Способ определения местоположения источника оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей



Способ определения местоположения источника оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей
Способ определения местоположения источника оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей
Способ определения местоположения источника оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей
Способ определения местоположения источника оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей
Способ определения местоположения источника оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей
Способ определения местоположения источника оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей
Способ определения местоположения источника оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей
Способ определения местоположения источника оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей
Способ определения местоположения источника оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей

 


Владельцы патента RU 2591589:

Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации (RU)

Изобретение относится к способам определения местоположения источника оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей. Согласно способу применяют два оптико-электронных координатора с перпендикулярными приемными плоскостями. Осуществляют координатную привязку фотоэлементов матричных фотоприемников и принимают рассеянное атмосферным каналом оптическое излучение. Определяют координаты крайних фотоэлементов противоположных по периметру линеек фотоэлементов оптико-электронных координаторов с матричными фотоприемниками, сигнал на выходе которых превысил пороговое значение, и вычисляют по их значениям координаты местоположения источника оптического излучения. Технический результат - одновременное определение пространственного положения оптического луча и координат источника оптического излучения. 2 ил.

 

Изобретение относится к области мониторинга (измерения) местоположений источников оптического излучения (ИОИ) и может быть использовано в системах обеспечения вхождения в связь, системах траекторных измерений, а также в системах координатометрии оптико-электронных средств различного базирования и т.п.

Известен наиболее близкий по технической сущности и достигаемому результату способ определения направления на ИОИ по рассеянной в атмосфере составляющей (см., например, А.Ю. Козирацкий, Ю.Л. Козирацкий, П.Е. Кулешов и др. Патент №2285275, Россия, G01S 17/06. Определения направления на источник оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей и устройство его реализации. - М: РОСПАТЕНТ. Опубл. 10.10.2006, бюл. №28, 2006), основанный на применении первого и второго оптико-электронных координаторов (ОЭК) с матричными фотоприемниками, приемные плоскости которых перпендикулярны, осуществлении координатной привязки фотоэлементов матричных фотоприемников, приеме ОЭК рассеянного атмосферным каналом оптического излучения ИОИ, определении координат фотоэлементов противоположных по периметру линеек фотоэлементов первого и второго ОЭК с матричными фотоприемниками, сигнал на выходе которых имеет максимальное значение, и вычислении по их значениям угловых координат ИОИ.

Недостатком способа является невозможность одновременного определения пространственного положения оптического луча и координат самого ИОИ из-за отсутствия в способе оценки дальности до ИОИ.

Техническим результатом, на достижение которого направлено предлагаемое изобретение, является определение местоположения ИОИ по рассеянной в среде распространения составляющей.

Технический результат достигается тем, что в известном способе определения местоположения ИОИ по рассеянной в атмосфере составляющей, основанном на применении двух ОЭК с матричными фотоприемниками, приемные плоскости которых взаимно перпендикулярны, осуществлении координатной привязки фотоэлементов матричных фотоприемников двух ОЭК, приеме рассеянного атмосферным каналом оптического излучения ИОИ двумя ОЭК с матричными фотоприемниками, определяют крайние фотоэлементы противоположных по периметру линеек фотоэлементов двух ОЭК с матричными фотоприемниками, сигнал на выходе которых превысил пороговое значение, и вычисляют по значениям координат их местоположения координаты местоположения ИОИ.

Сущность изобретения заключается в применении двух ОЭК с матричными фотоприемниками, принимающих рассеянное атмосферным каналом излучение направленного ИОИ. Каждый фотоэлемент матрицы имеет координатную привязку. Для оценки координат местоположения ИОИ задействованы крайние по периметру линейки фотоэлементов матрицы. Определение координат местоположения ИОИ осуществляется по положению крайних фотоэлементов линеек, имеющих выходные сигналы, координаты которых являются крайними точками «диаметров» проекций изображений оптического луча ИОИ на плоскости матриц ОЭК.

