Способ определения диэлектрических характеристик веществ
335590
О П И С А Н И Е
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 16.111.1967 (№ 114i1431/18-10) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 11.IV.1972. Бюллетень № 13
Дата опубликования описания 6Л".1972
М. Кл. б Oln 27/02
G 01г 27/26
Ноюитет по делатв изобретений н открытий при Совете 1т1иннотрое
СССР
УДК 551.508.7(088.8) Лвтор изобретения
Заявитель
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ
ХАРАКТЕРИСТИК ВЕЩЕСТВ
Изобретение относится к электрическим измерениям диэлектрических характеристик веществ с помощью включенных в резонансные системы диэлектрических датчиков, параметры которых являются функцией анализируемых или контролируемых сред.
Известны способы определения диэлектрических характеристик веществ по частоте резонансного контура, в который включен диэлектрический датчик с контролируемым вещестВом. Однако В условиях комплексного изменения электрических параметров контролируемого вещества этп способы пс обеспечивают требуемой точности измерений.
Предлагаемый способ характеризуется повышенной точностью измерений. On отличается тем, что после измерения частоты резонансного контура изменяют его добротность на заданную величину, вновь измеряют резонансную частоту, установившуюся в результате изменения добротности, и по значениям измеренных частот и изменению добротности определяют искомую характеристику контролируемого вещества, пользуясь, например, тарировочными данными.
На чертеже приведена принципиальная схема устройства, реализующего данный способ.
Датчик С и индуктивность L составляют резонансный контур, резонансный режим которого поддерживается генератором Г. Ключ /х, включенный параллельно калиброванному резистору r, служит для изменения добротности контура на определенную величину. Резонансная частота контура контролируется частото5 мером Ч.
После введения в датчик С„ пробы контролируемого вещества частотомером Ч измеряют резонансную частоту контура L, С„. Затем ключом К замыкают или размыкают резистор
10 r, в результате чего добротность контура изменяется на заданную величину, и вновь измеряют резонансную частоту. Искомую характеристику контролируемого вещества определяют по изменению добротности и измерсн15 ным частотам, используя, например, тарпровочпые данные.
Для измерений в заданном диапазоне частот контур на этот диапазон настраивают при помощи, например, конденсатора перемен20 ной емкости.
Предмет изобретения
Способ определения диэлектрических харак25 теристик веществ, например, концентрации взвешенных наносов, путем измерения частоты работающего в резонансном режиме колебательного контура, в который включен диэлектрический датчик с контролируемым вещест30 вом, отличающийся тем, что, с целью повыше335590
Составитель М. Фримштейн
Техред Т. Курилко Корректоры: Е. Давыдкина и А. Николаева
Редактор Б. Федотов
Заказ 1284!16 Изд. № 489 Тираж 448 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 ния точности измерений, после измерения частоты контура изменяют его добротность на заданную величину, вновь измеряют резонансную частоту контура и по изменению добротности и полученным частотам определяют искомую характеристику контролируемого вещества, пользуясь, например, тарировочными данными.
