Интерферометр для контроля качества оптических

 

О П И С А Н И Е 3735!9

И ЗОБРЕТЕ Н ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

М.Кл. 6 01b 9, 02

Заявлено 06.1V.1971 (№ 1644726/25-28) с присоединением заявки № ——

Комитет по делам иаабретеиий H открытий ари Совете 1линаатрав

СеС1

Приоритет—

Опубликовано 12.111.1973. Бюллетень № 14

Дата опубликования описания 19Х11.1973

УДК 531.715.1 (088.8) Авторы изобретения

Д. Т. Пуряев и Н. Л. Лазарева

Заявитель

Московское ордена Ленина и ордена Трудового Красного Знамени высшее техническое училище им Н. Э. Баумана „

ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ОПТИЧЕСКИХ

ДЕТАЛЕЙ

Изобретение относится к области orrrнческоro приборостроения и предназначено для контроля оптических деталей, например, асферических зеркал и линз большого диаметра.

Известен интерферометр для контроля качества оптических деталей, например асфернческих зеркал и линз большого диаметра, содержащий монохроматический источник света, например, оптический квантовый генератор, объектив, создающий точечный источник света, светоделительцый блок в виде плоскопараллельной пластинки, эталонную, рабочую и наблюдательные ветви и компенсатор, установленный в рабочей ветви.

В известном интерферометре эталонный волновой фронт и волновой фронт сравнения создаются с помощью светоделительного элемента — плоскопараллельной пластинки, к которому предъявляются высокие требования к точности его изготовления и установки в интерферометре.

Кроме того, эталонный волновой фронт в известном интерферометре создается с помощью специальной оптической детали — сферического или плоского зеркала, установленного в эталонной ветви.

Нал|ичие высокоча5стотного разделительного элемента и эталонной ветви усложняет конструкцию интерферометра.

Предлагаемый интерферометр отличается от

5 зве<лного reir, что, с цечью x проитения его, компенсятор установлен между ооъективом и контролируемой деталью и выполнен так, что центр кривизны первой вогнутой сферической

5 r.orråpõrroñòè компенсатора совмещен с задним фокусом объектива, и лучи, отраженные от этой поверх55ости, создают эталонный волновой фронт сравнения. я .1учи. пре,чомленные или отражешияе при участии всего компенсаI0 торя в целом — — эталонный волновой фронт заданной формы; кроме того, с целью контроля менисковых положительных линз, компенсятор выполие в виде плосковогнутой линзы, плоская поверхность которой обращена и конгро15 лпруемой линзе.

Ня фиг. 1 изображена принципиальная схема интерферометра; на фиг. 2 — ряоочая пствь пнтерферометра прп контроле менисконых положительных линз.

20 Иптерфсрометр содержит монохроматический источник света 1, например, оптический квантовый генератор, полупрозрач ную пластинку 2, объектив 3, компенсатор 4, экран,);

6 — контролируемая деталь, например, линза

2) большого диаметра.

Рабочая ветвь образована компенсатором 4

r оптролирусмой детальm О, паолюдательная -- экраном 5.

Работает предлагаемый интерферометр сле30 lу5oщHм образом.

373519

Параллельный пучок лучей, идущий из оптического квантового генератора, проходит через полупрозрачную пластинку 2 и направляется к объективу 8, который фокусирует лучи в заднем фокусе F . После объектива 8 рас- 5 положен компенсатор 4, у которого первая поверхность является вогнутой сферической, причем центр кривизны С этой поверхности совмещен с задним фокусом F объектива 8.

Лучи, отраженные от первой поверхности ком- 10 пенсатора, создают эталонный сферический волновой фронт сравнения. Преломленные компенсатором лучи после выхода из него также создают эталонный волновой фронт, форма которого определяется параметрами контро- 15 лируемой детали. Например, для случая, изображенного на фиг. 1, волновой фронт, выходящий из компенсатора, является асферическим, но после преломления на первой поверхности контролируемой линзы б преобразуется 20 в сферический, совпадающий с теоретической формой второй, выпуклой поверхности линзы б. Поэтому после отражения от нее лучи повторяют свой путь в обратном направлении и интерферируют с лучами, отраженными от 25 первой поверхности компеисатора 4. По возникающей интерференционной картине, которую наблюдают при помощи экрана 5, делают заключение о качестве контролируемой детали.