На фигуре 1 представлена схема, поясняющая способ, где: 1, 2 - верхняя и нижняя линейки фотоэлементов первого матричного ОЭК; 3, 4 - верхняя и нижняя линейки фотоэлементов второго матричного ОЭК; 5 - направленный ИОИ. Для упрощения понимания сущности способа и снижения математической (вычислительной) нагрузки на фигуре 1 упразднено влияние элементов оптического тракта ОЭК на формирование изображений в плоскости матричных приемников. Также поле первого ОЭК лежит в координатной плоскости y0z, а поле второго ОЭК лежит в координатной плоскости x0z, причем нижние линейки фотоэлементов 2 и 4 матриц расположены на координатных осях х00 и 0у0 соответственно для обоих координаторов. При оценке координат местоположения ИОИ 5 задействованы крайние по периметру линейки фотоэлементов, в частности верхние и нижние линейки первого и второго ОЭК 1-4. Каждый фотоэлемент матрицы имеет координатную привязку относительно начала координат. Направленный ИОИ 5 размещен в точке С и формирует оптический луч, попадающий в поля зрения ОЭК. Матричные ОЭК принимают рассеянное атмосферным каналом излучение направленного ИОИ 5. В зависимости от параметров передающей системы ИОИ 5 (см., например, А.С. Борейшо. Лазеры: Устройство и действие. - С. Петербург: изд. Механический ин-т, 1992, стр. 117; Р.Я. Штейнман, С.М. Шапиро, З.А. Косарева и др. Квантовая электроника. Маленькая энциклопедия. - М.: изд. Советская энциклопедия, 1969, стр. 381) сфокусированное изображение луча на фоточувствительных матрицах ОЭК будет отображать его расходимость θ. Поэтому на дистанции распространения диаметры сечения оптического луча ИОИ будут различны. В результате на линейках фотоэлементов матриц ОЭК 1-4 формируются различные по протяженности изображения луча направленного ИОИ 5 (представленные затемненными элементами). Для определения координат местоположения ИОИ 5 используются крайние фотоэлементы линеек 1-4, имеющие выходные сигналы, координаты которых являются крайними точками «диаметров» проекций изображений оптического луча на линейках фотоэлементов 1-4 матриц ОЭК. Следовательно, положение фотоэлементов, значения токов выходных сигналов которых превысили пороговое значение, ограничивается крайними фотоэлементами верхней и нижней линеек 3, 4 с координатами (хB21,0,Н), (хB22,0,Н), (хH21,0,0), (хH22,0,0) для второго ОЭК и фотоэлементами верхней и нижней линеек 1, 2 с координатами (0,уB11,Н), (0,уВ12,Н), (0,уH11,0), (0,уН12,0) для первого ОЭК (где подстрочные знаки обозначают: первые В, Н - принадлежность к верхней и нижней линейкам фотоэлементов соответственно; вторые 1, 2 - принадлежность к первому и второму ОЭК соответственно; третье 1, 2 - крайние координаты фотоэлементов, выходные сигналы которых превысили пороговое значение относительно начала координат соответственно). Эти значения координат фотоэлементов в дальнейшем используются при расчете координат местоположения направленного ИОИ 5.

При расчете координат местоположения ИОИ 5 могут быть использованы различные аппаратно реализованные математические модели, вытекающие из геометрии взаимного положения ОЭК и ИОИ, одна из которых приведена ниже.

Определяют диаметры оптического пучка dH и dB соотносительно верхних и нижних линеек фотоэлементов 1-4 матричных ОЭК.

Вычисляют угловое положение лазерного луча ε в пространстве по формуле:

где Н - расстояние между верхней и нижней линейками фотоэлементов ОЭК,

- длина оптического луча ИОИ 5 между верхней 1, 3 и нижней 2, 4

линейками фотоэлементов 1-4 ОЭК.

