Изотопный измеритель толщины покрытий

 

с 1

О П И-Ю-А-Н вЂ” И-Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К ПАТЕНТУ

Зависимый от патента М

Кл. 6 01Ь 15, 02

Заявлено 30.1V.1969 (№ 1327233(25-28}

Приоритет ОЗЛ .1968, NP 126783, ПНР

Комитет по делам изобретений и открытиЯ при Совете Министров

СССР

«ДК 531.521(088.81

Опубликовано 26.1.1972. Еиоллетсиь X 5

Дата оиубликоliания оиIIсаIия 23.111.1972," т вторы и.,обрстс иия

11и остр а и цы

Рышард Шепке и Болеслав Померны (Польская Народная Республика) Иностранное предприятие

«Ииститут ядерных исследований», Варшава (Польская Народная Республика) 3; явитсль

ИЗОТОПНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЪ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЙ

Предмет изобр(т IIII

Изобретение относится к области измерения толщин при помощи проникающего излучения.

Известны изотопные измерители толцнн|ы покрытий, содержащие источник бета-лучей и детектор рассеянного излучения.

Их недостатком являстся IIBëIILIIIÑ сравнительно высокой погрсншости измерения, опредсляемой значительной величиной отношения фон/полезный сигнал. 1р

Цель изобретения — уменьшение погрешности измерения. Для этого в предлагаемом измерителе источник и детектор расположены асимметрично относительно перпендикуляра, восстановленного в центре зоны облучения. 15

На чертеже показана геометрия расположения источника и детектора бета-излучения огносительно контролируемого изделия.

Измеритель работает следующим образом.

Источник 1 излучения, ра=положенный под 2р углом, не превышающим 25, к перпендикуляру 2, восстановленному в центре зоны облучения, и имеющий возможность изменять свое положение на линии излучения, облучаст контролируемое изделие 8, несущее на себе покрытие 4. Прошедшее через покрытие 4 бета-излучение рассеивается изделием и регистрируется детектором 5.

Бели инга сиги » III, снятого с детектора, определяет зн I IeIIIIe толщины покрытия. Для уменьшения погрешности измерен .я ось детектора располагают под углом 30 — 60 относительно оси источника.

11зотопный измеритель тол щlilll, покрытий, содержа гний источник бс га-лучей и детектор рассеянного излучения, отлсяа>ощш1 ся тем, что, с целью уменьшения погрешности измерения, источник и детектор излучения расположены асимметрично относительно перпендикуляра, восстановленного в центре зоны облучения.

327703

Составитель Л. Гришина

Тскрсд 3. Тараненко

Коррсктоо О. Тюрина

1 сдактор Т. Киселева

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ б42) 5 Изд. Х 156 Тп ра ж 448 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете 111пп стров СССР ,Чосква, )К-35, Раушская нао., д. 4,5

Изотопный измеритель толщины покрытий Изотопный измеритель толщины покрытий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках (в том числе и многослойных)

Изобретение относится к газо- и нефтедобыче и транспортировке, а именно к методам неразрушающего контроля (НК) трубопроводов при их испытаниях и в условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля уменьшения толщины реборды железнодорожных колес подвижных составов

Изобретение относится к бесконтактным методам определения толщины покрытий с помощью рентгеновского или гамма-излучений и может быть использовано в электронной, часовой, ювелирной промышленности и в машиностроении

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для автоматического бесконтактного измерения износа толщины реборды железнодорожных (ЖД) колес подвижных составов

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля, а именно к радиоизотопным приборам для измерения толщины или поверхностной плотности материала или его покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля тепловыделяющих элементов (твэлов) ядерных реакторов, изготовленных в виде трехслойных труб различного профиля и предназначено для автоматического измерения координат активного слоя, разметки границ твэлов, измерения равномерности распределения активного материала по всей площади слоя в процессе изготовления

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для определения толщины стенок, образованных криволинейными поверхностями (цилиндрическими, сферическими и др.) в деталях сложной несимметричной формы
Наверх