Способ исследования структуры электронногопучка

 

O ll M C A H H E

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

265)76

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 18.1Х.1967 (№ 1183967/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 09111.1970. Бюллетень № 10

Дата опубликования описания 17Х1.1970

Кл, 21ат, 32/34

МПК Н 04п

УДК 621 397.3(088 8) Комитет оо делам изобретений и открытий ори Совете Министров

СССР

Авторы изобретения

А. А, Муравьев, И. К. Малахов, Б, М. Заморозков, О. М;

П. P. Синицын и О. И. Юдзон

Заявитель

СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ ЭЛЕКТРОННОГО

ПУЧКА

Изобретение относится к области электроники, а именно — к оценке динамических качеств СВЧ-приборов в зависимости от формы и структуры их электронных пучков не только на специальных вакуумных установках, но и в откачанных приборах.

Оценка качества электронных пучков в динамических режимах работы приборов необходима потому, что выходные параметры приборов зависят от структуры и формы электронных пучков.

В ряде случаев и форма электронных пучков отличается от расчетной вследствие несовершенства расчета и дефектов при изготовлении приборов. Из-за этого параметры действующих образцов приборов отличаются от р а счетных.

Отсюда становится очевидной актуальность контроля структуры и формы пучка в действующем макете прибора.

Известен способ исследования структуры электронного пучка без возмущения его структуры, основанный на фоторегистрации свечения возбужденных частиц остаточных газов электронами пучка. По кривой распределения плотности почернения, полученной в результате фотографирования и последующего фотометрирования пучка, можно найти распределение электронов в любом поперечнем сечении.

Для этого микрофотограмму необходимо пересчитать сначала на интенсивность свечения пучка с учетом характеристической кривой фотопленки, а затем на плотность тока в пучке по методу диафрагмы со щелью.

Основными недостатками фоторегистрации являются длительные и сложные процедуры фотографирования и последующего фотометрирования, значительно снижающие опера)о тивность рассмотренного метода.

Целью данного изобретения является создание такого способа исследования структуры электронных пучков, который позволял бы одновременно наблюдать форму пучка и pacnpe1s деление интенсивности его свечения в люоом контролируемом поперечном сечении пучка, изображенном на экране телевизионного контрольного устройства. Такое совмещение позволяет оперативно менять параметры пучка, 20 визуально подбирая форму пучка и распределение его плотности.

Предлагаемый способ отличается тем, что оптическое изображение пучка подают на фотокатод передающей телевизионной трубки, 25 преобразуют в электронно-оптическое изображение, создавая потенциальный рельеф на мишени передающей трубки, из которого скани.рованием получают на экране видеоконтрольного устройства изображение пучка, а на эк3о ране осциллографа, работающего в режиме

265176

Составитель Л. Пирожников

Редактор Б. Б. Федотов Текред А. А, Камышникова Корректор Б. Л. Афиногенова

Заказ 1601/13 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 выбора строки, — строчную развертку распределения интенсивности свечения пучка по его поперечному сечению в любом произвольном сечении.

Оптическое изображение пучка выводится через специальные окна в магнитной системе и проецируется фотообъективом на фотокатод передающей телевизионной трубки.

В передающей трубке оптическое изображение пучка преобразуется в электронно-оптическое, которое на мишени трубки создает потенциальное рельефное изображение наблюдаемого участка пучка. Это рельефное изображение считывается коммутирующим лучом, который B результате считывания сам модулируется и усиливается фотоумножителем, неся в себе неискаженную информацию о свечении исследуемого пучка.

Промодулированный сигнал после дополнительного усиления дает на экране видеоконтрольного устройства изображение проецируемого участка исследуемого пучка.

Для снятия распределения интенсивности свечения исследуемого пучка сигнал с усилителя подается на осциллограф, работающий в режиме выделения строки.

Осциллограмма выделенной строки пересчитывается на радиальные распределения способности тока пучка по методу диафрагмы со щелью.

Способ позволяет исследовать структуру как слабых, так и интенсивных электронных пучков любых мощностей как в статических, так и в динамических режимах без возмущения их структуры. Этот способ позволяет сократить срок разработки электронно-оптических систем приборов, оперативно контролировать качество серийно выпускаемых приборов и вести их отбор для продления срока службы.

Предмет изобретения

Способ исследования структуры электронного пучка без внесения в него возмущений, основанный на использовании свечения пучка, 15 отличающийся тем, что, с целью получения возможности наблюдения за изменением формы пучка с изменением режима работы прибора, устранения плохо контролируемых фотопроцессов и увеличения оперативности иссле20 сования, оптическое изображение пучка подают на фотокатод передающей телевизионной трубки, преобразуют в электронно-оптическое изображение, создавая потенциальный рельеф на мишени передающей телевизионной трубки, из которого путем сканирования получают на экране видеоконтрольного устройства изображение пучка, а на экране осциллографа, работающего в режиме выбора строки,— строчную развертку распределения интенсив30 ности свечения пучка по его поперечному сечению в любом произвольном сечении.