Патент ссср 418772
О П И С А Н И Е щ 4I8772
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства «¹
Заявлено 26Х11.1971 (№ 1686079/26-25) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 0503.74. Бюллетень ¹ 9
Дата опубликования описания 09.08.74
М. Кл. G Oln 2lf20
Государственный комчтет
Совета Министров СССР по долом изооротоний и открытий
УДК 533.6.071(088.8) Автор изобретения
А. Д. Степанов
Объединенный институт ядерных исследований
Заявитель
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ПЛАЗМЕННОГО СГУСТКА эф св ——
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при диагностике плазменных и электронных сгустков.
Известен способ измерения параметров плазменного сгустка, включающий регистрацию длины пролетной базы и воздействия сгустка на зондирующие световые лучи с определением времени пролета сгустком фиксированного расстояния между регистраторами.
Этот способ недостаточно точен и nе позволяет измерять на малых базах параметры сгустров, имеющих скорость, близкую к скорости света.
С целью повышения точности измерений, согласно предложенному способу, время пролета сгустком длины пролетной базы сравнивают со временем прохождения светом оптической длины пути, изменяют одну из этих длин до совпадения обоих времен в пределах временной длины сгустка и по результатам измерения длины пролетной базы и оптической длины пути света судят о длине и скорости сгустка.
На чертеже показана схема, поясняющая способ.
Схема содержит источник зондирующего светового излучения 1, движущийся плазменный или электронный сгусток 2, зеркала 3 и
4, приемник зондирующего излучения 5.
Способ осуществляется следующим образом.
Через сгусток 2 в точке 0 пропускают свет, в результате чего формируется световой сиг5 нал длительностью где !, =l+d tgn+6, а — угол падения зон10 дирующего излучения на сгусток, d — толщина, l — длина сгустка, v — скорость сгустка; о — толщина луча зондиру|ощего излучения.
Этот световой сигнал отражается от зеркал 3, 4 н снова пересекает траекторшо сгустка, дви15 жущегося вдоль оси ОХ, в точке Х0, пройдя путь 1.=ОЛ+ЛВ+ВХ за время 1 .. Сравнивают время tL с временем пролета t - сгустком расстояния Х=ОХ0, изменяют длину пролетной базы до совпадения tI. и t<, характеризу20 ющегося тем, что световой сигнал еще раз взаимодействует со сгустком в точке Х0. Сигнал, являющийся результатом двойного взаимодействия света со сгустком, регистрируют приемником 5. Этот же сигнал получают при
25 изменении 4 или t (в пределах временной длины сгустка l,„,,/v) за счет изменения L или
Х. На схеме изображен случай, когда изменяют Х прп постоянном L. Например, при некотором правом крайнем положении Х=Х. ре30 гистрнруют сигнал двойного взаимодействия
418772 га эф
С о
Составитель Ю. Денисов
Техред Е. Борисова
Корректор Н. Торкина
Редактор Т. Орловская
Заказ 18!О/12 Изд. М 578 Тираж 65! Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, )К-35, Раушская нао., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 света со сгустком. В этом случае свет прошел путь через конец сгустка в точке 0 и начало сгустка в точке Хз.
Левое крайнее положение (Х=Х ) соответствует прохождению светом пути L=OA+
+АВ" +В"Х через начало сгустка,в точке 0 и конец сгустка в точке Хь Таким образом, при изменении Х в пределах X>
Предмет изобретения
5 Способ измерения параметров плазменного сгустка, включающий регистрацию длины пролетной базы и воздействия сгустка на зондирующие световые лучи, от л и ч а ю щ,и и с я тем, что, с целью повышения точности измере10 ний, время пролета сгустком длины пролетной базы сравнивают со временем прохождения светом оптической длины пути, изменяют одну из этих длин до совпадения обоих времен в пределах временной длины сгустка и по ре15 зультатам измерения длины пролетной базы и оптической длины пути света судят о длине и скорости сгустка.
