Способ электромагнитной дефектоскопии изделий

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 27.XI.1967 (¹ 1200815/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 251Ъ",1969. Бюллетень ¹ 15

Дата опубликования описания 8.I .1969

Кл. 42к, 46/03

МПК G Отп

УДК 620.179,14(088,8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

+>. 34.ц ) Автор изобретения 3, В. Чуприняк

Заявитель Всесоюзный научно-исследовательский институт по разработке неразрушающих методов и средств контроля качества материалов

СПОСОБ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ИЗДЕЛИЙ

Известен способ электромагнитной дефектоскопии изделий, заключающийся в том, что на контролируемое изделие устанавливают по нормали к его поверхности датчик, выполненный в виде двух индукционных катушек, которые расположены соосно одна другой в одной плоскости, снимают сигналы с каждой катушки датчика, по которым судят о наличии дефектов.

Предлагаемый способ отличается от извес1ного тем, что индукционные катушки располагают на фиксированном расстоянии друг от друга, сигналы, снимаемые с каждой катушки, логарифмируют и судят о дефекте по разности логарифмов сигналов. Это упрощает процесс отстройки от влияния изменения зазора.

На чертеже изображена в поперечном сечении намагниченная вращающаяся дефектная труба.

Над поверхностью трубы 1 расположен датчик, выполненный в виде двух индукционных катушек 2, установленных на фиксированном расстоянии друг от друга. Сигналы с катушек через усилители 8 поступают на логарифмические цепочки, состоящие из балластных сопротивлений 4 и логарифмирующих диодов 5.

Сигнал, снимаемьш с выхода схемы, равен разности логарифмов сигналов датчика и пропорционален глубине залегания дефекта независимо от колеоанпй зазора между датчиком и поверхностью изделия.

Предмет изобретения

10 Способ электромагнитной дефектоскопии изделий, заключающийся в том, что на контролируемое изделие устанавливают по нормали и его поверхности датчик, выполненньш в виде двух индукционных катушек, которые распола15 гают соосно одна другой, снимают сигналы с каждой катушки датчика, по которым судят о наличшI дефектов, отличающийся тем, что, с целью исключения влияния колебаний зазора между датчиком и поверхностью контроли20 руемого изделия на результаты контроля, индукционные катушки располагают на фиксированном расстоянии друг от друга, сигналы, снимаемые с каждой из катушек, логарифмируют и судят о дефекте по разности логариф25 мов сигналов.

242469

Составитель В. Мартынов

Техред T. П. Курилко Корректор А. Б. Родионова

Редактор Л. Панус

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 2150/10 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Способ электромагнитной дефектоскопии изделий Способ электромагнитной дефектоскопии изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх