Устройство бесконтактного контроля исправности электротехнических объектов переменного тока

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для бесконтактного непрерывного контроля исправности электротехнических объектов переменного тока. Устройство содержит: датчик напряженности внешнего магнитного поля, размещенного вблизи объекта контроля, выход которого связан с входом усилителя; узкополосный фильтр, настроенный на частоту 2ω (ω - частота питающего объект переменного напряжения), выход которого подключен к входам двух компараторов логического блока, имеющих различные уровни срабатывания. При этом к выходу компаратора, имеющего меньший уровень срабатывания, подключены входы логических элементов И-НЕ и И. Ко второму входу логического элемента И-НЕ подключены выход компаратора с большим уровнем срабатывания и второй индикатор блока индикации, а выход логического элемента И-НЕ подключен ко второму входу логического элемента И, к выходу которого подключен первый индикатор. Причем датчик напряженности выполнен в виде трех одинаковых ортогонально размещенных цилиндрических обмоток, начальные выводы которых соединены между собой и заземлены, а конечные выводы подключены соответственно к усилителям, каждый из которых соединен со своим квадратором, выходы которых соединены с входами суммирующего устройства, а выход суммирующего устройства подключен к устройству извлечения квадратного корня, соединенного с интегратором, выход которого, в свою очередь, подключен к входу полосового фильтра. Технический результат заключается в повышении надежности работы устройства. 2 ил.

 

Предлагаемое изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для бесконтактного непрерывного контроля исправности электротехнических объектов переменного тока. К таким потребителям можно отнести различные преобразователи электроэнергии, в частности трансформаторы, выпрямители переменного тока, электрические машины переменного тока и др.

Известно устройство для контроля полупроводниковых элементов, входящих в состав выпрямителей переменного тока, подключаемое непосредственно к контролируемому элементу с помощью щупов и производящее определение исправности элемента путем оценки его реакции на стимулирующее воздействие в виде прямоугольных импульсов, следующих от специального генератора [1]. Недостатком аналога является необходимость контактного соединения контролирующего устройства с объектом контроля - полупроводниковым элементом.

Известно устройство, реализующее способ экспресс-диагностики выпрямительных элементов блоков питания [2]. Устройство содержит датчик напряженности магнитного поля, размещенный вблизи трансформатора блока питания и подключенный к группе полосовых фильтров и логической схеме обработки сигналов. Принцип действия устройства заключается в том, что из сигнала датчика, пропорционального напряженности внешнего магнитного поля (ВМП) трансформатора, с помощью узкополосных фильтров, настроенных на частоты ω, 2ω и 3ω (ω - частота питающего напряжения), выделяется информативный параметр в виде спектра амплитуд соответствующих частот, после чего осуществляется сравнение полученных величин с эталонными (опорными) сигналами. После этого в логической схеме в зависимости от комбинаций соотношений амплитуд указанных сигналов реализуется один из вариантов выходного сигнала, касающийся исправности/неисправности выпрямительных элементов блока питания. Однако данное устройство содержит большое количество элементов и функциональных связей, что снижает надежностные характеристики его работы.

Известно устройство бесконтактного мониторинга полупроводниковых элементов однофазных и трехфазных мостовых выпрямителей [3], наиболее близкое по совокупности существенных признаков заявляемому изобретению. Устройство содержит датчик напряженности ВМП, размещенный вблизи трансформатора выпрямителя, усилитель сигнала датчика и полосовой фильтр, настроенный на частоту 2ω, выход которого подключен к логической схеме устройства, которая, в зависимости от величины амплитуды выходного сигнала фильтра, формирует на соответствующие индикаторы сигнал о техническом состоянии полупроводниковых элементов.

Недостатком устройства, выбранного за прототип, является необходимость предварительной ориентации оси чувствительности датчика напряженности ВМП относительно объекта контроля, так как при определенном его положении относительно силовых линий магнитного поля выходной сигнал будет равен нулю и устройство работать не будет. Кроме того, ориентация датчика должна поддерживаться неизменной.

Целью изобретения является повышение надежности работы устройства за счет исключения влияния положения оси чувствительности датчика напряженности ВМП относительно объекта контроля на конечный результат работы устройства.

