Способ определения молекулярного веса полимеров

 

яу

387264

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ—

Союз Советских

Социалистических

Республик

- Зависимое от авт. -свидетельства №вЂ”

Заявлено 13.1.1972 (№ 1738375/2G-25) с присоединением заявки ¹â€”

Приоритет

Опубликовано 21.Ч1.1973. Бюллетень № 27

Дата опубликования описания 13.XI.1973

М: Кл. G 01п 13/00

Государственный комитет

Совета Министров СССР па делам изобретений и открытий

УДК 541.24 (088.8) Авторы изобретения

А. А. Кирияиенко, В. А. Груздев.и Л. П. Лютин

Институт теплофизики Сибирского отделения АН СССР

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОЛЕКУЛЯРНОГО

ВЕСА ПОЛИМЕРОВ

Изобретение относится к метода м физи кохи мичеокого анализа .высокомолекулярных сое ди нений, tB ча стности IK измерению мюлекулярного веса полимеров.

Известен способ определения молекулярного веса полимеров (метод Ленгмюра), по которому молекулярный вес оценивают по поверхностному натяжению мономолекулярных пленок.

Предлагаемый способ позволяет расширить слои исследуемых полимеров и упростить методику анализа и состоит в том, что молекулярный вес полимера определяют по поверхностному натяжению епо раст воро в, для чего последовательно определяют поверхностное натяжение раствора с известной концентрацией полимера, концентрационную зависимость поверхностного натяжения растворов полимера-эталона из того же гомологичеокого ряда с известным молекулярным весом и в том же растворителе, а искомую величину находят по расчетной формуле.

Предлагаемый способ реализуют следующим образом.

Экспериментально определяют концентрационную зависимость поверхностного натяжения растворов полимера-эталона при постоянной температуре (изотерму поверхностного натяжения). При той же температуре экспериментально определяют поверхностное натяжение растворов с известной концентрацией полимеров с неизвестным молекулярным весом.

По изотерме поверхностного натяжения растворов эталона находят концентрации растворов эталона, удовлетворяющих условию:

5 рп о рэ =o о ""0 а молекулярный вес полимера рассчитывают по формуле:

1О П

Л4п — Ров

С, где М вЂ” молекулярный вес полимера, C — весовая концентрация полимера в растворе, 1 5 С, — весовая концентрация полимераэталона в растворе, которая дает такое же изменение поверхностного натяжения, как испытуемый полимер при концентрации С . При этом область концентраций растворов, в кото рой способ дает удовлетворительные результаты, лежит в пределах 7 10 — — — 20 10- г моль/л.

Предмет изобретения

25 Способ определения молекулярного веса полимеров путем приготовления .рабочего раствора полимера известной концентрации, эталонного раствора, с известным молекулярным весом полимера, отличающийся тем, что, с

ЗО целью расширения класса анализируемых полимеров, определяют поверхностное натяже387264

Сп Ил Р1 с

Составитель В. Вощанкин

Техред 3. Тараненко

Редактор А. Батыгин

Корректоры: Н. Аук и В. Федулова

Заказ 2947 3 Изд, № 802 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, 3(-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 ние рабочего раствора, концентрационную зависимость поверхностного натяжения эталонного раствора, в котором полимер выбран из того же гомологического ряда, что и испытуемый, а искомую величину находят по формуле: где ф— весовая концентрация полимера в

ipa6oi eM рас пво ре, С, — весовая концентрация полимера в эталонном растворе, которой соответствует такое же изменение поверхностного натяжения, как и исследуемый полимер при концентрации Сп — М, — молекулярный вес полимера-эталона.

Способ определения молекулярного веса полимеров Способ определения молекулярного веса полимеров 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к способам определения молекулярно-массового распределения как линейных полимеров, так и межузловых цепей сетчатых полимеров

Изобретение относится к технологии материалов электронной техники, в частности к способам определения полярных граней полупроводниковых соединений типа AIIIBV (InSb, GaSb, InAs, GaAs, InP и Gap) и может быть использовано для ориентации монокристаллических слитков и пластин

Изобретение относится к оптической контрольно-измерительной технике и может быть использовано для физико-химического анализа жидкостей и поверхности твердых тел, в частности для определения смачивающей способности жидкости, изучения процессов растекания и испарения жидкостей, для определения коэффициента поверхностного натяжения жидкостей
Изобретение относится к области физики поверхностей

Изобретение относится к физике и химии поверхностных явлений и может быть использовано для определения параметров двойного электрического слоя на границе фаз

Изобретение относится к области исследования материалов, а именно к устройствам для испытания смазочных масел

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к пневматическим устройствам для измерения поверхностного натяжения жидкостей, и может найти применение в таких отраслях промышленности, как химическая, лакокрасочная и пищевая промышленность

Изобретение относится к области подготовки нефтей и разрушения водонефтяных эмульсий, стабилизированных природными эмульгаторами и различными видами механических примесей
Наверх