Способ измерения параметров эллипса поляризации

 

П И С:-"А-:НЪ Союз Советских

Социалистических

Республик

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕПЬСТТВУ

Зависимое от авт. свидетельства М вЂ”Заявлено 23.XI 1.1966 (№ 1120718/26-9) с присоединением заявки %в

Приоритет —.

Спублпковапо 30.1Х.1969. Бюллстсиь ¹ 30

»л. 2le, 12

Комитет пс делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

МП» С 01г

УД» 621.317.328(088.8) Дата опубликования описания 26.111.1970

Автор изобрстепия

Н. Ф. Павлов

3

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЭЛЛИПСА ПОЛЯРИЗАЦИИ (тс)СТОЯН(Се ИЗ001)СТ INI(ОТНОСИТСЯ К 00. !аСТИ р i!(I(0Texfr if!()1, а их!с)п(0 к измерениям СВЧ-пар а метров.

Известен способ измерения поляризационпых параметров волн СВЧ-диапазона с разложением волны па ортогопальные линейно поляризова)шыс кoxrrroIIOHTII с последующим измсрсиием их амплитуд и фаз, которые могут быть Heðcc

1l у I o!I Ориент I Il l)f1 эл;(ипса поляризации.

Однако при этом способе необходимо использовать фазометрпческис устройс)ва, что существен!и усложпяст аппаратуру и методику IfpoBeäñíèÿ измерений, 1.)С,!ЬIО псlСТОЯHI(. ГО IIЗООР(. Т(.НИЯ 5)ВЛЯЕТС5! УHр(ицсш)с пзмсрс)шй.

ДосT)IT;Ic f c51 это тем, что угол ориентации

ЭЛЛИ I I(. rI ПОЛ и j) ИЗlй СИГПсlЛ, а ГОЛ ЭЛЛ Ifl)TH IÍOCTÈ вЂ” ПО МИНИмуму сигнала при повороте другого вращателя.

Иа чертеже представлена схема реализации предлагаемого способа.

Устройство реализации предлагаемого спососа состоит из вращателя 1 плоскости поляризации и вращателя 2 плоскости поляризации, между которыми включен четвертьволноpbIH поляриз )тор,>, Например, В виде круглой во aHof

ИХ!СТЬ ПСРЕХОД С ВОЛ НОВОДсl KP СГЛОГО Cif(HIHII на прямоугольное, с помощью которого он сое5 ДHH(.и с п))ях(оуголы!Ым Волг!ОВОДО<м 4, ид) щ,Iм к I1pllexrffolf>)> и !индиl(атopfroibr) > стрОЙст)3у <>.

С посоо I(3 )iej) CHII5r ПО, 1 Я)) пза !)ион)!ы <; 0(I j):1!

>teTj)oB c0cTo I3 Г B следу!ОН(ем.

10 С попl )lцьlо P j) а !1( ПО„ 151 PHЗВЦИИ

L o j);1 и В с((т с 51,ч о Г(. . х H 0 j), и О к а эллипс и Ол 511) и? ! ()О. IЬlllOfI OCI>lO ПО >(ЛИ(TIIH(. СОСТ, ПО. < чит 3l. (O, Te ляризатора имеет место липейHO поллризованпая волна, плоскость поляризации ко25 тОрОй ориентирована под некоторым угпом относительно узкой стенки прямоугольного волновода 4.

Угол поворота плоскости поляризации вращателя 1, обеспечивающий получс!3ие линейно

ЗО иоляризованпой волны на выходе четвсртьвол253229

Предмет изооретения

Составитель Э. Фрндолина

Техред А. А. Камьннникова Корректор P. И. Крючкова

Редактор В. Кузнецов

Заказ 5543 †/4 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, К-35. Раушская иаб., д. 4/5

ЦТ МО СССР нового поляризатора, равен углу ориентации эллипса поляризации анализируемои волны.

Для определения угла эллиптичности эллипса поляризации анализируемой волны плоскость поляризации линейно поляризованной волны, получающейся на выходе четвертьволнового поляризатора, поворачивают с помощью вращателя 2 до положения, пока вектор поля этой волны не окажется ориентированным по нормали к узкой стенке прямоугольного волновода. Этот момент может быть зарегистрирован по минимуму сигнала на индикаторном устройстве.

Угол поворота плоскости поляризации вращателя 2, обеспечивающий получение минимального сигнала на индикаторном устройстве, равенн углу эллиптичности анализируемой волны. Знак угла эллиптичности, определяющий направление вращения вектора поля анализируемой волны, определяется по вели гине угла поворота вращателя поляризации 2, обеспечивающего минимальную величину сигнала на индикаторе.

Способ измерения параметров эллипса поляризации, основанный на использовании уст10 ройства, состоящего из двух вращателей плоскости поляризации, между которыми включен четI.eртьволновый поляризатор, отл(Lчающпйся тем, что, с целью упрощения измерений, угол ориентации эллипса поляризации определяют

15 по максимуму сигнала индикатора при вращении вращателя, на вход которого поступает измеряемый сигнал, а угол эллиптичности— по минимуму сигнала при повороте другого вращателя,

Способ измерения параметров эллипса поляризации Способ измерения параметров эллипса поляризации 

 

Похожие патенты:

Тем-камера // 2103771
Изобретение относится к устройствам для испытания на электромагнитную совместимость электронных приоров, для исследований воздействия электромагнитного поля на живые организмы, для калибровки датчиков электромагнитного поля и представляет ТЕМ камеру, содержащую внешний пирамидальный замкнутый проводник, внутри которого в непосредственной близости от основания установлена комбинированная нагрузка, выполненная из поглощающей панели высокочастотных поглотителей и омических сопротивлений и асимметрично расположен внутренний проводник, выполненный из проводящего листа, переходящего в области нагрузки в плоскую пластину меньшей ширины, проходящую через поглощающую панель и соединенную с омическими сопротивлениями, при этом со стороны вершины пирамиды установлен согласованный переход для подключения генератора сигналов, отличающаяся тем, что внутренний проводник выполнен в форме части боковой поверхности конуса с радиусом сечения R, определяемым соотношением: R = (0,25 oC 0,3) (A + B), где: A и B - соответственно ширина и высота поперечного сечения внешнего проводника ТЕМ камеры, B = (0,7oC0,1) A

Изобретение относится к измерениям электромагнитных, оптических, тепловых, радиационных и других физических полей, образующихся в различных технологических процессах и природных явлениях, и может быть использовано в различных областях, например, сельское хозяйство, медицина, экология и т.п.

Изобретение относится к приборам, измеряющим электрические и электромагнитные поля

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к электрофизическим измерениям, в частности для измерений плотности тока проводимости либо напряженности электрического поля, и может быть использовано в океанологии, геофизических исследованиях, электроразведке

Изобретение относится к радиоэлектронике и может использоваться в измерительных комплексах, а именно для исследования структуры объектов и измерения электромагнитных излучений от исследуемых объектов

Изобретение относится к области антенной техники и может быть использовано при экспериментальной отработке антенн, контроле характеристик на стадиях создания и эксплуатации
Наверх