Определяют высоту НИОИ, на которой находится источник излучения, относительно нижней линейки фотоэлементов ОЭК, используя соотношения подобия образованных фигур (треугольников ΔСАВВВ и ΔСАНВН). Для этого вводят в рассмотрение отношения k L 1 L с учетом расходимости лазерного луча θ (L - расстояние САН между ИОИ и центральной точки пучка относительно нижних линеек 2, 4 фотоэлементов, L1 - длина неспроецированного участка оптической оси луча):

Тогда

Высоту, на которой находится ИОИ 5, относительно нижних линеек 2, 4 ОЭК определяют как:

Используя выражения (2) и (5), вычисляют координату zИОИ ИОИ 5 по оси Z

где z0 - координата нижней линейки фотоэлементов ОЭК по оси Z. При принятых ограничениях установки (фигура 1) ОЭК z0=0.

Находят координаты точек оси пучка ИОИ 5 AH(xH, yH, zH) и AB(xB, yВ, zB) относительно верхних и нижних линеек фотоэлементов 1-4 матричных ОЭК.

Решают систему уравнений, описывающую положение лазерного луча, проходящего через две данные точки

и находят координаты местоположения ИОИ 5 С(xИОИ, yИОИ, zИОИ)

Таким образом, на основе полученных значений координат крайних точек диаметров оптического луча относительно верхних и нижних линеек фотоэлементов 1-4 матричных ОЭК рассчитываются значения координат местоположения ИОИ 5.

На фигуре 2 представлена блок-схема устройства, с помощью которого может быть реализован предлагаемый способ (затемненные фотоэлементы имеют выходные сигналы, величина тока растет с насыщением тени). Блок-схема устройства включает: 6 - направленный ИОИ, 7 - матричные ОЭК, 8 - микропроцессор, 9 - противоположные линейки фотоэлементов ОЭК, 10 - координаты крайних фотоэлементов противоположных линеек фотоэлементов ОЭК, выходные сигналы которых превысили пороговое значение.

Устройство работает следующим образом. Матричные ОЭК 7 установлены на местности, причем их приемные плоскости ортогональны. Каждый фотоэлемент матрицы ОЭК 7 имеет координатную привязку в декартовой системе координат. Рассеянное оптическое излучение направленного ИОИ 6 принимается ОЭК 7. Координаторы 7 измеряют токи выходных сигналов противоположных линеек фотоэлементов 9 матриц, на основе значений которых выделяют координаты крайних фотоэлементов, сигналы которых превысили пороговое значение 10. Далее ОЭК 7 формируют информационные сигналы о перечисленных значениях координат фотоэлементов и передают их в микропроцессор 8, который по поступившим данным вычисляет координаты местоположения ИОИ 6.

Таким образом, у заявляемого способа появляются свойства, заключающиеся в возможности определения координат местоположения ИОИ за счет оценки координат пространственного распределения рассеянного изображения оптического луча двумя разнесенными ОЭК. Тем самым предлагаемый авторами способ устраняет недостатки прототипа.

Предлагаемое техническое решение является новым, поскольку из общедоступных сведений неизвестен способ определения местоположения ИОИ по рассеянной в атмосфере составляющей, основанный на применении двух ОЭК с матричными фотоприемниками, приемные плоскости которых взаимно перпендикулярны, осуществлении координатной привязки фотоэлементов матричных фотоприемников двух ОЭК, приеме рассеянного атмосферным каналом оптического излучения ИОИ двумя ОЭК с матричными фотоприемниками, определении крайних фотоэлементов противоположных по периметру линеек фотоэлементов двух ОЭК с матричными фотоприемниками, сигнал на выходе которых превысил пороговое значение, и вычислении по значениям координат их местоположения координат местоположения ИОИ.

Предлагаемое техническое решение практически применимо, так как для его реализации могут быть использованы типовые оптико-электронные и электротехнические узлы и устройства.

