Способ включения газового фотоэлемента

 

№ 48885

Класс 21g, 29

АВТОРСКОЕ СВИДЕТЕЛЬСТВП НА ИЗОБРЕТЕНИЕ

ОПИСАНИЕ способа включения газового фотоэлемента.

К авторскому свидетельству П. В. Тимофеева и М. М. Бутслова, заявленному 27 мая 1935 года (спр. о перв. № 170135).

0 выдаче авторского свидетельства опубликовано 31 августа 1936 года.

П р едмет изоб ретения.

Тн и., Печатный Труд . Зак. 6066 — 5Ю

Предлагаемое изобретение касается способа включения газового фотоэлеменга с дополнительным не фотоактивным электродом, предназначенным для отведения на него положительных ионов во время ионизации газов.

Применение предлагаемого способа для сферического и цилиндрического фотоэлементов изображено на фиг. 1 и 2.

На фиг. 1 анод А представляет собой кольцо, сделанное из тонкой проволоки, З вЂ” дополнительный электрод-экран, изготовленный в виде диска из металла с большой работой выхода электронов и К вЂ” фото-катод. При указанной, на фиг. 1 схеме необходимо для заданных размеров катода К подобрать расстояние между электродами так, чтобы большая часть положительных ионов попадала на дополнительный электрод 3. Расположение электродов в цилиндрическом фотоэлементе изображено на фиг. 2, где А— анод, представляющий собой тонкую проволоку, натянутую по направлению оси цилиндра и расположенную вблизи окна фотоэлемента, 9, и 9g — дополнительные электроды, представляющие собой экранирующие катод К пластинки, сделанные из металла с большой работой выхода и расположенные, как указано на фиг. 2. Э

Для отведения положительных ионов во время ионизации газа на дополнительный электрод, последний соединяют с катодом или подают на него отрицательный потенциал.

Способ включения газового фотоэлемента с дополнительным не фотоактивным электродом, отличающийся тем, что дополнительный электрод соединяют с катодом или подают на него отрицательный потенциал, с целью отведения на него положительных ионов, во время ионизации газа.

Способ включения газового фотоэлемента 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к способам испытания блоков фотоэлементов, а точнее к способам испытания целостности или испытания на наличие вышедшего из строя элемента в матрицах фотоэлементов
Наверх