Прибор для измерения толщины слоя немагнитного покрытия изделий

 

О П И С А Н И Е 29ISI5

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социэлистических

Республик

К ПАТЕНТУ

Зависимый от патента №

МПК G 01Ь 7/06

Заявлено 27.1V.1967 (№ 1154112/25-28)

Приоритет 27.IV.1966, WP 42в/117257, ГДР

Комитет по делэм иэобретениЯ н открытиЯ при Сосете Министров

СССР

УДК 531.717.11(088.8) Опубликовано 06.1.1971. Бюллетень № 3

Дата опубликования описания 24.П.1971

Автор изобретения

Иностранец

Вернер Бурмаин (Германская Демократическая Республика) Иностранная фирма

«Феб Геофюзикалишер Геретебау» (Германская Демократическая Республика) Заявитель

ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЯ

НЕМАГНИТНОГО ПОКРЫТИЯ ИЗДЕЛИЙ

Известный прибор для измерения толщины слоя немагнитного покрытия изделий изферромагнитных материалов содержит два параллельно расположенных прямолинейных постоянных магнита, обращенных один к другому разноименными полюсами, и размещенную между ними подвижную систему, выполненную в виде укрепленного на оси стрелки подвижного прямолинейного магнита.

Предлагаемый прибор отличается от известных тем, что его подвижная система установлена в передвижных держателях, позволяющих ей перемещаться относительно неподвижных магнитов как в продольном, так и в поперечном направлениях. Это расширяет пределы измерения прибора.

На чертеже схематично изображен описываемый прибор. Он содержит два параллельно расположенных прямолинейных постоянных магнита 1 и 2, обращенных один к другому разноименными полюсами, и размещенную между ними подвижную систему, выполненную в виде укрепленного на оси стрелки

8 подвижного прямолинейного магнита 4.

Подвижная система прибора установлена в передвижных держателях 5, позволяющих ей перемещаться относительно неподвижных магнитов как в продольном, так и в поперечном направлениях.

Прибор двумя магнито-мягкими башмаками б устанавливают на измеряемое немагнитное покрытие 7. Так как подложка 8 покрытия обладает ферромагнитными свойствами, то магнитное поле в процессе измерения меняется, причем степень этого изменения зависит от толщины покрытия. Изменение магнитного поля передается с магнита 4 и указывается с помощью стрелки.

Предмет изобретения

Прибор для измерения толщины слоя немагнитного покрытия изделий из ферромагнитных материалов, содержащий два параллельно расположенных прямолинейных постоянных магнита, обращенных один к другому разноименными полюсами, и расположенную меж2О ду ними подвижную систему, выполненную в виде укрепленного на оси стрелки подвижного прямолинейного магнита, отличающийся тем, что, с целью расширения пределов измерения прибора, его подвижная система уста25 новлена в передвижных держателях, позволяющих ей перемещаться относительно неподвижных магнитов как в продольном, так и в поперечном направлениях.

291515

Составитель Л. Тришина

Редактор Т. Юрчикова Техред Л. Я. Левина Корректоры: В. Петрова и М. Коробова

Изд. № 150 Заказ 262/13 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Прибор для измерения толщины слоя немагнитного покрытия изделий Прибор для измерения толщины слоя немагнитного покрытия изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх