Способ интерференционной амплитудно модуляции h3js учения* аш1йо-т?\ш:-бнблиоте;:

 

О П И С А Н И Е 329469

Союз Советсиии

Социапистическиз

Республии

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Ч, Ь;л. 601j 308

Заявлено 13Х1.1968 (№ 1247742!26-25) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 09.11.1972. Бюллетень т№ 7

Дата опубликования описания 28.III.1972 йоввитет AO делаю иаооретений и открытий ори Совете Министров

СССР

УДК 535.853.3(088.8)

535.853.4 (088,8) Авторы изобретения

К. И. Тарасов и К. H. Чиков

Ленинградский институт точной механики и оптики

Заявитель

СПОСОБ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ АМПЛИТУДНО

МОДУЛЯ ЦИ И ИЗЗУ У-I ЕН ИЯ

Изобретение относится к области спектрального приборостроения и может найти применение при разработке спектрометров с интерференционной селективной амплитудной модуляцией.

Известен способ интерференционной модуляции, заключающийся в изменении разности хода при прецизионном возвратно-поступательном перемещении дифракционной решетки в одной из ветвей интерферометра, в то время как сканирование спектра осуществляется одновременным поворотом на одинаковые углы дифракционных решеток B обеих ветвях интерферометра.

Предложенный способ отличается от известного гем, что, с целью повышения качества модуляции, два когерентных световых пучка, на которые делят параллельный световой пучок, разносят по поверхности плоской дифракциопной решетки в направлении дисперсии, затем поворотом дифракционной решетки вокруг оси, проходящей через место падения одного из пучков на решетку, производят сканирование спектра и одновременно с этим постепенное изменение величины оптического пути второго светового пучка. Отраженные от дифракционной решетки световые пучки сводят в один для получения интерференции. Поскольку по мере поворота решетки разность хода этих пучков меняется, при их интерференции осуществляется интерференционная амплитудная модуляция.

Способ поясняется фиг. 1 — 3.

Дпфракционная решетка занимает положение автоколлимации (см. фиг. 1) при однократной дифракции световых пучков (L— длина нарезанной части решетки, поперек ступенек, Π— ось вращения решетки). Приращение разности хода между крайними лу1О чамп каждого интерферирующего пучка, равное ., получают при сканировании спектра на всличнну Б. (соответствующую переходу от главного максимума до первого минимума дифракционной полосы). При этом, если

15 крайний слева луч правого пучка, отстоящий от оси О на расстоянии и лы, получил прира;цение i. при повороте решетки, то крайний слева луч левого пучка получит приращение

I — Отсюда следует, что при сканировании п спектра на величину О. разность хода между интсрферирующимп пучками изменяется на всличину

/ 1.

25 1 lj, n )

Дифракцпонные картины от правого и леього пучков лучей тождественны, однако оптический путь левого пучка непрерывно измс30 пястся при повороте решетки, поэтому прн

329409 сведении этим двух пучков в один» пнтерфере»ции»х пр»»епрерывно ме»яющейс 1

)3:IIIGcTEI оДа »Ро»схоД»т IIIITPPQPPOI»I»OI ам»литудная модуляция.

Способ можно осуществить в с»ектромстрах, схематически показанных па ф»г. 2, 3.

На фш . 2,а представлена оптическая схема спектрометра с однократной дпфракцисй.

Параллельный пучок лучей, падающих на плоскопараллельную пластинку-светоделитель

1„делится на два когереитных пучка, один из которых после пе»тагопальпого отражателя 2 дифрагирует ца плоской дифракцио»пой репетке 8, а затем возвращается»o»ервоцачальпому пути па светоделитель 1. Отразившись от светоделителя, пучок соединяется и интерферирует с другим световым пучком, прошедшим через плоскопараллельную пластинку компенсатора 4, претерпевшим дифракцию на решетке 8 и возвратившимся на светоделитель 1 прежним путем. Селект»в»ость интерференции обусловливается протпвополож ной ориентацией спектров, получен ых в результате однократной дпфракции ка?кдого пучка. При этом вблизи оптической оси прибора после светоделителя 1 происходит наложение (интерференция) лучей только определенной длины волны, зависящей от установки решетки ? .

Спектр сканируется поворотом дифракц»о»ной решетки вокруг оси б, селект»вно интерферирующее излучение модул»руется в результате изменения разности хода при этом повороте.

На фиг. 2,о показан спектрометр с двумя идентичными дифракционными решетками (жестко закрепленными на оощей плате с целгяо более полного использования их рабоч»х поверхностей).

1-1а фиг. З,а изображена оптическая схема спектрометра, в котором осуществляется двух— кратная дифракция. Спектрометр состоит»з плоскопараллельцой пластинки-светоделителя

1, пептагональцого отражателя 2, плоского зеркала б, закрепленного жестко на общем со

10 светоделителем основании, плоской дифракциопной решетки 3 и плоского автоколлимацпонного зеркала 7. Работает этот спектрометр аналоги шо спектрометру с од»ократпой дифракцией.

15 Спектрометр, осуществляющий двухкратпую дифракцию, может содержать две идентичные дифракцион ые решетки (жестко закрепленные на общей плите) с целью более полного использования их рабочих поверх20 ностей.

Прсдмет пзобрете»ия

Способ пптерфере»ц»он»ой амплитудной

25 модуляци» излучения, отличающийся тем, что, с целью»овыше»ия качества модуляции, параллельный световой пучок делят на два когерент»ых, распространяющихся п араллельIIo друг другу световых пучка, направляют

30 оба пучка на два расположе»ных у противоI:оло?кных краев дифракцио»»ой решетки учасгка, отра?кеп»ые от дифракционной ршетк» световые пучки сводят в один для получения интерференции, а дифракционную

35 решетку поворачивают относительно оси, проходящей через один из ее краев.

329409 а г

Уиг 2

Фиг. У

Составитель Е. Афанасьев

Техред 3. Тараненко

Редактор Т. Орловская

Корректор А. Васильева

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 742/5 Изд. № 211 Тираж 448 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров ССС1

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4,5