Измерительный конденсатор для исследования диэлектрических свойств материалов
Союз Советскиз
Содиалистическиа
Республик
Зависимое от авт. свидетельства № 334489
Заявлено 05. т/11.1971 (№ 1676257/26-9) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 22.11.197 3. Бюллетень ¹ 12
Дата опубликования описания 12.IV.1973
М. K,.(. G 01г 27/26
Комитет по делам изобретений и открытий при Совете 1йииистрсе
ССОР
УДК 621.319.42(088.8) И. Г. Матис (I
Институт механики полимеров AH Латвийской ССР т
Автор изобретения
Заявитель
ИЗМЕРИТЕЛЪНЪ1Й КОНДЕНСАТОР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ
ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ
Предмет изобретения
Изобретение может быть использовано в электроизмерительной технике для измерения диэлектрических свойств материалов.
Известен измерительный конденсатор для исследования диэлектрических свойств материалов по основному авт. св. № 334489.
Цель изобретения — расширение возможностей применения конденсатора.
Это достигается тем, что электроды конденсатора расположены па торцовой поверхности подпружиненного цилиндрического основания, размещенного в подвижной относительно контролируемой площади оправе.
На фиг. 1 изображена конструкция измерительного конденсатора в двух проекциях; на фиг. 2 — электрическая схема включения его; на фиг. 3 — графики, поясняющие работу конденсатора.
Конденсатор содержит высокопотенциальный 1, переключаемый 2 и низкопотенциальный 8 электроды, которые закреплены на изоляционном основании 4, служащим одновременно рукояткой конденсатора. Нижнюю часть этого основания обхватывает подвижная относительно оси конденсатора оправа 5, закрепленная на пружинах б, которые, прижимая оправу к контролируемому сферическому изделию 7, устанавливают плоскость электродов перпендикулярно нормали поверхности в центре контролируемой площади.
Электрическая схема включения конденсатора предусматривает постоянное подключение электродов 1 и 8 к соответствующим зажимам измерителя параметров конденсатора.
Электрод в положении I двухпозиционного переключателя 8 подсоединен к высокопотенциальному зажиму, т. е. измерительный конденсатор включен на большую глубину проникновения тока в исследуемый материал, а в положении II — к низкопотенциальному зажи10 му, т. е. »а малую глубину проникновения тока.
Кривой 9 представлена зависимость емкости измерительного конденсатора от радиуса сферической контролируемой поверхности при
15 малой глубине проникновения тока, кривая
l0 — при большой глубине тока, кривой 11— та же зависимость для разности обоих замеров емкости.
Как видно из кривой 11 зависимость разно20 сти емкости имеет участок, где чувствительность к изменению радиуса контролируемой поверхности равна нулю (заштрихованная зона) . Поэтому(в пределах от Р„„„, до Лыаис Возможно измерение диэлектрической проницае25 мости с компенсацией изменения радиуса контролируемой сферической поверхности.
ЗО Измерительный конденсатор для исследования диэлектрических свойств материалов по
371533 мин ИОКИ.
Составитель М. Порфирова
Техред Л. Богданова Корректоры: H. Прокуратова и Л. Бадылама
Редактор E. Дайч
Заказ 932/15 Изд. № 1245 Тираж 755 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, K-35, Раушская наб., д. 4l5
Типография, пр. Сапунова, 2 авт. св. № 334489, отличающийся тем, что, с целью расширения возможностей применения, электроды расположены на торцовой поверхности подпружиненного цилиндрического основания, размещенного в подвижной относительно контролируемой площади оправе.
