Способ осциллографического анализа кривых

 

И88}8

О П И СА Н И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 08,VI.1970 (№ 1449023/18-24) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет

Опубликовано 28.Х.1971. Бюллетень № 32

Дата опубликования описания 23.XI I.197.1

МПК б Old 9/42

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 621.317.351 (088.8) Автор изобрстештя

А. А. Балодис

Институт механики полимеров АН Латвийской

Заявитель

СПОСОБ ОСЦИЛЛОГРАФИЧЕСКОГО АНАЛИЗА КРИВЫХ

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения реологических характеристик материала по экспериментально полученным кривым деформирования образцов, а также для аппроксимации ряда других кривых.

Известны способы осциллографического анализа кривых, основанные на сравнении исследуемой кривой с эталонной.

Недостатком этих способов являются трудность и погрешности воспроизведения на экране электроннолучевого индикатора исследуемой кривой.

Цель изобретения устранение погрешностей, обусловленных скольжением измерителя ординаты в процессе получения исследуемой кривой, и расширение класса анализируемых функций.

Это достигается тем, что исследуемую кривую задают дискретно во времени посредством коммутатора напряжений, а подсвет луча индикатора осуществляют импульсами с частотой, кратной частоте коммутации, сдвинутыми по времени относительно коммутирующих импульсов.

Описываемый способ может быть осуществлен следующим образом.

Исследуемую кривую задают дискретно во времени с помощью коммутатора напряжений.

Сигнал, воспроизводящий исследуемую кривую, и эталонный сигнал подводят к разным парам отклоняющих пластин индикатора.

Подсвет луча индикатора осуществляется ко5 роткими импульсами, сдвинутыми во времени относительно коммутирующих.

При этом исключаются погрешности определения точек исследуемой кривой за счет временной нестабильности моментов переклюM чения и облегчается сравнение кривых.

Если обе кривые изменяются по одинаковому закону., то изображение на экране индикатора приближается к прямой линии. При этом оно может быть сдвинуто относительно

15 начала координат, что свидетельствует о том, что при получении экспериментальных точек имело место скольжение индикатора ординаты (так, например, тензодатчик в результате скольжения в клеевом соединении может по20 казать деформацию не с нулевого значения, а с некоторой величины). Эту погрешность можно исключить путем регулировки момента времени запуска генератора эталонного сигнала.

25 Если анализируемый сигнал представляет сумму двух функций, то сопоставляемый сигнал задают в виде разности исследуемой кривой и выбранной известной функции, после чего дополнительной регулировкой соотноше30 ния параметров обеих функций и эталонного сигнала добиваются спрямления изображения

318818

Составитель В. Д. Быков

Редактор И. А. Орлова Техред А. А. Камышникова Корректоры: Л. А. Царькова и В. И. Жолудева

Заказ 3547/8 Изд. № 1518 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

3 точек на экране индикатора. Параметры анализируемой функции получают по параметрам эталонного сигнала, выбранной известной функции и временному сдвигу момента запуска генератора эталонного сигнала.

Предмет изобретения

Способ осциллографического анализа кривых, основанный на сравнении исследуемой кривой с эталонной, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, исследуемую кривую дискретизируют во времени с частотой коммутирующих импульсов, а яркость лу5 ча осциллографического индикатора модулируют импульсами с частотой, кратной частоте дискретизации, сдвинутыми по времени относительно коммутирующих импульсов.

Способ осциллографического анализа кривых Способ осциллографического анализа кривых 

 

Похожие патенты:
Наверх