этом скорость газового потока составляет 15-20 л/ч.

Режимы проведения процесса обусловлены тем, что нижний температурный интервал лимитируется температурой возгонки тетрахлорида гафния. При проведении процесса выше 400°С все большая часть окиси гафния окисляется в газовой фазе, засоряя реакционную камеру и ухудшая качество образующейся пленки. Мольное соотношение компонентов: 1:1:(2,8-3,2) обусловлено тем, что снижение содержания окиси азота ниже 2,8 и увеличение выше 3,2 приводит к ухудшению качества защитного слоя из окиси гафния.

Сущность изобретения подтверждается следующими примерами.

ПРИМЕР 1. Процесс проводят при мольном соотношении HfCl4:O2:NO=1:1:2,8 и температуре 350°С. При этом получают защитный слой с показателем преломления 1,45-1,456.

ПРИМЕР 2. Способ осуществляют аналогично примеру 1. Процесс проводят при мольном соотношении HfCl4:O2:NO=1:1:3 и температуре 350°С. При этом получают защитный слой с показателем преломления 1,58-1,60.

ПРИМЕР 3. Способ осуществляют аналогично примеру 1. Процесс проводят при мольном соотношении HfCl4:O2:NO=1:1:3,2 и температуре 350°С. При этом получают защитный слой с показателем преломления 1,51-1,52.

ПРИМЕР 4. Способ осуществляют аналогично примеру 1. Процесс проводят при мольном соотношении HfCl4:O2:NO=1:1:3 и температуре 350°С. При этом получают защитный слой с показателем преломления 1,59-1,61.

ПРИМЕР 5. Способ осуществляют аналогично примеру 1. Процесс проводят при мольном соотношении HfCl4:O2:NO=1:1:3 и температуре 400°С. При этом получают защитный слой с показателем преломления 1,59-1,60.

Как следует из результатов опытов, уже при температуре 400°С получают пленки окиси гафния с хорошими основными показателями, поэтому предложенный способ позволяет снизить температуру до 350°С без ухудшения основных показателей пленок.

Таким образом, предлагаемый способ получения защитного слоя из тетрахлорида гафния из газовой фазы позволяет провести процесс при сравнительно низких температурах 400°С, что обеспечивает сохранность металлизации и неизменность свойств таких низкотемпературных полупроводников, как германий и ряд соединений АIIIВV и AIIBVI и нет необходимости использования материалов и оборудования с высокой термической устойчивостью.

Способ получения защитных пленок на основе окиси гафния, включающий обработку подложек гомогенной смесью тетрахлорида гафния и кислорода при повышенной температуре, отличающийся тем, что на поверхности подложки формируют защитный слой окиси гафния при температуре 350-400°С из газовой фазы, состоящей из тетрахлорида гафния (HfCl4), кислорода (О2) и окиси азота (NO), при мольном соотношении, соответственно равном 1:1:(2,8-3,2), и скорости газового потока 15-20 л/ч.



 

Похожие патенты:
Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления пленок с пониженной дефектностью. .
Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых приборов, в частности к способам получения тонкопленочных конденсаторов. .

Изобретение относится к технологии осаждения диоксида кремния на подложке из раствора при низких температурах таким образом, чтобы получить гомогенный рост диоксида кремния.
Изобретение относится к области технологии полупроводниковых приборов. .
Изобретение относится к области металлооксидных полупроводниковых технологий. .

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов. .

Изобретение относится к микро- и наноэлектронике и может быть использовано в производстве СБИС, полевых нанотранзисторов, а также устройств оптической волоконной связи.
Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых приборов, в частности к способам получения пленочных диэлектриков, из которых наиболее широко используемым является окись тантала (Ta2O5).
Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых приборов, в частности к способам получения пленочных диэлектриков, для маскирования поверхности кремниевых пластин при проведении диффузионных процессов
Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых приборов, в частности к способам получения пленок, содержащих бор на поверхности полупроводниковых материалов
Изобретение относится к области нанотехнологий и может быть использовано для изготовления сенсорных датчиков, приборов контроля составов газовых смесей, оптических приборов, в оптоэлектронике, наноэлектронике

Изобретение относится к технологии арсенид-галлиевой микроэлектроники, в частности к методам электрической пассивации поверхности полупроводниковых соединений и твердых растворов групп АIIIBV, и может быть использовано для снижения плотности поверхностных состояний как на свободной поверхности полупроводника, так и на границе раздела металл-полупроводник и диэлектрик-полупроводник
Изобретение относится к технологии получения защитных пленок полупроводниковых приборов и интегральных схем

Изобретение относится к технологии выращивания оксидных слоев и может быть использовано при создании защитных либо пассивирующих покрытий на поверхности металла или полупроводника

Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых приборов и может быть использовано в производстве твердотельных газовых датчиков паров углеводородов
Изобретение относится к технологии изготовления мощных транзисторов, в частности к методам получения защитных пленок для формирования активных областей p-n переходов
Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления полупроводниковых структур, с пониженной плотностью дефектов

Изобретение относится к технологии полупроводниковой микро- и наноэлектроники, а именно к золь-гель технологии получения сегнетоэлектрических тонких стронций-висмут-тантал-оксидных пленок на интегральных микросхемах, применяемых в частности в устройствах энергонезависимой памяти типа FRAM. Техническим результатом изобретения является обеспечение однородности изготавливаемой сегнетоэлектрической пленки, упрощение контроля над процессом приготовления золя и увеличение срока хранения исходного золя, снижение энергоемкости процесса и снижение его стоимости. В золь-гель способе формирования сегнетоэлектрической стронций-висмут-тантал-оксидной пленки готовят исходные растворы хлорида стронция, хлорида висмута и хлорида тантала. Каждый полученный раствор подвергают ультразвуковой обработке в течение 20-40 минут, выдерживают в течение суток при комнатной температуре и фильтруют. Смешивают растворы в один и выдерживают его в течение суток при комнатной температуре. Образуется пленкообразующий раствор, который наносят на подложку, сушат подложку с нанесенным пленкообразующим раствором при температуре 50-450°С и отжигают пленку в присутствии кислорода при температуре 700-800°С в течение 1-2 часов. В результате получают сегнетоэлектрическую стронций-висмут-тантал оксидную пленку. 5 ил.
Наверх