Устройство для контроля электропроводящихматериалов

 

О f1 И С А Н И Е 339857

ИЗОБРЕТЕН ИЯ, Союз Соеетскит

Социалистически>

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 07 тт !!.1969 (Юе 1345895/25-28) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет—

Оп бликоватю 24.V.1972. Бюллетень № 17,Ч. Кл. G 01п 27/86

G 0ln 29/04

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министрое

СССР

УДК 620 179.14 (088.8) Дата опубликования описания 20 VII 1972.

Лвторы изобретения

А. А. Астафьев и П. Ф. Шаповалов

Всесоюзный научно-исследовательский институт по разработке неразрушающих методов и средств контроля качества материалов

Заявитель

УСТ! ОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ

МАТEPИАЛОВ

И зв есгны устройства для контроля электропровадящих материалов, содержащие ультразвуковой дефектоскоп с электромагнито а кустичеоким преобразователем, схему автоматического регулирования чувствительности дефект«окоп а.

Известные устройства могут обеспечить отстройку только от влияния изменений зазора illpH контроле ферромагнитных материалов и не обеспечивают отстройку от влияния зазора при контроле немагнитных металлов, а также влияния,изменений электр«пров«,дчтости и качества поверхности изделия.

Кроме того, та кие устройства пе обеспечивают дефектоскопию поверхности материала.

Предла1гаемое устройство отличается от известных тем, что оно снабукено подключенным к электромагнитоакустическом1у преобразователю токовихревым дефект«скопом, связанным с его выходом амплитудно-частотным анализатором си гнал«в, и блоком преобразования выходных cHI HB;IQB анализатора, включенньпт между выходом анализатора и входом схемы, а втоматического регулирования чувствительности ультр азвукового дефектоскопа.

Это позволяет выявлять внутренние и поверхностные-дефекты одноврсмеHFIQ и повысить достоверность и надежность ультразвукового контроля.

-la чертеже представлена блок-схема описываемого устройства.

Оно состоит из ЭМЛ преобразователя 1, ультразвукового дефектоскопа 2 со схемой т аВтОМатиЧЕОКОГО РЕГУЛИРОВаНИЯ его ЧУВСттВИтельности, коммутатора 4, таковихревого дефектоскопа 5 с амплитудно-частотныи анализатор«м б, сигналов мешающих факторов и

«лок 1 11рсо бтр 1зо в 111 ия 7, вт>тхо дных cillcllB Boll анализатора.

Устройство раоотает следующим образом.

Ультразвуковой дефектоскоп 2 совместно

15 с ЭМЛ преобразователем 1 работают на принципе бесконтактного излучения и приема ультразву ковых колебаний, основанном на взаимодействии вихревых токов, возбуждаемых в поверхностных слоях металла высоко21) частотной катушкой ЭМЛ .преобразователя, с магнитпь1м полем его магнита илп электромагнита. Пр:l этом обнаруживаются внутренние дефекты материала.

Под влиянием свойств материала (напри25 мер, электропроводностп, наличия дефектов в поверхностных слоях) и зазора изменяется плотность вихревых токов, возбуждаемых

BbIcoêo÷BñToòHoé катушкой ЭМЛ преобразователя 1, и, как следствие этого, чувствительзь ность ультразвукового контроля.

33985(Предмет изобретения

Составитель А. Духанин

Текред А. Камышннкова

Редактор В. Новоселова

Корректор T. Бабакина

Заказ 2630 Изд. № 721 Тира>к 448 Подписное

Г1НИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совстс Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская паб., д. 4/5

Загорская типография

Одновременно с изменением плотности вихревых токов происходит изменение параметров катушки ЭМА преобразователя 1 (активное сопротивление и индуктивность), которое регистрируется подключаемым к ней таковихревым дефектоокопом 5.

Тэковихре1вой дефектоокоп 5 обеспечивает выявление дефектов поверхности (например, путем выделения высокочастотных составляющих спектра сигнала за счет .использования модуляционного эффекта при сканировании поверхности) и выделение посредством анализатора б сигналов мешающих факторов (на пример, за счет выделения соответспвующих низкочастотных составляющих спектра огибающей сигнала с катушечки ЭМА преобразователя).

Блок 7 преобразует сигналы с выхода анализатора б в соответствии с нужным законом регулирования чувствительности дефектоскопа 2, которое осуществляется посредством схемы 8.

Подключение токовихревого дефектоско па 5 к высокочастотной катушке ЭМА преобр азователя 1 осуществляется непосредственно или через коммутатор 4. В последнем случае токовихревой дефектоскоп 5 ра ботает в паузе между излученными сигналами ультра звукового дефектоскопа 2. При непосредственном подключении токовихревого дефоктоскопа к катушке ЭМА преобразователя де5 фектоскоп 5 раоотает от генератора дефек,тоскопа 2.

1О Устройство для контроля электропроводящих мате риалов содержащее ультразвуковой дефектоскоп с электромагнитоакустическим преобразователем, схему автоматического регулирования чувствительности дефектоскопа, 15 отличающееся тем, что, с целью повышения достоверности и разрешающей способности контроля, в особенности при обнаружении поверхностных двфектов, оно снабжено подключенным к электроматнитоакустическому

2О преобразователю токовихревым дефектоокопом, связанным с его выходом амплитудночастотным анализатором сигналов, и блоком преобразования выходных сигналов анализатора, включенным между выходом анализа25 тора и входом схемы автоматического регу лирования чувствительности ультразвукового дефектоскопа.