Способ исследования внутренней структуры волокнистых материалов

 

250534

О П И С А Н И Е

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ооеа Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Кл. 42|с, 50

Заявлено 05.11.1968 (№ 1214325/28-12) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет

Опубликовано 12Х!111969. Бюллетень № 26

Дата опубликования описания 12.1.1970

МПК 6 01п

УДК 620.18:677.06 (088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Авторы изобретения

М. И. Сухарев и Н. Н. Зидра

Ленинградский институт текстильной и легкой промышленности им. С. М. Кирова

Заявитель

СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ВНУТРЕННЕЙ СТРУКТУРЫ

ВОЛОКНИСТЫХ МАТЕРИАЛОВ

Предмет изобретения

Известен способ исследования внутренней структуры волокнистых материалов путем изучения их срезов, изготовленных на микротом ах.

Предлагаемый способ позволяет исследовать структуру .материалов на любой глубине и в любой плоскости без нарушения пространственно-геометрического расположения элементов структуры.

Образец исследуемого материала пропитывают вяжущим отвердителем, который при отвердении придает образцу монолитные свойства. Это дает возможность получать, микросрезы любыми механическими способами (шлифованием, резанием и т. п.). Соответствующая обработка материала позволяет получить препарат любой толщины.

Препарат приготовляют следующим образом.

Исследуемый образец, пропитывают, вяжущим отвердителем и накладывают на предметное стекло. После отвердения образца механическим способом получают необходимый для исследования срез и на него наклеивают тем же,вяжущим составом,покровное стекло.

Во избежание искажений при исследовании структуры срезов .применяется вяжущий отвердитель с коэффициентом преломления света при отвердении близким к коэффициенту преломления стекла, на которое наклеивается пропитанный образец в процессе приготовления препарата.

Способ исследования внутренней структуры волокнистых материалов по Hx срезам, огли15 чаюи|ийся тем, что, с целью исследования структуры материалов на любой глубине .и в любой плоскости без нарушения пространственно-геометрического;расположения элементов структуры, образец исследуемого мате20 риала пропитывают вяжущим отвердителем и накладывают на стекла, после отвердения об,разца делают необходи мый срез, на,который наклеивают тем же отвердителем покровное стекло.

Способ исследования внутренней структуры волокнистых материалов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области медицины и медицинской дезинсекции и касается защиты человека от кровососущих клещей, платяных вшей, защиты вещей и материалов от кератофагов путем применения инсектоакарицидных композиций для обработки одежды и материалов

Изобретение относится к проверке огнезащищенности любых материалов, предназначенных для использования в средствах защиты от воздействия высоких температур, тепловых потоков, открытого пламени

Изобретение относится к технике испытаний и измерений, а именно к способам определения характеристик текстильных материалов при изгибе, и может быть использовано в легкой промышленности и сфере бытовых услуг

Изобретение относится к области текстильной промышленности, в частности к устройствам для контроля качества текстильных паковок крестовой намотки нити под крашение

Изобретение относится к области стандартизации лубоволокнистых материалов, а именно к квалиметрии трепаного льняного волокна, и может быть использовано при определении его технологической ценности

Изобретение относится к способам распознавания компьютерного изображения текстильных изделий и может быть использовано при анализе структуры ткани методом компьютерной фотограмметрии

Изобретение относится к текстильному материаловедению и предназначено для оценки качества готовой сорочечно-плательной ткани по показателю ее остаточной загрязненности как одного из потребительских свойств и также может быть использовано для стандартизации при проведении научно-исследовательских работ, периодических и сертификационных испытаний

Изобретение относится к технике испытаний и измерений, а именно к способам определения характеристик текстильных материалов при изгибе, и может быть использовано в легкой промышленности и сфере бытовых услуг

Изобретение относится к оптическим методам неразрушающего контроля параметров тканых материалов и может быть использовано при создании датчиков контроля этих параметров
Наверх