Поставленная цель достигается тем, что датчик напряженности выполнен в виде трех одинаковых ортогонально размещенных цилиндрических обмоток, начальные выводы которых соединены между собой и заземлены, а конечные выводы подключены соответственно к усилителям, каждый из которых соединен со своим квадратором, выходы которых соединены с входами суммирующего устройства, а выход суммирующего устройства подключен к устройству извлечения квадратного корня, соединенного с интегратором, выход которого, в свою очередь, подключен к входу полосового фильтра, выход которого подключен к входам двух компараторов логического блока, имеющих различные уровни срабатывания, при этом к выходу компаратора, имеющего меньший уровень срабатывания, подключены входы логических элементов И-НЕ и И, ко второму входу логического элемента И-НЕ подключены выход компаратора с большим уровнем срабатывания и второй индикатор блока индикации, а выход логического элемента И-НЕ подключен ко второму входу логического элемента И, к выходу которой подключен первый индикатор.

Принцип действия заявляемого устройства бесконтактного контроля исправности электротехнических объектов переменного тока заключается в следующем.

В процессе работы любого электротехнического объекта, содержащего источник магнитного поля и имеющего магнитную систему, происходит ее периодическое перемагничивание. Характер перемагничивания связан с доменной структурой магнитной системы и весьма чувствителен к режиму работы и техническому состоянию контролируемого объекта. Поэтому во внешнем магнитном поле контролируемого электротехнического объекта содержится информация о его исправном/неисправном состоянии.

Если электротехнический объект работает в номинальном эксплуатационном режиме и все его элементы исправны, то рабочая точка перемагничивания магнитной системы находится на линейном участке кривой намагничивания материала; кривая сигнала датчика ВМП симметрична относительно оси абсцисс. Благодаря этому в спектре амплитуд выходного сигнала датчика напряженности ВМП будут присутствовать сигналы только нечетных спектральных составляющих, кратных основной частоте питающего потребитель напряжения ω (3ω, 5ω, …) [4, 5].

В случае возникновения в контролируемом объекте одной или нескольких неисправностей, не снижающих его работоспособность, вследствие появляющегося подмагничивания магнитной системы рабочая точка смещается на нелинейный участок кривой намагничивания, в результате чего в спектре амплитуд выходного сигнала датчика дополнительно появляются сигналы четных спектральных составляющих (2ω, 4ω, 6ω…). В этом случае амплитуды четных спектральных составляющих, в том числе на частоте 2ω, возрастут незначительно.

В другом же случае, когда неисправности в контролируемом объекте существенны и могут привести к аварийным сбоям в работе объекта в целом, амплитуды четных спектральных составляющих, особенно на частоте 2ω, возрастают значительно.

Таким образом, заявляемое устройство фиксирует два вида неисправностей в контролируемом объекте – не существенно влияющих на работоспособность и приводящих к серьезным (аварийным) сбоям в работе. Информационным признаком при этом выступает амплитуда спектральной составляющей выходного сигнала датчика с частотой 2ω.

Для различных типов контролируемых объектов величины амплитуд этих спектральных составляющих также будут различными. В этой связи настройка устройства для регистрации отмеченных видов неисправностей применительно к каждому конкретному объекту будет заключаться в переустановке величин напряжений срабатывания соответствующих сравнивающих устройств (компараторов). Это определяет универсальность заявляемого устройства для его применения к контролю различных электротехнических объектов.

Однако определяющим недостатком прототипа является, как отмечалось выше, обязательная необходимость ориентации оси чувствительности датчика напряженности ВМП относительно объекта контроля. Для исключения данного недостатка в предлагаемом устройстве использован датчик индукционного типа, выполненный в виде трех одинаковых ортогонально размещенных цилиндрических обмоток, начальные выводы которых соединены между собой и заземлены, а конечные выводы подключены к блоку обработки сигналов по определенному алгоритму.

Повышение надежности работы устройства за счет исключения влияния положения оси чувствительности датчика напряженности (или индукции) ВМП относительно объекта контроля достигается специальной обработкой выходных сигналов индукционных датчиков (датчиков напряженности).

