Способ воспроизведения фигурных рисунков

Авторы патента:

G06K15/14 - с помощью электрографии, например ксерографии; с помощью магнитографии

;т" - .=:=,зЫ,й

О П И "С А Н И Е

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

355635

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 20. т Н.1970 (№ 1461214/18-24) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 16,Х.1972. Бюллетень № 31

Дата опубликования описания 22.XI.1972

М. Кл. G 06k 15/14 комитет по делам тзобретений и аткрытиИ при Спеете Министров

СССР

УДК 681.327.11 (088.8) Авторы изобретения

В. C. Ионов, М. И. Смельницкий и А, А. Яншин

Заявитель

СПОСОБ ВОСПРОИЗВЕДЕНИЯ ФИГУРНЫХ РИСУНКОВ

h = h„, вЂ”: 100h ù, то

10 где

Изобретение относится к области изготовления блоков и узлов вычислительных программирующих устройств.

Известны способы воспроизведения рисунков, основанных на сканировании рисунков электронным лучом.

К недостаткам известных способов можно отнести большое количество информации, низкую точность .края линии по координате У и невысокую производительность.

Предлагаемый способ воспроизведения элементов рисунков позволяет получить повышенную производительность с наименьшим количеством информации и лучшим качеством обработки по сравнению с известными. По известному способу фигурный рисунок разбивают на отдельные фигурные элементы, сканируют рисунок строками вдоль длинной стороны элемента, проводят лучом вдоль остальных сторон элемента, уменьшают размер луча, а затем сканируют места резких изломов контура элемента.

Рисунок сложной конфигурации предварительно разбивается на отдельные элементы, например, прямоугольные треугольники, сектора и др., а затем с помощью, например, световой или электронной головки, снабженной устройством для изменения величины луча (инструмента), производится засветка необходимого рисунка. Э ффект от применения этого способа максимален, если повышени< производительности воспроизведения элементов не достигается за счет, например, резкого увеличения количества необходимой информа. ции.

Поскольку существующие размеры диафрагм оптических головок имеют диапазон изменения,примем соотношение

100h z„)/z)Iz,„ для воспроизведения основной площади фигуры.

Рассмотрим более подробно случай воспроизведения прямоугольного треугольника (фиг. 1,а). Суммарный путь,L при воспроизведении предлагаемым способом можно записать для рассматриваемого случая следуюгцпм образом:

+ L = 1лвс+ Lëë,ê+ вв,с + Lc,ññ, + ла+ + Оло

1.лвс вЂ” суммарный путь, который инструмент разме ром h,, совершае. при воспроизведении треугольника АВС, 355635

Предмет изобретения

Составитель T. Ничипорович

Редактор Л. Утехина Техред А. Камышиикова Корректоры: Л. Корогод и М. Коробова

Заказ 3664/11 Изд. № 1544 Тираж 406 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

LAAp;LBB,c,Lc,ññ,вЂ” суммарные пути, проходимые инструментом размером h; при выборке неровностей в углах треугольника

АВС.

LAo, LoAg пути, проходи,MbIe инструментом размером

/т1х при выборке неровностей вдоль катетов треугольника.

Суммарный путь инструмента можно записать как а=ар+ссхол, где ар вЂ” рабочий путь инструмента; ссх,л вЂ” холостой путь инструмента.

Из рассмотренного примера видно, что процесс воспроизведения фотоэлемента (ФЭ) состоит из следую цих основных этапов:

1) воспроизведения основной площади ФЭ инструментом Й„„, 2) выборки неровностей вдоль образующих сторон элемента инструментом h <, 3) выборки неровностей в областях резких изломов инструментом /1,, Аналогичный порядок действий требуется и при воспроизведении любых других ФЭ, например тех, которые приведены на фиг. 1 б, в.

Предлагаемый способ более производителен и требует меньшего количества информации при воспроизведении ФЭ.

Способ воспроизведения фигурных рисунков, основанный на сканировании рисунков электронным лучом, отличающийся тем, что, с целью сокращения времени, повышения точности воспроизведения, фигурный рисунок разбивают на отдельные фигурные элементы, сканируют рисунок строками вдоль длинной стороны элемента, проводят лучом вдоль остальных сторон элемента, уменьшают размер луча, а затем сканируют места резких изломов контура элемента.