Устройство для электромагнитного изл1ерения толщины диэлектрического покрытия на диэлектрическом основании

 

О П И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

305353

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства М

Заявлено 27.V.1969 (Л" 1333577/25-28) МПК 6 01Ь 15/02 с присоединением заявки ¹

П р иор итст

Опубликовано 04,VI.1971. Бюллетень М 18

Дата опубликования Описания 15Л П.1971

Комитет по делам изобретений и открытий прн Совете Министров

СССР

i IK 531.717.11(088.8) Авторы изобретении

Н. Н. Каримов, С. Ф. Корндорф и Х. К. Шаков

Московский станкоинструментальный институт

За51витсль

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ

ТОЛЩИНЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОКРЫТИЯ HA ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОМ ОСНОВАНИИ

Устройство относится к измерительной технике и может быть применено для измерения или контроля толщины диэлектрических покрытий на диэлектрическом основании. Оно пригодно и для измерения объемного соотношения диэлектрических компонентов слоистых материалов, когда нет явно выраженной толщины покрытия, например, при прош1тке различных тканей или бумаги эпоксидными смолами, Äl так>кс для измерения влажности тканей и бумаг.

Известно устройство для электромагнитногÎ измерения толщины диэлектрического покрытия на диэлсктричсс! Ом ОснОВа ниц> содср жащес генератор, измерительную линию и короткозамкнутый волновод со сквозной н!ель!0, выполненной в стенках волновода, через которую проходит контролируемое изделие.

Однако такие устройства имеют малую точность измерения контролируемого параметра.

Цель предлагаемого изобретения — повысить точность измерения и обеспечить многопараметровой контроль.

Для этого устройство снабжено вторым Lî Iповодом со сквозной щелью, выполненной в широких стенках волновода, через кolopi также проходит изделие, причем оба волновода установлены таким образом, что сквозные щели обоих волноводов лежат в одной плоскости.

На фнг. 1 схематически изображено предлагаемое устройство; на фиг. 2 — установка

1>ОЛНОВОДОВ.

Оно содержит генератор 1, измерительные

5 линии 2 — 5, короткозамкнутыс волноводы 6, Т, через которые проходит коптролируемос издс I ling 8 QO на неCC II II EI 110 Iip I IT!I EI, EI ко р от коз а м кнутыс волноводы 9 и 10, через которые проходит «онтролнрусмос изделие после нанссс1 0 !I!i !! I I 0 I p 1>! т и я .

Пзмснснпе параметров контролируемого изделия 8 вызывает смещение узлов электрического поля волноводов 6, т, 9 и 10. Величины смещений определяются í l измерительных

15 линия.; 2 — 5. По результатам этих измерений опрсдсля!отея искомые значс1шя контролируемых параметров.

Целесообразность использования волноводов в устройстве заключается 13 простоте прак20 тпчсской реализации различной ориентации контролируемого изделия относительно вектора электрического поля, что обеспечивает получение системы независимых уравнений, связывающих выходные величины первичных пре25 образователсй с параметрами, влияющими на эти вели шны.

Предмет изобретения

Устройство для электромагнитного нзмере30 ния толщины диэлектрического покрытия на

305353

Составители В. Мазина

Корректоры: М. Коробова и А. Абрамова

Техрсд Л. В, Куклина

Редактор О. Юркова

Заказ !9!7113 Изд. ¹ 807 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретении и открытий при Совете Ми.пгстров СССР

Москва, )K-35, Раун сная иаб., д. 4 5

Типография, Bð. Сапунова, 2 ди.лсктрическом основании, содержащее генератор, измерительную линию и короткозамIiIIK т»1Й Bo IIIQBog co cITBOBIIQA пенной в узкими стенка; волновода, через которую нрокодит контролируемое изделие, отличаюи1ееся тем, что, с целью повышения то шостн нзмс рения н обеспечения многопарамстрового контроля, оно снабжено вторым волноводом со сквозной щелью, выполненной в широкнх стенка." Волновода, через KQTopvIo также прокодит изделие, причем оба волновода

5 установлены таким образом, ITQ сквозные щеIlI Обо11. вол поводов .IPil

Устройство для электромагнитного изл1ерения толщины диэлектрического покрытия на диэлектрическом основании Устройство для электромагнитного изл1ерения толщины диэлектрического покрытия на диэлектрическом основании 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках (в том числе и многослойных)

Изобретение относится к газо- и нефтедобыче и транспортировке, а именно к методам неразрушающего контроля (НК) трубопроводов при их испытаниях и в условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля уменьшения толщины реборды железнодорожных колес подвижных составов

Изобретение относится к бесконтактным методам определения толщины покрытий с помощью рентгеновского или гамма-излучений и может быть использовано в электронной, часовой, ювелирной промышленности и в машиностроении

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для автоматического бесконтактного измерения износа толщины реборды железнодорожных (ЖД) колес подвижных составов

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля, а именно к радиоизотопным приборам для измерения толщины или поверхностной плотности материала или его покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля тепловыделяющих элементов (твэлов) ядерных реакторов, изготовленных в виде трехслойных труб различного профиля и предназначено для автоматического измерения координат активного слоя, разметки границ твэлов, измерения равномерности распределения активного материала по всей площади слоя в процессе изготовления

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для определения толщины стенок, образованных криволинейными поверхностями (цилиндрическими, сферическими и др.) в деталях сложной несимметричной формы
Наверх