Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре с накоплением

 

286330

ОПИСАН ИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 16.И.1969 (№ 1339559/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 10,Х1.1970. Бюллетень № 34

Дата опубликования описания 13.1.1971

Кл. 42/, 3/09

МПК В 01с1 59/44

Н Olj 39/34

G Oln 27/60

УДК 621.384(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Авторы изобретения Э. П. Шеретов, Г. А. Могильченко, В. А. Зенкин и В. Н. Матвеев

Рязанский радиотехнический институт

Заявитель

СПОСОБ АНАЛИЗА ИОНОВ В КВАДРУПОЛЬНОМ

МАСС-СПЕКТРОМЕТРЕ С НАКОПЛЕНИЕМ

Изобретение относится к способам массспектрометрического анализа.

Известен способ анализа ионов в масс-спектрометрах квадрупольного типа с накоплением заряженных частиц, осуществляемый путем ионизации анализируемого газа электронным потоком, вводимым в рабочее пространство анализатора через малое отверстие в одном из гиперболических электродов квадрупольной системы. Поток электронов проходит вдоль оси системы, и атомы газа ионизируются на всех участках траектории электронов, следовательно, и в центре трехмерной квадрупольной системы. Нестабильные ионы, образовавшиеся вблизи центра системы, долго находятся в объеме анализатора и медленно уходят на электроды, что снижает разрешающую способность и увеличивает время анализа.

Целью изобретения является повышение разрешающей способности и быстродействия способа анализа ионов в масс-спектрометре.

Предлагаемый способ отличается тем, что ионизацию анализируемого газа осуществляют в рабочем объеме датчика на расстоянии or центра системы.

Поток ионизирующих частиц вводят в объем датчика, представляющего собой полый цилиндр, в виде отдельных лучей или под углом к осп системы. Поток ионизирующих частиц можно отклонять от центра системы с помощью магнитного поля.

Поскольку ионы нестабильной массы, образуемые вдали от центра системы, быстрее уходят на электроды, предлагаемый способ позволяет повысить разрешающую способность и быстродействие масс-спектрометра, а также увеличить чувствительность за счет уменьшения плотности пространственного заряда, образованного нестабильными ионами.

Предмет изобретения

1, Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре с накоплением путем ионизгции анализируемого газа с помощью потока ионизирующих частиц в рабочем объеме дат15 чика масс-спектрометра, выделения и регистрации ионов анализируемой массы, отличающийся тем, что, с целью повышения разрешающей способности, чувствительности и быстродействия, ионизацию анализируемого газа осу20 ществляют на расстоянии от центра системы.

2. Способ по п. 1, отличающиися тем, что поток ионизирующих частиц вводят в объем датчика в виде полого цилиндра.

3. Способ по п. l, отличающийся тем, что

25 поток ионизирующих частиц вводят в объем датчика в виде отдельных лучей.

4, Способ по пп. 1, 2, 3, отличающийся тем, что йонизирующий поток вводят в объем датчика под углом к оси системы.

30 5. Способ по п. l, отличающийся тем, что по,ток ионизирующих частиц отклоняют от центра системы с помощью магнитного поля,