Отличительной особенностью интерферомет-;10 ра является устройство и положение компеисатора, с помощью которого одновременно создаются два эталонных волновых фронта: сферический волновой фронт сравнения и рабочий волновой фронт, форма которого определяется 35 параметрами контролируемой детали.

К полупрозрачной пластинке 2 и объективу 8 не предъявляются высокие требования, так как через них всегда проходят только совмещенные пучки лучей. Поэтому в предлагае- 40 мом интерферометре, в отличие от известных, содержится только одна деталь, к которой предъявляются высокие требования, — — компенсатор .

Интерферометр может быть применен для контроля качества вогнутых асферических поверхностей и линз большого диаметра. На фиг. 2 показано взаимное расположение компенсатора 4 в виде плосковогнутой линзы и менисковой линзы б, диаметр которой в несколько раз превышает диаметр компенсатора 4.

Предлагаемый интерферометр позволяет с помощью компенсатора малого диаметра получить интерференционную картину одновременно всей контролируемой поверхности, а ие отдельных ее участков, что повышает падежIIOCTb И ТОЧНОСТЬ KOHTPOJISI.

Предмет изобретения

1. Интерферометр для контроля качества оптических деталей, например, асферических зеркал и линз большого диаметра, содержащий монохроматический источник света, например, оптический квантовый генератор, обьектив, создающий точечный источник света, рабочую н наблюдательные ветви, и линзовый компенсатор, отличающийся тем, что, с целью упрощения интерферометра, компенсатор установлен между объективом и контролируемой деталью и выполнен так, что центр кривизны первой вогнутой сферической поверхности компенсатора совмещен с задним фокусом обьектива, и лучи, отраженные от этой поверхности, создают эталонный волновой фронт сравнения, а лучи, преломленные пли отраженные при участии всего компенсатора в целом, — — эталонный волновой фронт заданной формы.

2, Интерферометр по и. 1, отличшощийся тем, что, с целью контроля меписковых положительных линз, компенсатор выполнен в виде плосковогнутой линзы, плоская поверхность которой обращена к контролируемой линзе.

373519

Составитель Лобзова

Редактор Н. Перышкова Техред Т. Курилко Корректоры Л. Царькова и Т. Гревцова

Заказ 2527 Изд. № 1278 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Комитечва по делам изобрете пй и открытий цри Совете Министров СССР

Москва, 34-35, Раушская няб., д. 4 5

Обч. тип. Костромского управчения издательств, полиграфии и книжной торговли

Интерферометр для контроля качества оптических Интерферометр для контроля качества оптических Интерферометр для контроля качества оптических 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения с высокой точностью показателей преломления изотропных и анизотропных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для высокоточных измерений малых угловых перемещений в специальных геодезических работах, в точных геофизических измерениях и при производстве крупногабаритных изделий в качестве контрольно-измерительной аппаратуры

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к двухэкспозиционной голографической интерферометрии, и может быть использовано при исследовании вибраций объектов, в том числе вращающихся, и других процессов

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области волоконной оптики и может быть использовано при конструировании электронного блока обработки информации волоконно-оптического гироскопа, а также других датчиков физических величин на основе кольцевого интерферометра

Изобретение относится к интерферометрам и может быть использовано для абсолютного измерения линейной длины отрезков

Изобретение относится к волоконно-оптическим автоколебательным системам на основе микромеханического резонатора, возбуждаемого светом, и может быть использовано в системах измерения различных физических величин, например, концентрации газов, температуры, давления и др

Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и может использоваться в скоростных дифрактометрах
Наверх