Способ определения местоположения источника оптического излучения по рассеянной в атмосфере составляющей, заключающийся в применении двух оптико-электронных координаторов с матричными фотоприемниками, приемные плоскости которых взаимно перпендикулярны, осуществлении координатной привязки фотоэлементов матричных фотоприемников двух оптико-электронных координаторов, приеме рассеянного атмосферным каналом оптического излучения источника оптического излучения двумя оптико-электронными координаторами с матричными фотоприемниками, отличающийся тем, что определяют крайние фотоэлементы противоположных по периметру линеек фотоэлементов двух оптико-электронных координаторов с матричными фотоприемниками, сигнал на выходе которых превысил пороговое значение, и вычисляют по значениям координат их местоположения координаты местоположения источника оптического излучения.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области противодействия оптико-электронным системам (ОЭС) различного назначения. Способ основан на согласовании ориентации каждого передающего канала помехового сигнала с ориентацией соответствующего пеленгационного канала.

Изобретение относится к системам с использованием отражения или вторичного излучения электромагнитных волн, иных, чем радиоволны, и может быть использовано для определения местоположения объекта наблюдения в автоматизированных системах транспортных средств для предупреждения столкновения.

Способ определения скорости движущихся объектов методом пассивной локации включает получение изображения самолета при помощи телевизионной системы с формированием видеокадров перемещения движущегося объекта в поле зрения оптической системы и их оцифровкой, определение величины перемещения изображения движущегося объекта на фотоприемной матрице по перемещению центра тяжести изображения.

Изобретение относится к области обнаружения, распознавания и определения координат малогабаритных беспилотных летательных аппаратов (МБЛА) и прицеливания по ним и может быть использовано в военной технике.

Устройство для реализации способа обнаружения оптических и оптико-электронных приборов посредством сканирования лоцируемого пространства содержит передающий блок, выполненный в виде канала подсветки с лазерным излучателем, оптически сопряженным с формирующим лазерное излучение телескопом.
Способ относится к оптическим стереоскопическим способам определения местонахождения объекта в окружающем пространстве. При реализации способа принимают и регистрируют опорное и сравниваемое изображения двумя идентичными оптическими системами.

Изобретение относится к области обнаружения в пространстве объектов, к способам и устройствам лазерной локации и может быть использовано в системах обнаружения и распознавания целей, в системах предупреждения столкновения транспортных средств, в навигационных устройствах и в системах охранной сигнализации.

Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и может использоваться в обзорно поисковых оптико-электронных системах лазерной локации. Устройство содержит канал подсветки с лазерным излучателем и приемный канал с фотоприемным устройством с объективом, и устройство наблюдения для отображения лоцируемого пространства.

Изобретение относится к оптико-электронным следящим системам, предназначенным для поиска и обнаружения малоразмерных слабоизлучающих подвижных целей, и может быть использовано в автоматических оптико-электронных приборах (ОЭП) с цифровой обработкой изображений, обеспечивающих селекцию целей в критических фоновых условиях.

Изобретение относится к оптическому приборостроению. Способ определения местоположения или обнаружения объекта, с использованием активно-импульсного прибора, включающего в себя приемный электронно-оптический преобразователь (ЭОП) и лазерный излучатель, генерирующий короткие импульсы подсветки объекта, отражения которых от объекта затем суммируют в кадре ЭОП, в котором после каждой генерации короткого импульса подсветки объекта с заданной длительностью τ осуществляют периодическое включение ЭОП на время π через заданное время задержки t3 с частотой fг=1/(π+τ) в течение заданного времени θ, причем число включений ЭОП на один импульс подсветки объекта выбирают не более величины Kmax=(t3Kmax-t3)/(τ+π), где t3Kmax=(1/f-π) - максимальное время задержки включения ЭОП для лазерного излучателя, генерирующего короткие импульсы подсветки объекта с частотой f, t3 - время задержки включения ЭОП до момента начала периода времени θ.
Наверх