Устройство для бесконтактного измерения площади поперечного сечения проволок

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

346569

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 08.I V.1970 (№ 1426232/18-10) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 28.VII.1972. Бюллетень № 23

Дата опубликования описания 28.VI I I.1972

М. Кл. G Olb 7/08

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 531.721.621 317.39:

:621.317.335 (088.8) Автор изобретения

М. М. Горбов

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПЛОЩАДИ

ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ ПРОВОЛОК

Предмет изобретения

Изобретение относится к средствам автоматического контроля промышленных процессов.

Известны устройства для бесконтактного измерения площади поперечного сечения проволок или среднего диаметра проволок круглого и эллиптического сечения, содержащие измерительный конденсатор, между пластинами которого пропускается контролируемая проволока. Эти устройства реагируют у.величением емкости конденсатора на увеличение площади сечения проволоки.

При малых расстояниях между обкладками конденсатора по сравнению с диаметром проволоки наблюдаются значительные погрешности от перемещения проволоки в плоскости, перпендикулярной обкладкам конденсатора.

При больших расстояниях между пластинами эта погрешность уменьшается, но резко уменьшается чувствительность устройства, и увеличиваются погрешности, вызванные изменением окружающих условий.

Для повышения относительной чувствительности и точности измерения в предлагаемом устройстве измерительный конденсатор выполнен в виде плоского конденсатора с отношением ширины пластин к расстоянию между его пластинами, находящимся в пределах от

0,3 до 1 5, причем ширина пластин более, чем на порядок больше диаметра проволоки, а проволока, помещенная между пластинаМИ конденсатора, заземлена.

На чертеже изображена принципиальная схема описываемого устройства.

Измеряемая заземленная проволока 1 помещена между обкладками измерительного конденсатора 2, который включен в уравновешенный мост переменного тока, выполненный по трансформаторной схеме и состоящий из транс10 форматора 8, образцового конденсатора 4, подстроечного конденсатора 5 и индикатора б.

Питается мост от генератора 7. При включении схемы подстроечным конденсатором уравновешивают мост. При внесении проволоки

15 ме.кду обкладками измерительного конденсатора емкость последнего уменьшается и появляется разбаланс моста. С помощью образцового конденсатора мост снова балансируется и по шкале образцового конденсатора опреде20 ляют площадь поперечного сечения проволоки.

Устройство для бесконтактного измерения

25 площади поперечного сечения проволок, содержащее трансформаторный мост с включенным в него измерительным конденсатором, отличаюи ееся тем, что, с целью повышения относительной чувствительности устройства и точно30 сти измерения, измерительный конденсатор

Составитель С. Ющенко

Техред Т, Ускова Корректор Л. Царькова

Редактор С. Хейфиц

Заказ 2650 9 Изд. ¹ 1170 Тираж 406 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва. 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 выполнен в виде двух пластин с отношением их ширины к расстоянию между ними, находящимся в пределах от 0,3 до 1,5, причем ширина пластин более чем на порядок больше диаметра проволоки, а проволока, помещенная между пластинами конденсатора, заземлена.

Устройство для бесконтактного измерения площади поперечного сечения проволок Устройство для бесконтактного измерения площади поперечного сечения проволок 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх