Способ контроля тонкостенных изделий на наличиедефектов
Воесо векам ртатентко-техническая бнблнютекаМБт
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Саюэ Саветских Сациалистических
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено l17.11.1967 (№ 1150108/25-28) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 28.1Х.1970. Бюллетень № 30
Дата опубликования описания 17.XII.1970
Кл, 4 2k, 46, 02
МПК 6 Oln 21/32
УДК 620.179.132 (088.8) йомитет по делам иэобретеиид H открытий при Совете Министров
СССР
Авторы изобретения
П. К. Ощепков, Н. A. Бекешко, В. И. Рыбалка,.А. Б. Упадышев и Ю. И. Муравьев
Заявитель
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТОНКОСТЕННЪ|Х ИЗДЕЛИЙ НА НАЛИЧИЕ
ДЕФЕКТОВ
Предмет изобретения
Известен способ неразрушающего контроля тонкостенных изделий по распределению тепловых полей поверхности, заключающийся в том, что на контролируемое изделие направляют потоки инфракрасного электромагнитного излучения, двумя приемниками измеряктт потоки, отраженные от нагретого участка поверхности, и по отношению величин отраженных тепловых потоков фиксируют сигналы о дефектах, независимые от .величины излучательной способности материала. Однако известный способ вносит погрешности в результаты контроля за счет измерения потока излучения каждым из приемников в различные моменты времени.
Предлагаемый способ отличается от изветного тем, что в целях повышения точности контроля вторым приемником фиксируют разность между падающим на поверхность и ограженным от нее потоками излучения.
Сущность предлагаемого способа заключается в следующем.
На поверхность контролируемого изделия направляют сфокусированный поток инфракрасного электромагнитного излучения от высокоинтенсивного источника, папример лазера, пагревающий участок изделия с небольшой площадью пятна. Тепловой поток от нагретого участка поверхности фиксируется первым приемником излучения. Второй приемник регистрирует отраженный от поверхности поток инфракрасного электромагнитного излучения и, кроме того, некоторую часть падающего готока инфракрасного эле громагнитного излучения, направляемую к приемнику отраж»телем со сдвигом фазы,на 180, в результате чего второй приемник фиксирует разность между падающим и отраженным потоками. Поступающий на второй приемник отраженный
10 поток ослабляется в такое же число раз, в какое уменьшается энергия падающего потока, поступающего на этот приемник. Та» как спгпалы отраженного теплового потока и разности между падающим и отраженным потока15 ми прямо пропорциональны излучательной способности кон-ролируемого изделия, то при делении сигналов первого приемника на сигнал второго на выходе блока деления получают действительный сигнал or дефекта.
Способ контроля тонкостенных изделий на
25 пали тие дефектов, заключающийся в том, что па поверхность контролируемого участка изделия направляют поток электромагнитного излучения инфракрасного диапазона частот, устанавливают у поверхности два приемника
30 излучения, одним пз которых фиксируютпоток
282722
Составитель Л. Тришина
Техред А. А. Камышникова Корректор Л. В. Юшина
Редактор T. Юрчикова
Заказ 3645/13 Тираж 480 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений н открытий при Совете Министров СССР
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 излучения, испускаемый поверхностью изделия, и производят деление сигналов первого приемн ика на сигналы второго приемника, получая таким образом сигнал о дефекте, отлииагощайгся тем, что, с целью повышения точности контроля, вторым приемником фиксируют разность ме кду падающим на поверхность и отраженным от нее потоками излучения.
