Устройство для измерения параметров изоклщьг

 

Союз Советских

Социалистических

Реслт0лик

35S535

ОЛ ИСАН ИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

М. Кл. йв 01п 2144

Заявлено 15.711.197О (М 1468235/18-24) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет—

Опубликовано 23.Х 1972. Бюллетень № 32

Дата опубл икования описания 13.XII.1972

Комитет по делам изобретений и отнрытий ври Совете Мииистров

СССР

УДК 681.325(О88 8) Авторы изобретения

Н. В. Иванова, В, В. Казачковскнй, В. А. Пузиков, А. Н. Чубарев и В. А. Яковенко

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ИЗОКЛИЙ Ы

И ОПТИЧЕСКОЙ РАЗНОСТИ ХОДА В ОПТИЧЕСКИ АКТИВНЫХ

МАТЕРИАЛАХ С ОПРЕДЕЛЕНИЕМ ОПТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

В ТОЧКАХ ДОПОЛНИТЕЛЬНЫХ СЕЧЕНИЙ

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в автоматических поляримепрах.

Известные .автоматические поляриметры, определяющие оптические параметры по трем точкам: в точке исследуемого сечения и в двух точках до полнительных сечений, отстоящих от исследуемого на расстояние, которое за висит от градиента напряжений.

Предлагаемое устройство соде ржит источник света, поляризатор, компенсатор и анализатор, ра сположенные HB одной оптической оси, и фотоприемник и отличается тем, что, с целью упрощения процесса измерения, в нем между анализатором и фотолрием ником установлены при подключенные к пози ционному приводу перфорированных параллельных .диска, первый из которых выполнен с набором диафрагм, второй — с набором групповых отверстий, распределенных по диску B соответствии с расстояниями до точек дополнительных сечений, третий— с на бором опверстий для программного переключения.

Введение в автоматический поляриметр .специального устройства позволяет получать информа цию в основной и дополнительных точках исследуемого сечения с одной установки оптической головки прибора или модели.

На фи г. 1 изображена прин ципнальная схема устройства; на фиг. 2 — диск установки диа фрагмы; на фиг. 3 — диск установки расстояния до вспомогательного сече5 ния; на фиг. 4 — диск программного переключения.

Устройство содержит источник овета 1,,поляризатор 2, исследуемую модель из оптн чески актн вного материала 3, компенсатор

10 4, анализатор 5 и фотопрнемнпк б. Между анализатором и фотоприемником установлены при перфорированных диска 7 — 9, рас положенных на о дной оси и приводимых в движение позиционным приводом 10.

15 Диск 7 (см. фиг. 2) выполнен с набором дна|фрагм различных диаметров, размещенных на определенных расстояниях. Диск 8 (см. фиг. 3) содержит наборы групповых отверстий, диаметр которых превышает макси20 мальный диаметр диафра гмы. Отверстия расположены в определенной последовательности (группами по 3), соопветствующей определенному значению выбранного расстояния в направлении то ек исследуемого сечения

25 и дополнительны. сечений.

Диск 9 программного переключения (см. фиг. 4) имеет набор отверстий, который по зволяет в заданной последовательности открывать установленные диском 7 и выделензО ные диском 8 диафрагмы.

356535

Перед измерением оптических параметров в точках исследуемого сечения оптически чузствительной модели определяются расстояния до дополнительных сечений и их направление, которые устанавливаются с помощью диска 8. Затем устанавливается необходимый диамевр диафрагмы с помощью диска 7, и электронно-оптическая головка (или модель) вы водится в исходную точку (первую точку) исследуемого сечения. При соответствующем положении диска 9 поочередно открываются установленные диском 7 диафра гмы с заданным диском 8 расстоянием и определяются оптичеокие параметры для каждой из трех точек. Затем электрон|но-0IIITHческая головка (или модель) перемещается на у1ста но вленный шаг для о пределения оптических параметров в следующих трех точках исследуемого сечения.

Таким образом, с одной установки электронно-оптимической головки поляриметра (или модели) получается информация о напряженном .состоянии в трех точках исследуемой оптически-чувствительной модели.

Предмет изобретения

Устройство для измерения параметров изоклины и о птичеакой разности хода в оптически активных материалах с определением оптических параметров в точках дополни<0 тельных сечений, содержащее источник света, поляризатор, компенсатор и анализатор, расположенные на одной оптической оси, и фотоприемни к, отличаюш,ееся тем, что, с целью упрощения процеоса измерения, в нем между анализато|ром и фотоприемником установлены три подключенные к позиционному при воду перфорированных параллельных диака, первый из которых вы полнен с на бором диафрагм, второй — с набором

20 групповых отверстий, распределенных по диску в соответствии с расстоянием до точек дополнительных сечений, третий — с набором отверстий для программного переключения.

356535

Фиг. 4

Фиг 5

Составитель О. Поваго

Техред А. Евдонов

Корректор О. Тюрина

Редактор Т. Семанова

Тип. Харьк. фил. пред. «Патент>

Заказ 559/2069 Изд. № 1596 Тираж 406 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, K-35, Раушская наб., д. 4/5

Устройство для измерения параметров изоклщьг Устройство для измерения параметров изоклщьг Устройство для измерения параметров изоклщьг 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к горной автоматике и к полярископам и поляриметрам и может быть использовано для определения коэффициента линейной поляризации света при отражении от аморфных полупроводниковых покрытий для создания на этой основе светильников, которые могут быть использованы для наблюдения объектов в условиях пыли и тумана и для исследования и наблюдения деформируемости горных пород в массивах

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для исследования оптической активности жидких и твердых сред

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств поверхности и может быть использовано для измерения физических постоянных и параметров материалов

Изобретение относится к фотоэлектрическим поляриметрам и может быть использовано для измерения концентраций оптически активных веществ в медицине, химии, биологии, пищевой промышленности

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к оптикоэлектронному приборостроению и предназначено для измерения и исследования тонкопленочных структур и оптических констант поверхностей различных материалов путем анализа поляризации отраженного образцом светового пучка

Изобретение относится к методам измерения параметров электромагнитного излучения

Изобретение относится к оптическому приборостроению, конкретно к поляриметрическим устройствам для измерения оптической активности веществ, и может быть использовано для промышленного контроля и научных исследований в аналитической химии, биотехнологии и медицине

Изобретение относится к области технической физики и касается способов измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения, вызываемых изменением поляризационных свойств поляризующих элементов либо воздействием на азимут поляризации оптически активным веществом
Наверх