Ориентация датчика во внешнем магнитном поле электротехнического объекта определяется углами углов α, β и γ (фиг. 1a). Каждая обмотка выдает сигнал о соответствующей компоненте вектора магнитной индукции, из которых впоследствии выделяется модуль индукции ВМП.

Для пояснения этого процесса рассмотрим одну из цилиндрических обмоток датчика, ориентированного, например, вдоль оси x (фиг. 1б). Кроме того, будем считать, что все цилиндрические обмотки одинаковы. Вектор индукции магнитного поля B контролируемого объекта в декартовой системе координат, связанной с обмотками датчика, составляет с осью x угол α. Компонента магнитного поля Bx найдется как

Потокосцепление с обмоткой датчика найдется как

где wS=a,

w - число витков в датчике,

S - средняя площадь одного витка.

Величину выходного сигнала датчика можно найти с помощью закона Фарадея для электромагнитной индукции:

В дальнейшем знак модуля опустим.

Формула (3) применима для каждой из трех компонент:

Возведем уравнения (3) и (4) в квадрат и сложим результат. Получим:

Из (5) найдем модуль индукции магнитного поля:

Аналогично для двух остальных обмоток, жестко ориентированных вдоль осей y и z, можно записать:

Покажем, что стоящая в знаменателе (6) сумма квадратов косинусов не зависит от углов ориентации. Из определения модуля вектора следует:

Подставив (1) и (7) в (6), получим

.

Откуда

Формула (9) означает, что формула (6) не чувствительна к ориентации датчика. Учитывая (9) в (6), получим окончательный алгоритм обработки измерительных сигналов от трех взаимно ортогональных цилиндрических обмоток в виде:

В связи с тем, что напряженность внешнего магнитного поля H и индукция магнитного поля B связаны между собой выражением B=μ0H, где μ0=4π⋅10-7 Гн/м - магнитная постоянная. Учитывая это, получаем окончательный вариант алгоритма:

Таким образом, так как в формуле (11) отсутствуют углы α, β и γ ориентации датчика напряженности, то его выходной сигнал не будет зависеть от положения датчика относительно объекта контроля, что и является целью изобретения.

На фиг. 2 представлена функциональная схема устройства бесконтактного контроля исправности электротехнических объектов переменного тока. Устройство состоит из датчика (Д) напряженности 1 внешнего магнитного поля, состоящего из трех одинаковых ортогонально размещенных цилиндрических обмоток 11, 12, 13, начальные выводы которых соединены между собой и заземлены, блока обработки сигналов (БОС) 2, логического блока (ЛБ) 3 и блока индикации (БИ) 4. В свою очередь, выходы обмоток датчика Д связаны с входами сумматора 5 через соответствующие усилители (У) 61, 62, 63 и квадраторы (Кв.) 71, 72, 73. Выход сумматора 5 связан с узкополосным фильтром (Ф) 8, настроенным на частоту 2ω (ω - частота питающего электрооборудование напряжения), через устройство извлечения квадратного корня 9 и интегратор 10. Выход фильтра Ф связаны с соответствующими компараторами (К) 111 и 112, имеющими различные уровни срабатывания. К выходу первого компаратора 111, имеющего меньший уровень срабатывания, подключены входы логических элементов И-НЕ 12 и И 13, ко второму входу элемента И-НЕ подключен выход второго компаратора 112 с большим уровнем срабатывания, который подключен также ко второму индикатору (Инд. 2) 142. Выход логического элемента И-НЕ 12 подключен ко второму входу элемента И 13, выход которого связан с первым индикатором (Инд. 1) 141.

Устройство работает следующим образом. Датчик, произвольно установленный вблизи контролируемого объекта, формирует сигналы, пропорциональные напряженности ВМП. В том случае, если электрооборудование работает в номинальном режиме и его комплектующие элементы (узлы) исправны, то сигналы с выходов обмоток датчика Д, кратные основной частоте питающего потребитель напряжения ω (3ω, 5ω, …), после усиления усилителями 61, 62, 63, возведения в квадрат квадраторами 71, 72, 73, суммирования, извлечения квадратного корня и интегрирования соответственно элементами 5, 9 и 10 поступают на узкополосный фильтр 8. При этом дальнейшее преобразование результирующего сигнала в логическом блоке 3 прекращается в связи с отсутствием в сигнале составляющей с частотой 2ω. В результате ни один индикатор в блоке 4 не сработает.

