Патент ссср 257757

 

257757

Оп ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства _#_0—

Заявлено 29.1.1968 (№ 1214528/25-28) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет—

Опубликовано 20.Х1.1969. Бюллетень X 36

Дата опубликования описания 26.III.1971

Кл. 42Ь, 12/03

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР.ЧПК G Olb

УДК 531.717:620. .179 (088.8) Лвтор изобретения

1 х

l ъ. .у т

3. Г. Габидуллин

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ НЕМАГНИТНЫХ ПОКРЫТИЙ

НА ФЕРРОМАГНИТНЫХ ИЗДЕЛИЯХ т шки

10 — Л=, 1 о

1 IV т. е. с=—

Ь с Лх

Предмет изобретсния

Известны способы !изх!ерения толщины немагнитных покрытий:на ферромагнитных изделиях, состоящие в том, что iH3 поверхность изделия устанавливают постоянный магнит и о толщине покрытия судят по магнитным параметрам. Однако известные способы обеспечивают небольшой диапазон контролируемых ,покрытий.

Предлагаемый способ отличается от известного тем, что, с целью расширения диапазона измерения, на магнит наматывают индукторную катушку, удаляют его,или приближают к поверхности изделия и замеря!от величину магнитного потока, по которой судят о толщине покрытия.

На чертеже показа!но устройство, реализующее предлагаемый способ.

Устройство содержит матнит 1 с индукторной катушкой, измерительный прибор 2, измеряющий величину магнитного потока.

Способ заключается в следующем. Магнит 1 с индукторной катушкой помеща!От н3 поверхность покрытия 8 ферромагнитного изделия 4 резыв движением удаляют магнит от поверхности изделия и по величине магнитного потока, измеряемогo измерительнь!м прибором 2, судят о толщине покрытия. Можно также приолижать магнит к поверхности покрытия.

При перев!еще!вии магнита происходит пзdv мснение его магнитного потока, равное dt

При этом в индукторной катушке наводится ,. Ь э.д.с. е = — — !тх —, где 1V — число витков каdt

Г -;= edt=c Ьх.

Изменение магнитного IQT013 обратно пропорционально толщине немагнитного нос . крь!ти1! с:

2!! Способ измерения толщины немагнитных покрытий на ферромагщпных изделиях, состоящий в том, что на поверхность изделия устанавливают постоянный магнит и о толщине покрытия судят по магнитным параметрам, 25 отлппаютцпйся тем, что, с целblo расширения . !13 назона !Iзмерен!!я, г!3 . !Зги! Iт на!м 3тываIoт индукторную катушку, удаляют его плп приближают и поверхности издел!гя п замеряют величину магнитного потока, по которой судят о толщине покрытия.

257757

Составитель С. Зайцева

Текред А. A. Камышникова Корректор Т. А. Уманец

Редактор Л. Яутовкина

Заказ 422 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делаки изобретений и открытий ппн Совете Министров CCCÐ

Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

Тип. Харьк, фил пред. «Патент»

Патент ссср 257757 Патент ссср 257757 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх