Патент ссср 273471

 

СПИ

ИЗОБ

К АВТОРСК

27347I

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт

Заявлено 26.Ч.196

K.÷. 42h, 14/01 с присоединением

Приоритет

Опубликовано 15.

Дата опубликован

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

МПК G 02Ь 21/ОО

УДК 535.822 1(0S8 8) Автор изобретения

В. И. Бондарев

Заявитель.

МИ КРОСКОП

Данный микроскоп предназначен для измерений, например, радиусов профильных шаблонов.

Известны микроскопы, содержащие осветитель с конденсором, поворотный предметный столик со шкалами линейных и угловых перемещений, объектив и окулярную измерительную головку с сеткой, выполненной в виде ряда кривых .определенных радиусов.

Описываемый микроскоп отличается от известных тем, что конденсор и объектив снабжены панкратическими системами, проектирующими изображение профиля исследуемого шаблона,и штриха, нанесенного на стекле, установленном на предметном столике, и совмещенного с плоскостью объектов объектива, в плоскость сетки окулярной головки, на которой нанесены вспомогательные биссекторы.

Такие отличия позволяют повысить производительность труда при измерениях, например, радиусов профильных шаблонов.

На фиг. 1 изображена оптическая .схема описываемого микроскопа; на фиг. 2 — вид сетки окулярной головки микроскопа.

Конденсорная система микроскопа снабжена панкратической системой линз i, 2, 8.

Перемещение двух крайних из них обеспечивает изменение апертуры кондепсора.

На предметном стекле 4, на котором устанавливают измеряемое изделие, нанесен

5 штрих, позволяющий с помощью шкалы перемещений стола микроскопа (не показана) производить измерения расстояний между двумя биссекторами сетки 5 окулярной головки для определения масштаба увеличения.

10 Обьектив микроскопа снабжен панкратической системой линз 6, 7, 8. Перемещение двух крайних из них обеспечивает измене ше увеличения объектива, строящего изобр ажение в плоскости сетки 5, в непосредственной

15 близости к которой размещена пластина 9 с нанесенными па ней установочными,штрихами.

На сетке 5 окулярной головки микро.копа нанесены дуги определенных радиусов (штри20 ховые линии). Рядом с каждой из ННх имеется по два биссектора, расстояние между которыми равно 1 мл при увеличении 1"".

Измерения на микроскопе производят сле25 дующим образом: фокусируют микроскоп на штрих предметного стекла 4 и вводят в поле зрения одну из дуг, нанесенных па сетке 5 таким образом, чтобы штрих располагался между штрихами соответствующег0 этой дуге

30 биссектора сетки 5.

273471

На предметное стекло 4 устанавливают контролируемую деталь, резкое теневое изображение которой в поле зрения микроскопа совмещают с дугой сетки 5 с помощью привода линз б и 8, снабженного шкалой, по показаниям которой необходимо установить соответственно, привод линз 1 и 8.

Действительное значение измеряемого радиуса находят как частное от деления величины радиуса, обозначенной на сетке 5, на измеренную величину расстояния между биссекторами.

С помощью данного микроскопа можно производить измерения радиусов в интервале от 0,125 до 200 ми, при этом нет необходимости пользоваться сменными объективами, кочденсорами и окулярными головками.

Предмет изобретения

Микроскоп, содержащий осветитель с конденсором, поворотный предметный столик со

5 шкалами линейных и угловых перемещений, объектив и окулярную измерительную головку с сеткой, выполненной в виде ряда кривых определенных радиусов, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности

10 труда при измерениях, например, радиусов профильных шаблонов, конденсор и ооъектив снабжены панкратическими системами.,проектирующими изображение профиля исследуемого шаблона и штриха, нанесенного на

15 стекле, установленном на предметном столике, и совмещенного с плоскостью объектов объектива, в плоскость сетки окулярной головки, на которой нанесены вспомогательные биссекторы, 273471

Фиг. 2

Составитель Г. 3. Литвин

Техред Т. П. Курилко Корректор С. А. Кузовенкова

Редактор С. И. Хейфиц

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 2502/17 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4)5