Устройство для контроля толщины пленки в процессе их нанесения на изделие

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

241 200

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 42Ь, 12/06

Заявлено 26.1.1968 (№ 1214955/25-28) с присоединением заявки ¹

Приоритет

МПК G 01Ь

УДК 531.717.1:

:621.383.4 (088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Опубликовано 18.1V.1969. Бюллетень № 14

Дата опубликования описания 25Л 111.1969

Авторы изобретения

И. А. Прудвиблох, Ю. И. Гребень, Ю. В. Кедра, В. M. ларец, Л. В. Траубе, Г. А. Оранский и Б. П. Сорока

Заявитель

Львовский политехнический институт

УСТРОИСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНКИ

В ПРОЦЕССЕ ИХ НАНЕСЕНИЯ НА ИЗДЕЛИЕ

Известны успройства для ко нтроля толщины пленки в процессе их нанесения на изделие, например на катод, содержащие источник света, прозрачный свидетель, эталон, фотоприемники, расположенные соответственно за свидетелем и эталоном, и исполнительный орган для прекращения процесса нанесения пленки. Предлагаемое устройство отличается от известных тем, что оно снабжено электронной схемой,выда чи .команд исполнительному органу, содержащей,задатчик длительности измерения, сум мирую щий блок, входы кото1рого с вязаны с выходами фотоприемнико в, усилитель, IBxog,,êоторого связан с выходом суммирующего блока, и, логическую ячейку «И», один из входов;которой связали с усилителем, другой, подсоединен к выходу задагчика длительности измерения, причем выход логической ячейки «И» связа|н с исполнительным органном, а источник света выполнен B. виде им пульсной лампы с приспособлением для ее за пупскав,включающим датчик .положения свидетеля и блок задержки, начала измерения, cBrr|3BIHIHbIH с,этим датчиком.

Это по вы шает тонность контроля.

На чертеже изображена схема предлагаеxroIro устройст|ва.

Описьвваемое у стройство содержит источник 1 авета, эталон 2 оптической:плотности, прозрачный свидетель 3, фотоприемники 4 и 5, ржположенные соогветственно за свидетелем и эталоном, исполнительный орган б для прекращения процесса нанесения пленки и электронную схему выдачи команд исполнительному органу. Эта схема содержит задатчик 7 длительности измерения, суммирующий блок 8, усилитель 9 сигналов и логическую ячейку 10 «И». Входы суммирующего, блока 8 связаны с выходамтт фотоприемников 4 и 5, а,выход — с усилителем 9 сигналов. Один вход логической ячейки 10 «И» соединен с выходом усилителя 9, другой — с,выходом задатчика 7, а выход — с иополHèòåëüHым органом б.

Исто LHHII< 1 света .выполнен IB виде ихопульсной лампы с .приспособлением для ее запуска, включающим датчик 11 положения свидетеля и блок 12 задержки начала измерения, свя20 занный с этим,да,тчиком.

Свидетель 8 и катод 18 устано влены на кассете 14, при вращении которой происходит нанесение пленки на них пульверизатором 15.

Работает предлагаемое устройспво. следую25 щим образо м.

При прохождении свидетеля 8 возле источ;ника 1 света срабатывает датчик 11, за пускающий источник с вета и одновременно,включающий блок 12. Из источника света выходят два потомака лучистой энергии,, один из IKQTQ241700

Предмет изобретений

Составитель М. Б. Нанкин

Редактор М. В. Афанасьева Техред T. П. Курилко

Корректоры: Л. Корогод и А. Абрамова

Заказ 2076(3 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр, Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 рых, проходя через эталон 2, попадает на фотоприемник 4, а другой — через свидетель

З,попадает на, фотоприемник 5. В фотоприемниках 4 и 5 Bозбуждается два электрических импульса, которые в проти|вофазе подаются на суммирующии блок 8; с выхода посл днего снимается разностный сипнал, например отрицательный импульс, подаваемый на вход усилителя 9. Далее усиленный им пульс посту пает на один из входов ячей ки 10 «И».

Блок 12, выключенный датчиком, дает при эгом зара нее устано влен ную,выдерноку времени, втече,ние которой разностный сигнал достигает своего максимального значения. По истечении выдержки времени срабатывает задатчик 7, выдающий положительный импульс на другой вход ячейки 10.

По мере увеличения толщины,на носимого слоя величина, разномастного HMIIIyëüñà, имеющая отрицательный знак, уменьшается по амплитуде и становится pBIBiHoй нулю при достижении толщины, пленки на катоде, ра вно и эталон ной. В этот момент ячейка 10 выдает сигнал ис пол нительному органу б,на прекраще ние,нанесения пленки.

Устройство для контроля толщины пленки в процессе ее нанесения на изделие, например на катод, содержащее источник света, прозрачный свидетель, эталон, фотоприемники, расположенные соответственно за свидетелем и эталоном, и исполнительный орган для прекращения процесса нанесения пленки, отличаюи1ееся тем, что, с целью повышения точности контроля, оно снабжено электронной схемой выдачи команд исполнительному органу, содержащей задатчик длительности измерения, суммирующий блок, входы которого связаны с выходами фотоприемников, усилитель, вход которого связан с IBBIxolgioM суммирующего блока, и логическую ячейку «И», один из входо в которой связан с усилителем, друго й,подсоединен к выходу задатчи ка длительности

20 измерения и выход овязан с исполнителыным

OPI BHOIM,, а ИСТОЧНИК аВЕта iBbIIIOvTHBH В ВИДЕ импульсной лампы с приспособлением для ее за пус ка, включающим датчик положения с видетеля и блок задержки начала измерения, 25 авя за н ный с этим датчиком.

Устройство для контроля толщины пленки в процессе их нанесения на изделие Устройство для контроля толщины пленки в процессе их нанесения на изделие 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости
Наверх