При возникновении в контролируемом объекте неисправностей в выходных сигналах обмоток датчика появляются спектральные составляющие с частотой 2ω. При этом результирующий сигнал с выхода интегратора 10 проходит через фильтр 8 и поступает на входы компараторов K1 и K2 логического блока, настроенных на срабатывание при различных напряжениях входного сигнала, причем Uвх.K2>Uвх.K1. Использование двух компараторов в логическом блоке, настроенных на срабатывание при различном входном напряжении, позволяет более качественно различить техническую ситуацию, возникшую в объекте (появление неисправностей, не снижающих его работоспособность, или появление существенных неисправностей, приводящих к аварийным сбоям в работе объекта).

В том случае, когда в объекте появляются не существенно влияющие на работоспособность неисправности и выходное напряжение фильтра Ф больше Uвх.K1, но меньше Uвх.K2, срабатывает компаратор K1. Единичный сигнал с его выхода поступает на первый вход логического элемента И-НЕ 12 и на первый вход логической схемы И 13. Так как на втором входе элемента И-НЕ сигнал отсутствует, то на его выходе в соответствии с логикой работы сформируется единичный выходной сигнал, который будет поступать на второй вход элемента И. В соответствии с логикой работы на выходе элемента И 13 сформируется единичный выходной сигнал, который вызовет срабатывание первого индикатора (Инд. 1) 141 в блоке индикации БИ 4.

При возникновении существенных неисправностей, могущих привести к серьезным (аварийным) сбоям в работе объекта, вследствие резкого возрастания амплитуды четной спектральной составляющей с частотой 2ω, выходное напряжение фильтра Ф 8 становится больше Uвх.K1 и Uвх.K2, в результате чего срабатывают оба компаратора K1 и K2. Единичный сигнал с выхода компаратора K1 поступает сигнал на первые входы логических элементов И-НЕ и И. Единичный сигнал с выхода компаратора К2 поступает на второй вход элемента И-НЕ и на вход второго индикатора 142. Происходит срабатывание второго индикатора в БИ, фиксирующего появление в оборудовании аварийной ситуации. В соответствии с логикой работы элемента И-НЕ сигнал на его выходе, а следовательно, и на втором входе элемента И будет отсутствовать. В результате на выходе элемента И будет нулевой сигнал, т.е. первый индикатор (Инд. 1) БИ в этой ситуации не сработает.

В связи с тем, что измерение параметров ВМП контролируемых объектов осуществляется бесконтактно, то контроль исправности можно организовать с любой периодичностью, в том числе и непрерывно.

Предлагаемое устройство обладает существенным положительным эффектом, заключающимся в повышении надежности работы за счет исключения влияния положения оси чувствительности датчика напряженности магнитного поля относительно контролируемого электротехнического объекта на результат измерения и, соответственно, необходимости предварительной ориентации датчика перед проведением измерений.

Источники информации

1. Маркин В.В., Миронов В.Н., Обухов С.Г. Техническая диагностика вентильных преобразователей. - М.: Энергоатомиздат, 1985.

2. Сукиязов А.Г., Просянников Б.Н. Авторское свидетельство на изобретение №1718159 «Способ экспресс-диагностики выпрямительных элементов блоков питания», 1989.

3. Сукиязов А.Г., Вербов В.Ф., Просянников Б.Н. и др. Патент на полезную модель №66820 «Устройство бесконтактного мониторинга полупроводниковых элементов однофазных и трехфазных мостовых выпрямителей», 2007.

4. Смирнов В.И. Методы и средства функциональной диагностики и контроля технологических процессов на основе электромагнитных датчиков. - Ульяновск: УлГТУ, 2001.

5. Багуц В.П., Ковалев Н.П., Костроминов A.M. Электропитание устройств железнодорожной автоматики, телемеханики и связи. - М.: Транспорт, 1991.

