Способ фридмана толщинометрии пустотелых электропроводящих изделий

 

G Л И, C, À""H .È Е

ЛЗОВРЕтениЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

3595О6

Союз Советскик

Социалистическик

Республик

Зависимое от авт. свидетельства Мо—

Заявлено 18.Х1.1970 (№ 1491038/25-28) с присоединением заявки Ы

Приоритет—

Опубликовано 21.Х1.1972. Бюллетень Мо 35

Дата опубликования описания 3.1.1973.

М.Кл. G 01Ь 7/06

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 621.317:531.717.11 (088.8) Автор изобретения

Б. П. Фридман

Уфимский авиационный институт им. Серго Орджоникидзе

Заявитель

СПОСОБ ФРИДМАНА ТОЛЩИНОМЕТРИИ

ПУСТОТЕЛЫХ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ИЗДЕЛИЙ

Изобретение относится к неразрушающему зоонтролю,материалов,и изделий и .может быть иапользовано в толщинометрии,изделий из пара- и диаамагнитных материалов.

Известны способы контактной толщинометри и стенок полых, изделий, основанные на определен:ии толщины стенки по соп,,ротивлению контролируемого участка детали матнитному потоку. Таковы, например, способ с вводимым в полость детали изолированным вспомогательньгм телом — стальным шариком, а также способ,,использующий,введение в полость контролируемой детали магнитопроводящего порошка.

Известны способы контактной толщинометрии, которые используются для ко нтроля стенок деталей, измерения элек трггческого сопротивления некоторого объема, контролируемой стенками при приложен ни к двум точкам, расположенньгм на внешней поверхности детали, и разности потенциалов (односторонний контроль), что осуществляется с помощью двух вооеш них контактных щупов.

Известны способы магнитной толщинометр ии, использующие введение BIIIQJlolcTb изделия изолированного стального тела,,котоpbIе о днако обладают низкой точностью изкмерен ия толщины, что связано с .высоким коэффициентом рассеяния магнитного потока и ограничивает область эффективного применения соответтст2 вующего способа лишь случаями, когда толщина стенок контролируемых объектов;имеет вел: чину, порядка долей миллиметра.

Применение способа, использующего введение в полость исследуемой детали магнитного порошка, требует специального вспомогательного технологического, оборудования для

:введения и изъятия из полости детали магнитного агента, а также применения электрон|ного

jp измерительного блока.

Недостатком применяемого способа измерения толщины стенок полых деталей, осуществляемого,путем контроля электрического сопротивления между двумя точками на внешней поверхности изделия, являетоя то обстоятельство, что вследствие контроля сложной, распределеH!HDII в значительном объеме проводимости стенки, детали между двумя внешними контактирующими с измерительной целью точкамы, результат замера стпределяется,не столько толщиной стенки на участке, сколько общей конфигурацией поверхностей;и профиля детали, а та|еже точностью ориентации KQHTBKTHblx щупо,в.

С целью повышения точности,и;падеж ности контроля п осредствоот автоматической ориентации контактных щупов по предлагаемому оп особу конта)кт ные щу|пы (Бнедн ий,и вн утренн ий) оснащают ферромагнитными, скользящи,ми,по поверхности издели я, насадками задан359506

П р е д;и е т и з о б р е т е н,и я

Составитель А. Духанин

Техред А. Евдоиов

Редактор В. Новоселова

Корректор Е. Михеева

Заказ № 5664 Изд. № 1777 Тираж 406 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

Загорская типография

3 ной формы,,например,сферической, а между ними создают пс "тоянное магнитное поле.

Предлагаемый способ иллюстрируется чсртежом.

Подлежащий контролю участок стенки исследуемой детали 1 двусторонне охватывается гальванической измерительной IHclBbIo, составленной внешним щупом с ферромагнитной насадкой 2, серебряным троси ком 8, в |разрыв коПОРОИ О IB BO+IHITICH IMHI&4PIOIBMIIIQPli r CVP (МИКРООМметр) 4, и внутренним щупом с насадкой 5.

Пр и измерении толщины стенок, пустотелых изделнй QBBlcTIolK тросика 8 с BIHQITlpBHIHIBH сфер1ической насадкой 5 щупа .вводится;в лоло сть контролируемого;и зделия. Если, внешний щуп не представляет собой постоянного магнита, то тумблером 6 подают от источника 7 постоянное напряжение на элекпро магнит 8, при этом че рез м икроомметр 4 и связанные с .ним участки измерительной цепи, составленной тросиком 8, IcgcIpiHITeaxHvH на садками 2 и 5 щ у по в и ysi@cTком стенки детали 1, цроходит ток от стабилизированного источнлка н ал ряжен ия 7.

О моменте, соответствующем взаимоп ритяжению обоих щупов и установлению и х IHa кратчайшем д ру г от gtpyra ра сспоян ин, судят по мик1роом метру 4, стрелка которого в указан"«. г

4 пый момент имеет максимальное отклонение.

Перемещая, насадку 2 по поверхности детали 1 к точкаи, подлежащим контролю, и вызывая тем самым одновременное автомапическое перемещение насадки 5 внутреннего щупа, Ipeзультаты измерений фиксируют по показаниям стрелки микроомметра 4, шкала которото заранее прадуярсвгна с учетом матер(пала детали в

c 3iiIl illi,! Y толщины.

Способ толщиномевр ии пустотелых элекi5 трот роводящ их изделий, заключающийоя в том, что создают замкнутую гальваническую цепь, ггреднааначеывую для включения IH нее изме ряемо1го изделия с помощью контактных щуIIIoIB, рBilHIcTplHipgMT,п рoIBopJHIMIoicTb этой цепи и

26 по ней судят об измеряемой толщине, отличаюи4ийся тем, что, с целью повышения точности и надежности контроля, контактные щупы.(внешний iH внутренний) оснащают фе рромагнитными, скользящими по по ве рхности иэделия насадками зада иной формы,,например, сферической, а между, ними создают постоянное, магнитное,поле.

Способ фридмана толщинометрии пустотелых электропроводящих изделий Способ фридмана толщинометрии пустотелых электропроводящих изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх