Устройство поиска локальных особенностей на парах инфракрасных изображений с их последующим объединением
Владельцы патента RU 2756573:
федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Донской государственный технический университет» (ДГТУ) (RU)
Изобретение относится к области вычислительной техники и может быть использовано в системах анализа и обработки изображений. Техническим результатом является повышение качества формирования объединенных инфракрасных изображений. Устройство поиска локальных особенностей на парах инфракрасных изображений с их последующим объединением реализует алгоритм двукратной обработки изображений, на первом этапе которого производится формирование информационных показателей, второй этап направлен на устранение шумовой компоненты с возможностью сохранения границ объектов и точек с повышенной детализацией. По сформированным информационным параметрам осуществляется поиск матриц преобразования и построение кривой совмещения, на основании которого формируется объединённое изображение. 3 ил.
Устройство поиска локальных особенностей на парах инфракрасных изображений с их последующим объединением, содержащее регистр хранения входной реализации, вход которого является информационным входом устройства; блок фильтрации первого изображения; блок фильтрации второго изображения; блок поиска базовых точек первого изображения; блок поиска базовых точек второго изображения; блок определения усреднённых значений и выбора базовых точек, выход которого подключен к входу блока преобразований и объединения изображений, выход которого подключен к входу блока регистра хранения выходной реализации, выход которого является выходом устройства, отличающееся тем, что выход регистра хранения входной реализации подключен к входу блоку анализа изображений, первый выход которого подключен к первому входу блока фильтрации первого изображения, выход которого подключен к входу блока обрезки и поиска объектов на первом ИК-изображении, выход которого подключен к входу блока проверки условия первой итерации первого изображения, первый выход которого подключен ко второму входу блока фильтрации первого изображения; второй выход блока проверки условия первой итерации первого изображения подключен к входу блока построения маски поиска на высокодетализированных участках первого изображения, выход которого подключен к входу блока поиска базовых точек первого изображения, выход которого подключен к первому входу блока определения усреднённых значений и выбора базовых точек; второй выход блока анализа изображений подключен к первому входу блока фильтрации второго изображения, выход которого подключен к входу блока обрезки и поиска объектов на втором ИК-изображении, выход которого подключен к входу блока проверки условия первой итерации второго изображения, первый выход которого подключен ко второму входу блока фильтрации второго изображения; второй выход блока проверки условия первой итерации второго изображения подключен к входу блока построения маски поиска на высокодетализированных участках второго изображения, выход которого подключен к входу блока поиска базовых точек второго изображения, выход которого подключен ко второму входу блока определения усреднённых значений и выбора базовых точек.