Устройство бесконтактного контроля исправности электротехнических объектов переменного тока, содержащее обмотку датчика напряженности внешнего магнитного поля, размещенного вблизи объекта контроля, выход которой связан с входом усилителя, узкополосный фильтр, настроенный на частоту 2ω (ω - частота питающего объект переменного напряжения), выход которого подключен к входам двух компараторов логического блока, имеющих различные уровни срабатывания, при этом к выходу компаратора, имеющего меньший уровень срабатывания, подключены входы логических элементов И-НЕ и И, ко второму входу логического элемента И-НЕ подключены выход компаратора с большим уровнем срабатывания и второй индикатор блока индикации, а выход логического элемента И-НЕ подключен ко второму входу логического элемента И, к выходу которого подключен первый индикатор, отличающееся тем, что датчик напряженности выполнен в виде трех одинаковых ортогонально размещенных цилиндрических обмоток, начальные выводы которых соединены между собой и заземлены, а конечные выводы подключены соответственно к усилителям, каждый из которых соединен со своим квадратором, выходы которых соединены с входами суммирующего устройства, а выход суммирующего устройства подключен к устройству извлечения квадратного корня, соединенного с интегратором, выход которого, в свою очередь, подключен к входу полосового фильтра.



 

Похожие патенты:

Устройство для определения нагрузочной способности микросхем относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве.

Изобретение относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве.

Использование: для контроля тепловых свойств цифровых интегральных схем. Сущность изобретения заключается в том, что способ заключается в разогреве цифровой интегральной схемы ступенчатой электрической греющей мощностью известной величины и в измерении в определенные моменты времени в процессе разогрева цифровой интегральной схемы температурочувствительного параметра с известным температурным коэффициентом, по изменению которого рассчитывают приращение температуры активной области цифровой интегральной схемы, с целью упрощения способа и уменьшения погрешности измерения переходной тепловой характеристики для задания электрической греющей мощности нечетное число (n>1) логических элементов контролируемой цифровой интегральной схемы соединяют по схеме кольцевого генератора, подключают его к источнику питания, в заданные моменты времени ti измеряют мгновенную мощность, потребляемую цифровой интегральной схемой от источника питания, и частоту колебаний кольцевого генератора, а значение переходной тепловой характеристики в момент времени t находят по формуле: где и - частота колебаний кольцевого генератора в моменты времени t0=0 и ti соответственно, - температурный коэффициент частоты колебаний кольцевого генератора, Рср(ti)=[Р(0)+P(ti)]/2 - средняя мощность, потребляемая цифровой интегральной схемой за время от начала нагрева t0=0 до момента времени ti, а P(0) и P(ti) - мгновенная мощность, потребляемая цифровой интегральной схемой в моменты времени t0=0 и ti соответственно.

Использование: для определения стойкости к радиационным и температурным воздействиям наноэлектронного резонансно-туннельного диода. Сущность изобретения заключается в том, что способ определения стойкости к радиационным и температурным воздействиям наноэлектронного резонансно-туннельного диода (РТД) на основе многослойных AlGaAs (алюминий, галлий, арсеникум) полупроводниковых гетероструктур заключается в последовательном приложении циклов радиационных воздействий на партию РТД, доза которых постепенно накапливается в каждом цикле, и температурных воздействий, время воздействия которых постепенно увеличивается, с тем, чтобы получить вызванное ими изменение вольт-амперной характеристики (ВАХ) в рабочей области не менее чем на порядок больше погрешности измерения, в определении количества циклов радиационных и температурных воздействий путем установления ВАХ, соответствующей параметрическому отказу для конкретного применения РТД, в построении семейства ВАХ, в определении на основе анализа кинетики ВАХ скорости деградации РТД и в определении стойкости к радиационным и температурным воздействиям РТД на основе полученной скорости деградации РТД.

