Интерферометр для контроля аберраций оптических систем

Авторы патента:

G02B11/08 - расположенными в последовательности LLL

Соеа

Социалистических

Республик

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Кл. 42h, 34/11

Заявлено 24.11,1969 (№ 1310341 26-25) с присоединением заявки ¹

Приоритет

МПК б 01Ь 11/08 Д1(535.411(088 8) Комитет по делам иаобретеиий и открытий при Сосете Миииотрое

СССР

Опубликовано 24,VI.1970. Бюллетень X 21

Дата опубликования описания 6 Х.1970

Автор изобретения

Д. T. Пуряев

Московское высшее техническое училище им. Н. 3, Баумана

Заявитель

ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ АБЕРРАЦИЙ

ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ

Изобретение относится к области оптического приборостроения, где часто возникает необходимость в контроле аберраций оптических систем, например асферических линз, линзовых компенсаторов и т. д.

Известны интер феро метры для контроля аберраций оптических систем, содержащие источник монохроматического света, точечную диафрагму, полупрозрачное зеркало, объектив и диафрагму приемной части, рабочую и эталонную ветви.

С целью повышения точности контроля и расширения диапазона контролируемых аберраций, и рабочей ветви предложенного интерферометра установлена зеркальная линза, преломляющая поверхность которой вместе с контролируемой системой образует безаберрационное изображение для осевого пучка лучей. Центр кривизны зеркальной поверхности линзы совмещен с вершиной пучка лучей, вышедших из контролируемой системы и преломленных зеркальной поверхностью.

На фиг. 1 представлена схема предлагаемого интерферометра для контроля оптических систем в параллельном пучке лучей; на фиг. 2 вЂ” схема интерферометра для контроля систем с конечного расстояния.

Лучи света от монохроматического источника 1, пройдя точечную диафрагму 2, установленную в фокусе объектива 8, и сам объектив, идут далее параллельным пучком. Полупрозрачное зеркало 4 разделяет лучи на два пучка, один из которых направляется в эталонную ветвь интерферометра к плоскому зеркалу 5, после отражения от которого лучи повторяют свой путь в обратном направлении.

Другой пучок поступает в рабочую ветвь, в которой установлены контролируемая система б (например, асферическая линза) и зеркальная линза 7. Преломляющая сферическая

10 поверхность Р, линзы 7 обращена к контролируемой системе, другая сферическая поверхность Р> является зеркальной. Отразившись от сферической поверхности, лучи также повторяют свой путь в обратном направле15 нни. Лучи, выходящие из рабочей и эталонной ветвей, интерферируют между собой. Для регистрации интерференционной картины служат объектив 8 и диафрагма 9.

Интерферометр, схема которого изображе20 на на фиг. 2, содержит в отличие от первого разделигельный кубик 8 и эталонное сферическое зеркало 4. Ход лучей в рабочей ветви пнтерферометра аналогичен ходу лучей на фиг.

25 Параметры зеркальной линзы и ее положение в рабочей ветви рассчитаны таким образом, что контролируемая система б (см. фиг. 1) вместе с преломляющей сферической ,,оверхностью Р1 образует безаберрационное

30 изображение для осевого параллельного или расходящегося (см. фиг. 2) пучка лучей, а

274418 и

,"б 1 б

Составитель И. Крупенникова

Корректоры: Е. Ласточкина и В. Петрова

Редактор Б. Федотов

Заказ 2633LI2 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретении it открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 415

Типография, пр. Сапунова, 2 центр кривизны С зеркальной поверхности Ра совмещен с фокусом F системы, образованной контролируемой системой 6 и IIpeломляющей поверхностью Рь Таким образом, в отличие от известных интерферометров в рабочей ветви установлено не зеркало, а зеркальная лин3а, передняя поверхность которой является преломлявшей и поэтому влияет IIB ход лучей. Это II дает возмохкпость расширить диапазон контролируемых аберраций и повысить точность контроля.

Предмет изобретен ия

Интерферометр для контроля аберраций оптических систем, содер>кашпй источник монохроматического света, точечную диафрагму, полупрозрачное зеркало, объектив и диафрагму приемной части, рабочую и эталонную ветви, отла LLLIollLLLLLcя тем, что, с целью повышения точности контроля и расширения диапазона контролируемых аберраций, в рабочей ветви интерферометра установлена зеркальная линза, преломляющая поверхность которой вместе с контролируемой системой обра10 зует безаберрациоппое изобрахкение для осевого пучка лучей, причем центр кривизны зеркальной поверхности линзы совмещен с вершиной пучка лучей, вышедших из контролнруемой системы и преломленных зеркальной

15 поверхностью.

Изобретение относится к специальным объективам и может использоваться в ночных зрительных трубках

Способ определения диаметра пятна моды одномодового оптического волокна // 2156989

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения диаметра пятна моды одномодового оптического волокна

Трехлинзовый объектив // 2478996

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано в различных оптических системах, например в приемных каналах, работающих с ПЗС-матрицами

Планахроматический кварц-флюоритовый объектив микроскопа малого увеличения // 2497162

Объектив может быть использован в люминесцентных микроскопах, работающих при больших перепадах температур в проходящем и отраженном свете, в которых возбуждение люминесценции производится глубоким ультрафиолетом (от 250 нм), а наблюдение производится в видимом диапазоне. Объектив содержит три компонента, первый компонент с оптической силой φ1 выполнен в виде двояковыпуклой линзы, второй компонент с оптической силой φ2 выполнен в виде двояковогнутой линзы, а третий компонент с оптической силой φ3 выполнен в виде двояковыпуклой линзы. Первый и третий компоненты выполнены из флюорита, а второй - из кварцевого стекла. Отношения оптических сил компонентов к оптической силе всего объектива φоб удовлетворяют следующим соотношениям: 1.5<φ1/φоб<2; |4|<φ2/φоб<|5|; 2<φ3/φоб<3, а отношения радиусов кривизны имеют следующие значения: в первом компоненте - |1.5|<R11/R12<|2.5|; во втором - |0.3|<R21/R22<|0.7|; в третьем - |0.8|<R31/R32<|1.7|, где R - радиус сферической поверхности, φ=1/f', f' - фокусное расстояние. Технический результат - увеличение рабочего расстояния для обеспечения возможности работать с толстыми кюветами в проходящем свете и с манипуляторами в отраженном, улучшение качества изображения по всему полю зрения и обеспечение допустимо малого коэффициента засветки. 1 ил., 1 пр., 1 табл.

Светосильный объектив // 2593413

Объектив содержит три линзы. Первая линза - положительный мениск, обращенный вогнутостью к изображению. Вторая линза - отрицательная, у которой величина радиуса кривизны первой поверхности r3 удовлетворяет соотношению . Третья линза - положительный мениск, обращенный вогнутостью к изображению, для которого выполняется соотношение , где: f' - фокусное расстояние объектива, n - показатель преломления материала третьей линзы, r5 - радиус кривизны первой поверхности третьей линзы, r6 - радиус кривизны второй поверхности третьей линзы, d5 - толщина по оси третьей линзы. Расстояние между первой и второй линзами больше 0,15f'. Технический результат - высокое качество изображения ля средней и дальней ИК области спектра. 6 з.п. ф-лы, 1 ил., 16 табл.