Спектральный прибор

 

О П И С А Н И Е 3IOI29

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскик

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 26.11.1968 (№ 1220777/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 26Х11.1971. Бюллетень № 23

Дата опубликования описания ЗО.IX.1971

МПК G Olj 3/18

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 535.853.3(088.8) Авторы изобретения

С. В. Подмошенская и М. Г. Фридман

Заявитель

СПЕКТРАЛЬНЪ|Й ПРИБОР

Изобретение относится к области спектрального приборостроения и может быть использовано при разработке спектрографов, квантометров, монохроматоров и т. п.

Обычно в спектральных приборах используются по одной входной щели и диспергирующей системе, при этом широкая область спектра при достаточной дисперсии может быть зарегистрирована лишь по частям; спектральные приборы с вогнутой дифракци- 10 онной решеткой обеспечивают одновременную работы в более широкой области спектра, но они имеют при этом большие габариты; приборы же с использованием скрещенной дисперсии отличаются сложностью оптических элементов.

Предложенный спектральный прибор содержит несколько входных щелей и такое же количество диспергирующих элементов с соприкасающимися спектральными диапазона- 20 ми, при этом входные щели установлены параллельно в зоне равномерного освещения, создаваемого осветительной системой; диспергирующие элементы установлены один над другим, а для направления излучения от ще- 2S лей на соответствующие диспергирующие элементы применена зеркальная отклоняющая система. Все это расширяет одновременно регистрируемую область спектра при сохранении габаритов прибора, либо уменьшает их 30 при работе в заданной области спектра. Применение для освещения всех щелей одной осветительной системы без светоделителей приводит к увеличению физической светосилы прибора.

Варианты прибора с двумя входными щелями и двумя дифракционными решетками представлены на фиг. 1 — 3.

На фиг. 1 показан прибор в плане; на фиг. 2 — разрез по А — А (вариант I); на фиг. 3 — разрез по А — А (вариант II); на фиг. 4 — р азрез по Б — Б.

Источник света 1 с помощью осветительной системы 2 обеспечивает одновременное и равномерное освещение входных щелей 8» 4, расположенных в одной плоскости и смещенных в направлении дисперсии на ЛХ. Через щель 8 световой пучок попадает на дифракционную решетку 5, спектр которой фокусируется на фокальной поверхности б. Световой пучок, прошедший вторую щель 4 с помощью отклоняющей системы 7, посылается на вторую дифракционную решетку 8, круг Роуланда которой смещен по высоте (в направлении штриха решетки) на Лу, и спектр которой фокусируется на фокальной поверхности 9.

Фокальные поверхности б и 9 смещены на Лу по высоте и íà Л/ по фокусу относительно друг друга.

310129

Предмет изобретения

b Риг, Ф

A-А(Яуриакт ф

,Риг.

Составитель Л. Гайхман

Редактор Л. Г. Герасимова Техред Л. Я. Левина Корректор Т. А. Миронова

Заказ 2638/15 Изд. № 1119 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4(5

Типография, пр. Сапунова, 2

Во втором варианте прибора смещение оптической оси второй дифракционной решетки по высоте осуществляется плоскими зеркалами не после, а перед входной щелью, при этом вторая входная щель 4 располагается в плоскости круга Роуланда второй решетки.

Спектральный прибор, содержащий источник света, осветительную систему, несколько входных щелей и такое же количество диспергирующих элементов с соприкасающимися спектральными диапазонами, отличающийся тем, что, с целью одновременной регистрации излучения пространственно неоднородного и нестабильного источника света в широкой области спектра при уменьшенных потерях света, входные щели установлены параллельно в зоне равномерного освещения, создаваемого осветительной системой, за щелями установ10 лена зеркальная отклоняющая система, направляющая излучение на диспергирующие элементы, установленные один над другим.

Спектральный прибор Спектральный прибор 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для тензометрических преобразований неэлектрических величин в условиях переменньк температур
Наверх