Использование: для отбраковки полупроводниковых приборов. Сущность изобретения заключается в подаче на каждый прибор из группы однотипных приборов неизменные напряжения питания, приложении последовательности циклов ионизирующего излучения, доза которого накапливается в каждом цикле с тем, чтобы получить вызванное ею приращение интегрального низкочастотного шума прибора над шумами его исходного состояния, анализе приращений интегрального шума с ростом накопленной дозы, определении приращения интегрального шума, достигнутого к моменту окончания М-го цикла, с которого начинают уверенно фиксироваться изменения рабочего тока прибора, выбраковке приборов тех типов, у которых среднее значение приращения интегрального шума на единицу дозы, достигнутое к моменту окончания М-го цикла, оказывается больше, чем у приборов других типов.

Изобретение относится к встроенному логическому анализатору и, в частности, к программируемому встроенному логическому анализатору для анализа электронной схемы.

Использование: для выяснения причин отказов устройства или для оценки качества процесса производства внутренней части электронного устройства. Сущность изобретения заключается в том, что способ, в котором выполняют анализ образца электронного устройства посредством замера некоторого свойства в нескольких точках указанного образца и подвергают, до выполнения анализа, указанные несколько точек, по меньшей мере, одной обработке, увеличивающей различие указанного свойства, по меньшей мере, в двух элементах образца электронного устройства, представляющих собой, по меньшей мере, два слоя пакета слоев, включенного в электронное устройство, при этом указанная обработка включает резку пакета слоев таким образом, что создается различие морфологии в поверхности среза, по меньшей мере, между двумя из указанных слоев пакета.

Изобретение относится к технике измерения тепловых параметров полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества и оценки температурных запасов цифровых интегральных микросхем на выходном и входном контроле.

Использование: для контроля качества цифровых интегральных микросхем КМОП логическими элементами и оценки их температурных запасов. Сущность изобретения заключается в том, что способ включает подачу напряжения на контролируемую микросхему, переключение логического состояния греющего логического элемента последовательностью периодических импульсов, измерение изменения температурочувствительного параметра, определение теплового сопротивления, при этом греющий логический элемент переключается высокочувствительными импульсами, а в качестве температурочувствительного параметра используют длительность периода следования низкочастотных импульсов, генерируемых мультивибратором, и мультивибратор состоит из логического элемента контролируемой микросхемы и логического элемента образцовой микросхемы, работающей вместе с пассивными элементами мультивибратора при неизменной температуре.

Изобретение относится к технике измерения параметров элементов электрических цепей и может быть использовано для измерения параметров элементов многоэлементных двухполюсников, в том числе параметров элементов эквивалентных схем замещения полупроводниковых приборов.

