Интерференционный светофильтр
О П И С А H И Е 386363
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
СОциалистммеских
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 04.Х.1971 (Эй 1703001/18-1 0) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 14.VI.1973. Бюллетень № 26
Дата опубликования описания 21.1Х.1973
М. Кл. G 02b 5/28
Государстеенныи комитет
Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
УДК 535.345.67 (088.8) Авторы изобретения
Л. Б. Кацнельсон и Ш. А. Фурман
Заявитель
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫй СВЕТОФИЛЬТР
Известны интерференционные светофильтры, содержащие подложку с нанесенным на ней и терференционным покрытием из чередующихся слосв с высоким и низким показателями преломления и оптической толщиной последнего слоя, в два раза меньшей предыдущих.
В предлагаемом светофильтре между подложкой и первым слоем с высоким показателем преломления введен дополнительный слой с тем же показателем преломления и onòè÷åской толщиной в два раза большей.
Такое выполнение обеспечивает получение высокого пропускапия светофильтра для заданной длины волны.
На фиг. 1 и 2 изображены спектральные кривые пропускапия светофильтров из чередующихся слоев сернистого цинка, имеющего высокий пот<азателъ преломления (B), и криолита с низким показателем преломления (Н) па подложке П из стекла К-8. По оси абцисс отложена длина волны л в относительных единицах л/ло, где Хо соответствует середине зоны низко;о пропускапия, по оси ординат показан коеффициент пропускания T.
На фиг. 1 цифрой 1 обозначена теоретическая кривая 16-тислойного отрезающего фильтра известной конструкции 16ПВНВНВ
НВНВНВНВНВО, 5Н; 2 — теоретическая кривая фильтра, выполненного по данному изобретению.
На фиг. 2 цифрой 8 обозначена кривая покрытия 16ПВНВ.... ПВО, 5Н, полученная с
5 учетом погрешности изготовления; 4 — кривая предлагаемого фильтра, полученная для таких же погрешностей, что и кривая 3.
Светофильтр представляет собой подложку, на которой расположено иптерферепционное
10 оптическое покрытие. Подложка выполнена из материала прозрачного в спектральной зоне высокого пропускания фильтра. Покрытие состоит из чередующихся слоев с высоким пв и низким ин показателями преломления. Непо15 средственно к подложке примыкает слой с показателем преломления, равным )гв. Его оптическая толщина в три раза больше толщины всех последующих слоев, кроме последнего.
Фильтр можно изготовить, например, путем
20 термического испарения в вакууме сернистого цинка (п=пв) и криолита (а=ли), либо селенида цинка (n=nn) и фтористого стронция (п=ин), либо другой пары веществ. Дополнительный слой на подложке, имеющий по
25 сравнению с прилегающими слоями двойную толщину, позволяет па 25 — 45% уменьшить глубину провала, расположенного на спектральной кривой пропускания фильтра между двумя ближайшими к зоне отрезания корот30 Коволповыми максимумами пропускания, 386363
Предмет изобретения т%
085 07 75 08 085 0У Щ f0 А
l% Ф /
085 07 075 08 085 0У 0Н 10
Фи8. 2
Составитель С. Степанова
Техред Л, Грачева
Корректоры: В. Петрова и Е. Давыдкина
Редактор С. Хейфиц
Заказ 2432/9 Изд. № 1643 Тираж 551 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2
Интерференционный светофильтр, содержащий подложку с нанесенным на ней интерференционным покрытием из чередующихся слоев с высоким и низким показателями преломления и оптической толщиной последнего слоя, в два раза меньшей предыдущих, отличиюи ийся тем, что, с целью получения высокого пропускания для заданной длины волны, между подложкой и первым слоем с высоким показателем преломления введен дополнительный слой с тем же показателем преломления и оптической толщиной, в два раза большей.
