Патент ссср 274415

 

О П И С А Н И Е 2744l5

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Соввтскиз

Социалнстическик

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 23.XII.1968 (№ 1292945126-25} с присоединением заявки №

Кл. 42h, 20/02

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

МПК G Oln 23/2 2

УД К 543.422.8 (088.8) Приоритет

Опубликовано 24.V1.1970, Бюллетень ¹ 21

Дата опубликования описания 6.Х.1970

Автор изобретения

5iL i t4, pL y

A. М, Карташов

Красногорский механический завод

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО

ЯИКРОАНАЛИЗА

Предмет и зоб ретен ия

Известно устройство для рентгеноспектрального микроанализа, содержащее основание, кристалл-анализатор, счетчик и механизм привода.

Это устройство содержит большое количество механических связей между приводом, кристалл-анализатором и счетчиком, влияющих отрицательно па чувствительность и точность анализа, и к тому же достаточно сложно.

Цель изобретения — повысить точность и чувствительность рентгеновского микроанализа при упрощении конструкции устройства, а также расширить диапазон углов Вульфа—

Брегга.

Данное устройство отличается тем, что на его основании расположены неподвижная дуга с радиусом 2R и имеющая возможность обкатываться по пей дуга с радиусом R, с которой жестко связан кристалл-анализатор и по которой может передвигаться посредством ролика и гибкой связи детектор.

Устройство изображено на чертеже.

На дуге 1 закреплен кристалл-анализатор 2, имеющий радиус Я. Один конец дуги может быть шарнирно закреплен на маточной гайке 8, которая приводится в движение ходовым винтом 4, другой прижат пружиной 5 к неподвижно закрепленной дуге б с радиусом

2R. На платформе 7, шарнирно соединенной посредством ролика 8 с дугой 1, укреплен счетчик 9.

Пассик 10, одним концом закрепленный на основании спектрометра, проходит через ролик 11, смонтированный на гайке 8. Другой его конец закреплен на краю платформы 7.

Пассик 12 укреплен в центре платформы и проходит через ролики 18 и 14, а его другой конец соединен с пружиной 15.

10 Работает устройство следующим образом.

При вращении ходового винта 4 начинают перемещаться прямолинейно гайка 3 и связанный с ней конец дуги 1 с кристалл-анализатором 2. В то же время разворачивается и

15 перемещается платформа 7 со счетчиком 9.

Таким образом, исследуемый образец, кристалл-анализатор и счетчик всегда находятся па круге Роуланда.

Устройство для рентгеноспектрального мпкроанализа, содержащее основание, кристалл25 анализагор, счетчик и механизм привода, состоящий из ходового винта и маточной гайки, отличающееся тем, что, с целью расширения диапазона и повышения точности измерений при упрощешш конструкции, на основании

30 расположены неподвижная дуга с радиусом

274415

Составитель А. Кузнецов

Корректоры: Е. Ласточкина и В. Петрова

Редактор Б. Б. Федотов

Заказ 2633/11 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изооретепий и открытий при Совете Министров СССР

Москва, >К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

2R и имеющая возможность обкатываться по ней дуга с радиусом R, с которой жестко свя.зан кристалл-анализатор и по которой может

4 перемещаться посредством ролика и гибкой связи детектор.

Патент ссср 274415 Патент ссср 274415 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств веществ, в частности, при проведении рентгеноспектрального анализа руд после их кислотного разложения и экстракции определяемых элементов

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины лент, полотен и т.п

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, а именно к устройствам рентгеновской и изотопной дефектоскопии объектов, находящихся в труднодоступных полостях
Наверх