Изобретения могут использоваться в электронной, космической, авиационной, военной и других отраслях промышленности. Способ измерения электрических параметров или характеристик объекта исследования, установленного в электронном устройстве или блоке без демонтажа объекта исследования с печатной платы, на которой он установлен, заключается в том, что посредством подключающего устройства измерительного оборудования или прибора подключают объект исследования - электрически соединяют его с таким оборудованием или прибором, согласно изобретению используют как минимум один специальный электронный компонент – Тест-ключ, который выполнен с возможностью замыкания и размыкания электрической цепи, подключенной к паре его выводов, при этом Тест-ключ электрически соединяют последовательно с объектом исследования, для чего его располагают непосредственно перед или за объектом исследования в соответствии с электрической схемой упомянутых устройства или блока, причем один из выводов пары электрически соединяют с заданным полюсом объекта исследования, в то время как другой - с тем местом или участком электрической цепи измеряемых устройства или блока, с которым этот полюс должен быть электрически соединен, при этом исключают соединение самого такого полюса с указанным местом посредством стационарно установленного проводника, причем обеспечивают возможность электрического соединения с таким полюсом подключающего устройства упомянутых оборудования или прибора, для чего обеспечивают возможность физического доступа извне к электрически соединенному с ним проводнику до, во время или после подключения объекта исследования к упомянутым оборудованию или прибору, но перед измерением, посредством управляющего состоянием Тест-ключа воздействия обеспечивают размыкание ключа, соответствующего упомянутому полюсу объекта исследования, за счет чего отключают объект исследования от электрической цепи упомянутых устройства или блока, после чего диагностируют объект исследования, электрически развязанный с электрической цепью упомянутых устройства или блока или с ее частью, причем не менее чем на время измерений или, по крайней мере, не менее чем на время тестирования объекта исследования упомянутым оборудованием или прибором поддерживают Тест-ключ в разомкнутом состоянии, тогда как по окончании измерений или тестирования объекта исследования непосредственно или отсрочено обеспечивают замыканием Тест-ключа подключение объекта исследования к указанной цепи для обеспечения возможности штатного функционирования диагностируемого устройства или блока. Технический результат, достигаемый при использовании изобретений, заключается в снижении затрат времени на проведение диагностики и настройки электронных устройств или блоков, что обеспечивается за счет снижения затрат времени на измерение распаянных на печатных платах объектов исследования и исключения деструктивного влияния на них процесса измерения в виду исключения необходимости их полного и частичного демонтажа с плат. 5 н. и 20 з.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматизированного контроля параметров и диагностики технического состояния объектов, функционирование которых состоит из периодически повторяющихся циклов. Способ контроля и диагностики состояния сложных объектов, функционирование которых состоит из периодически повторяющихся циклов, заключается в регистрации сигнала информационного параметра состояния объекта, создании из этого сигнала его искаженного заведомо известным методом образа (реплики), получении характеристической кривой путем подачи на вход X осциллографа сигнала информационного параметра состояния, а на вход У - его образа (реплики) и сравнении наблюдаемой характеристической кривой с предварительно созданным банком эталонных характеристических кривых дефектных состояний объекта и на основании совпадения этих кривых установлении наличия соответствующего дефекта. При этом внутри периода изменения информационного параметра стробоскопическим методом выделяется область, наиболее полно отражающая наличие имеющегося дефекта, которая при необходимости может перемещаться в пределах периода, а также изменяться по длительности, и для этой области формируется характеристическая кривая, которая сравнивается с предварительно созданными соответствующими характеристическими кривыми из банка эталонных характеристических кривых дефектных состояний объекта контроля. Предлагаемый способ позволяет реализовать возможность углубленного анализа состояния сложных объектов, процесс функционирования которых состоит из периодически повторяющихся циклов за счет повышения точности и достоверности результатов измерения и высокочувствительного алгоритма их обработки. 4 ил.

Изобретение относится к электронной промышленности, в частности к средствам и методам тестирования электронных компонентов, в том числе при их производстве. Предложен способ тестирования электронных компонентов, включающий следующие этапы: осуществляют размещение по меньшей мере одного тестируемого электронного компонента на заданной позиции в емкости для тестирования; осуществляют опускание термогруппы, смонтированной над контактной поверхностью с контактными прессорами, расположенными в соответствии с расположением электронных компонентов, и содержащей по меньшей мере один элемент Пельтье, на указанный по меньшей мере один электронный компонент, причем прессоры соприкасаются с электронными компонентами без зазора; осуществляют управление питанием указанной термогруппы для достижения заданной температуры по меньшей мере одним указанным элементом Пельтье и по меньшей мере одним электронным компонентом, при этом изменение температуры при помощи прессоров происходит за счет теплопроводности; осуществляют тестирование параметров по меньшей мере одного электронного компонента при заданной температуре; прекращают тестирование электронных компонентов с последующим подъемом термогруппы и извлечением по меньшей мере одного электронного компонента из емкости для тестирования. Технический результат - повышение эффективности тестирования и снижение уровня механического стресса электронных компонентов. 12 з.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение относится к электронной промышленности, в частности к средствам и методам тестирования электронных компонентов, в том числе при их производстве. Предложен способ тестирования электронных компонентов, включающий следующие этапы: осуществляют размещение по меньшей мере одного тестируемого электронного компонента на заданной позиции в емкости для тестирования; осуществляют опускание термогруппы, смонтированной над контактной поверхностью с контактными прессорами, расположенными в соответствии с расположением электронных компонентов, и содержащей по меньшей мере один элемент Пельтье, на указанный по меньшей мере один электронный компонент, причем прессоры соприкасаются с электронными компонентами без зазора; осуществляют управление питанием указанной термогруппы для достижения заданной температуры по меньшей мере одним указанным элементом Пельтье и по меньшей мере одним электронным компонентом, при этом изменение температуры при помощи прессоров происходит за счет теплопроводности; осуществляют тестирование параметров по меньшей мере одного электронного компонента при заданной температуре; прекращают тестирование электронных компонентов с последующим подъемом термогруппы и извлечением по меньшей мере одного электронного компонента из емкости для тестирования. Технический результат - повышение эффективности тестирования и снижение уровня механического стресса электронных компонентов. 12 з.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение относится к технике испытаний и может быть использовано при наземной экспериментальной отработке и при приемочных испытаниях радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов на стойкость к инициированию вторичной дуги при работе аппаратуры на напряжениях, превышающих падение потенциала на дуге, в условиях имитации космического пространства, включая плазменное окружение, имитирующее плазму первичного разряда. Техническим результатом данного изобретения является устранение сквозных дефектов сплошности защитного покрытия путем восстановления полимерного покрытия на токоведущих проводниках испытываемой аппаратуры, что ведет к снижению риска повреждения радиоэлектронной аппаратуры в процессе испытания при сохранении достоверности испытаний. Способ испытания радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов на стойкость к вторичному дугообразованию заключается в воздействии плазмой, имитирующей плазму первичного разряда, на испытываемую аппаратуру в активном (рабочем) состоянии под напряжением, превышающим падение потенциала на дуге. Для достижения технического результата непосредственно перед испытанием работающей аппаратуры в плазменном окружении и в едином цикле с испытанием выполняется процедура осаждения полимера в местах нарушения защитного полимерного покрытия, при этом для осаждения полимера используется тот же источник плазмы, который используется для формирования плазменного окружения, имитирующего плазму первичного разряда. 3 з.п. ф-лы, 2 ил.

