Тно- . ..'tiii •^' ' тга?•''*.""?!'»»• '• ~''

Авторы патента:

G01R27/26 - для измерения индуктивности и(или) емкости; для измерения добротности, например резонансным способом; для измерения коэффициента потерь; для измерения диэлектрических постоянных

266932

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

CoNs Соввтокик

Социалистичвскил

Респуолик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 20.1Х.1968 (№ 1276096/18-10) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 01.IV.1970. Бюллетень № 12

gIàòà опубликования описания 10ХП.1970

Кл. 21е, 29/03

21е, 29/04

Комитет по делам иаобретвииЯ и открытиЯ при Совете Министров

СССР

МПК G Olr 27/26

УДК 621.317.33:621.317. .337(088.8) Авторы изобретения

А. И. Вишневецкий и М. Б. Гринбаум

Заявитель

Ьут" 1М0 ТЕ - ;:.

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЕМКОСТИ (ИНДУКТИВНОСТИ) И ДОБРОТНОСТИ РЕАКТИВНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ

Предмет изобретения

Изобретение относится к области электроизмерительной техники и предназначено для динамических измерений электрических и неэлектрических величин с помощью емкостных и индуктивных датчиков.

Известены способы измерения емкости (индуктивности) и добротности реактивных элементов путем использования параметрического резонанса. Однако такие способы не позволяют производить измерения параметров в динамике их изменений, автоматически записывать результаты измерений и передавать их по линиям связи.

Предлагаемый способ отличается от известных тем, что испытуемый объект включают в контур параметрона, настроенного в резонанс по первой субгармонике накачки, и по изменению амплитуды генерируемых колебаний и величине смещения параметрона судят соответственно о добротности и емкости (индуктивности) реактивного элемента.

Это обеспечивает возможность измерений параметров датчиков в динамике их изменений и повышает точность измерений.

Предлагаемый способ основан на зависимости амплитуды генерируемых параметроном колебаний от величины нагрузки и расстройки его контура относительно первой субгармоники накачки, При подключении к параметрону испытуемого, конденсатора (катушки индуктивности) изменяется характер генерируемых колебаний первой гармоники, а амплитуда их уменьшается на величину, прямо пропорциональную внесенному в контур затухания.

Разность значений амплитуд генерируемых колебаний является мерой добротности подключенного объекта. Под действием обратной связи, возвращающей параметрон к резонансу, изменяется величина его смещения, кот 1о рая отражает реактивные свойства объекта, В процессе динамических измерений всякое изменение емкости (индуктивности) и добротности будет сопровождаться соответствующими изменениями амплитуды генерируемых ко15 лебаний и величины смещения, используемой для подстройки контура параметрона.

20 Способ измерения емкости (индуктивности) и добротности реактивных элементов путем использования параметрического резонанса, отличающийся тем, что, с целью возможности измерений в динамике и повышения точности, 25 испытуемый объект включают в контур параметрона, настроенного в резонанс по первой субгармонике накачки, и по изменению амплитуды генерируемых колебаний и величине смещения параметрона судят о добротч0 ности и емкости (индуктивности) реактивного элемента, соответственно.

Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости // 266875

Способ определения диэлектрической проницаемости сыпучих веществ // 266054

Патент 265275 // 265275

Способ измерения емкости конденсатора // 265199

Устройство для измерения электрических параметров пьезорезонаторов // 264547

Устройство для измерения индуктивности // 263733

Устройство для тренировки, испытания // 263005

Способ определения влажности жидкого материала в потоке // 260956

Цифровой измеритель емкости // 256068

Способ измерения rlc-параметров // 2100813

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, индуктивных или резистивных датчиков

Способ измерения параметров rlc-цепей // 2100814

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, резистивных или индуктивных датчиков

Способ определения диэлектрической проницаемости материала // 2103673

Изобретение относится к радиотехнике, а именно к технике измерений макроскопических параметров сред и материалов, и, в частности, может использоваться при неразрушающем контроле параметров диэлектрических материалов, из которых выполнены законченные промышленные изделия

Устройство для контроля дефектов в изделиях из диэлектрических материалов // 2103700

Изобретение относится к технике измерений с помощью электромагнитных волн СВЧ диапазона и может использоваться для дефектоскопии строительных материалов различных типов с различной степенью влажности

Устройство для измерения параметров диэлектриков // 2106648

Изобретение относится к измерительной технике, в частности, может быть использовано для измерения диэлектрических характеристик веществ с помощью емкостного или индуктивного датчика

Способ и устройство для емкостной температурной компенсации и двухпластинчатый емкостной преобразователь давления для его реализации // 2108556

Устройство для измерения диэлектрических параметров среды // 2109274

Изобретение относится к электронному приборостроению и может быть использовано для контроля и измерения диэлектрических параметров различных сред

Способ измерения электрической емкости между двумя проводящими телами и устройство для его реализации // 2110074

Изобретение относится к измерению электрических величин, в частности емкости

Способ и устройство для передачи электромагнитного сигнала через конфигурацию земли // 2111507

Изобретение относится к способам и устройству для передачи электромагнитных сигналов в землю через конденсатор

Устройство для определения тангенса угла диэлектрических потерь // 2115131

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано при измерении тангенса угла диэлектрических потерь твердых изоляционных материалов, жидких диэлектриков, например, трансформаторного масла