Способ^^сканирования изделия при вихрхтоковой дефектоскопии

 

37I502

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 07.Ч1.1971 (¹ 1667922/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 22.11.1973. Бюллетень № 12

Дата опубликования описания 12.V.1973

М. Кл. G 01п 27/86

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете слинистрав

СССР

УДК 620.179.14 (088.8) Автор изобретения

Заявитель

С. А. Обручков

Всесоюзный научно-исследовательский институт по разработке неразрушающих методов и средств контроля качества материалов

СПОСОБ,СКАНИРОВАНИЯ ИЗДЕЛИЯ

ПРИ ВИХР ТОКОВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ

Предмет изобретения

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и может быль использовано для контроля листов, полос, труб,.штанг и т. д.

Известен способ сканирования изделия при вихретоковой дефектоскопии, заключающийся в том, что контролируемое изделие располагают в зоне контроля и возбуждают в этой зоне электромагнитное поле посредством индукторов, которые питают сдвинутыми по фазе синусоидальными сигналами. Однако указанный способ может быть использован лишь для контроля |изделий из магнитных материалов, на поверхности которых образуются поля рассеивания от дефектных участков. Кроме того, этот способ не дает необходимой надежности контроля. Цель изобретения — расширение диапазона контролируемых материалов и повышение надежности контроля. Для этого индукторы питают высокочастотными синусо идальными сигналами, модулированными низкой частотой.

На чертеже представлена блок-схема устройства, реализующего предлагаемый способ.

Устройство содержит генератор 1 высокой частоты, многофазный генератор 2 низкой частоты, подключенные к модуляционному устройству 3, к выходу которого подключены элементы 4, 5 и б нагрузки (напртнмр, индуктивноствт), расп оложенные .над конпролируемым изделием 7.

Устройство функционирует следующ|им образом.

5 Напряжение высокой частоты с генератора

1 и напряжение низкой частоты с генератора

2 подаются на устройство 8 с выходами, питающими элементы 4, 5 и б возбуждения отдельных участков изделия 7, посылками вы10 сокочастотного электромагнитного поля. Форма огибающей, ча стота следования и фазовый сдвиг последних определяются соотношением параметров токов возбуждения элементов 4, 5и б.

Способ сканирования изделия при вихретоковой дефектоскопии, заключающийся в том, 20 что контролируемое изделие располагают в зоне контроля и возбуждают в этой зоне электромагнитное поле посредством индукторов, которые питают сдвинутыми по фазе синусоидальными сигналами, отличающийся тем, что, 25 с целью расширения диапазона контролируемых материалов и повышения надежности контроля, индукторы питают высокочастотными оинусоидальными сигналами, модулированными низкой частотой.

37!502

Составитель А. Духайин

Техред Л. Богданова

Корректор Л Вадылама

Редактор Н. Воликова

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ Я301/17 Изд. Ко 1212 Тираж 755 Прдписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий прй Совете Министров СССР

Мо сава, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5