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано в лампах. Техническим результатом является обеспечение возможности питания от двух различных типов трансформаторов. Выходные схемы (1) для приема выходных сигналов из трансформаторов (2) содержат фильтры (11) и выключатели (12). В случае магнитных/электронных трансформаторов фильтры (11) активируются/деактивируются, например, для выполнения/не выполнения фильтрации посторонних сигналов, поступающих из преобразователей (4). Фильтры (11) могут содержать конденсаторы. Выключатели (12) могут содержать плавкие предохранители. Выходные сигналы магнитных/электронных трансформаторов содержат сигналы относительно низкой/высокой частоты, которые дают в результате токи относительно небольшой/большой силы, протекающие через конденсаторы; эти токи будут обуславливать перегорание/не перегорание плавких предохранителей. Конденсаторы при их активации формируют вместе с индуктивностями рассеяния магнитных трансформаторов фильтры подавления электромагнитных помех. Альтернативно, схемы (1) могут дополнительно содержать датчики (13) для обнаружения типов трансформаторов и для управления выключателями (12) в ответ на результаты обнаружения. В этом случае датчики (13) могут быть выполнены с возможностью обнаружения частотных сигналов в выходных сигналах и содержат устройства (15) сравнения для выполнения сравнения результатов (14) обнаружения с пороговыми значениями. 5 н. и 10 з.п. ф-лы, 6 ил.

Тест-купон погрешностей совмещения слоев многослойной печатной платы состоит из 2n пар печатных проводников, ориентированных вдоль стороны МПП. Причём каждую пару проводников располагают на соседних слоях металлизации МПП один под другим со смещением в направлении. Пары проводников образуют две группы по n пар, для каждой следующей пары в группе смещение увеличивается на величину дискретного смещения Δ относительно смещения предыдущей пары. Технический результат заключается в уменьшении сложности процесса измерений и обработки результатов контроля. 2 ил.

Тест-купон погрешностей совмещения слоев многослойной печатной платы состоит из 2n пар печатных проводников, ориентированных вдоль стороны МПП. Причём каждую пару проводников располагают на соседних слоях металлизации МПП один под другим со смещением в направлении. Пары проводников образуют две группы по n пар, для каждой следующей пары в группе смещение увеличивается на величину дискретного смещения Δ относительно смещения предыдущей пары. Технический результат заключается в уменьшении сложности процесса измерений и обработки результатов контроля. 2 ил.
Наверх