В п т б

 

Соеэ Советских

Социалистических

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

40б!72

Зависимое от авт, свидетельства ¹â€”

Заявлено 11.ÕI.1971 (№ 1713658/26-9) с присоединением заявки ¹â€”

Приоритет—

Опубликовано 05.XI.1973. Бюллетень № 45

М.Кл. б 0lt 27128

Гасударственный камитат

Саввта Министрав СССР иа делам иэабретений и атирытий

УД К 621.317.341.3(088.8) Дата опубликования описания ЗО.VII.1974.

Авторы изобретения

Заявитель институт метрологии

УСТРОИСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОСЛАБЛЕНИЯ

ПРОХОДНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ СВЧ В ПОЛОСЕ ЧАСТОТ

Изобретение относится к радиоизмерительной технике СВЧ.

Известны устройства для измерения ослаблсния проходных элементов СВ -1 в полосе частот, в которых измеряемый элемент вкл1очают между двумя датчиками проходящей мощности. При одинаковых частотных характерисTIIKBx датчиков ослабления определяют по отношению показаний датчиков. Однако эти устройства характеризуются значительной погрешностью измерения, часть которой обусловлена рассогласованием. (собственным отражением датчиков, нагрузки переходных элементов и др.). Прн измерении малых ослаблений погрешность рассогласования является доминируюгцей, и уменьшение ее применением прецизионных элементов с малым собственным отрахкепием не всегда возможно.

Известен ЧМ-рефлектомстр для измерения модуля коэффицие1гга отражения нерегулярностей в передающих линиях и оконечш.х устройств СВЧ диапазона.

Метод ЧМ-рефлектометрии заключается в следующем: в исследуему|о систему с распределенными источниками отражения излучают сигнал постоянной амплитуды с модуляцией частоты по линейному (пилообразному) закону; отраженный от нерегулярнбстей сигнал смешивается с излученнпым, и сигнал разностной частоты (биений) подается на индикаторный канал. Вследствие линейности ЧМ частота биений строго пропорциональна расстоянию до исследуемой нерегулярности, т е. спектр биений повторяет распределение источников отражения вдоль исследуемой линии. Это позволяет с помощью НЧ перестраиваемого полосового фильтра выделить любой конкретный источник отражения и по амплитуде биений определить значение этого отражения.

10 Измерив изменение в течение периода ЧМ зондирующего сивка та амплитуды конкретных биении (например, с помощью осциллографа с разверткой, синхронизированной с периодом ЧМ), т. е. его огибающую, можно выявить

15 и частотную зависимость модуля коэффициента отражения соответствующеи нерегуляр ости.

Однако известное устройстьо не измерять ослабление проходных

СВЧ.

Цель изобретения — устранение погрешности рассогласования при измерении ослабления проходных элементов СВЧ в полосе частот.

Предлагаемое устройство отличается тем, что ЧМ-рефлектометр использован в совокупности с подключенной к выходу измеряемого элемента калиброванной по коэффициенту отражения СВЧ-нагрузкой (мерой КСВ), представляющей собои некоторую расчетную нереЗО гулярность (индуктивного, емкостного или

406172

Составитель Т. Перова

Техред 3. Тараненко Корректор М, Лейзерман

Редактор Б. Федотов

Заказ 1224 Изд. ЭЙ 248 Тираж 743 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений н открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб,, д. 4/5

Мытищинская тнпографня смешанного типа) в отрезке передающей линии или отрезок передающей линии, нагруженной калиброванным активным сопротивлением.

Меры КСВ выпускаются серийно; они предназначены для настройки, поверки и калиб( ровки измерителей КСВ в полосе частот.

Блок-схема устройства представлена на чертеже.

Вход измеряемого проходного элемента

СВЧ подключают к выходу ЧМ-рефлектометра, к выходу измеряемого проходного элемента подключают меру КСВ частотная характеристика которой в рассматриваемой полосе частот известна. ЧМ-рефлектометр настроен на измерение коэффициента отражения меры

КСВ. Так как при прохождении через измеряемый проходной элемент СВЧ ослабевают оба сигнала — и падающий (распространяющийся от ЧМ-рефлектометра к мере КСВ) и отраженный (распространяющийся от меры

КСВ к ЧМ-рефлектометру), то измеренное

ЧМ-рефлектометром значение коэффициента отражения меры КСВ отличается от действительного, причем отношение истинного значения коэффициента отражения меры КСВ к измеряемому равно квадрату коэффициента отражения измеряемого проходного элемента

СВЧ.

Если использована СВЧ-нагрузка (мера

КСВ), коэффициент отражения которой в исследуемой полосе частот от частоты не зависит, экран осциллоскопа ЧМ-рефлектометра можно отградуировать непосредственно в значениях квадрата коэффициента ослабления.

Устройство наиболее эффективно при измерении с высокой то ностью малых коэффициентов ослабления.

15 Предмет изобретения

Устройство для измерения ослабления проходных элементов СВЧ в полосе частот, содержащее ЧМ-рефлектометр, отличающееся тем, що что„с целью устранения погрешности рассогласования, измеряемый проходной элемент

СВЧ включают между ЧМ-рефлектометром и калиброванной по коэффициенту отражения

СВЧ-нагру экой.

В п т б В п т б 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерений в электронике СВЧ

Изобретение относится к способам определения неоднородностей электрофизических и геометрических параметров диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий на поверхности металла и может быть использовано при контроле состава и свойств твердых покрытий в химической, лакокрасочной и других отраслях промышленности

Изобретение относится к радиотехнике СВЧ

 // 413435
Наверх