Патент ссср 429330

 

(ii) 429330

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистимеских

Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 29.05.72 (21) 1795014/25-28 с присоединением заявки Ие (32) Приоритет

Опубликовано 25.05.74. Бюллетень K 19

Дата опубликования описания 28.10.74 (51) М. Кл. 6 Oln 27/86

G 01Ь 7/06

Государственный комитет

Совета Министроа СССР по делам иэооретений и открытий (53) УДК 620.179.143:

:531.717 (088.8) (72) Авторы изобретения (71) Заявитель

Н. С. Акулов, В. А. Рудницкий и Г. Н. Савич

Отдел физики неразрушающего контроля

АН Белорусской ССР (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОРРЕКЦИИ ОШИБКИ

ПРИ ИЗМЕРЕНИИ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЙ К ПРИБОРАМ

МАГНИТООТРЫВНОГО ДЕЙСТВИЯ

Предмет изобретения

Известны устройства для коррекции ошибки при изменении толщины покрытий к приборам магнитоотрывного действия, содержащие график-планшет для коррекции ошибок при измерении толщины электромагнитным толщиномером МТ-ДАЗ. Однако известные графика-планшеты, во-первых, дают неполную коррекцию ошибки, а во-вторых, служат для коррекции ошибок только в диапазоне малых толщин покрытий.

Для повышения эффективности коррекции устройство снабжено направляющей, располагаемой на графике-планшете с возможностью поворота вокруг оси, расположенной на одном из ее концов, перпендикулярной плоскости графика-планшета, и визиром с нанесенными на нем взаимно перпендикулярными визирными линиями, перемещаемым по направляющей.

На чертеже изображено описываемое устройство.

Оно содержит график-планшет 1, на котором нанесена координатная сетка измеренных и истинных толщин покрытий, направляющую

2, располагаемую на графике-планшете 1 с возможностью поворота вокруг оси 3 и фиксируемую с помощью винта 4, прозрачный визир 5 с нанесенными на нем взаимно перпендикулярными визирными линиями 6 и 7 и сухарь 8, установленный с возможностью перемещения по направляющей 2, к которому с помощью винта 9 крепится визир 5.

С помощью положения немагнитной пластинки известной толщины на испытуемый ма5 териал (сталь) прибором толщиномером определяют ее толщину. Поворотом винтов 4 и

9 ослабляют связь визира 5 с сухарем 8 и направляющей 2 — с график-планшетом 1 добиваются совмещения визирной линии 6 со

10 значением измеренной толщины пластинки и визирной линии 7 — со значением истинной толщины, После этого, заворачивая винты 4 и

9, фиксируют направляющую и визир относительно сухаря 8. Сухарь 8 с визиром 5 имеет

15 возможность перемещения вдоль направляющей 2. Затем, производя измерение толщины покрытий на испытуемой марке стали, совмещают визирную линию 6 с величиной измеренной толщины, и по визирной линии 7 опре20 деляют истинную толщину.

25 Устройство для коррекции ошибки при измерении толщины покрытий к приборам магнитоотрывного действия, содержащее графикпланшет, отличающееся тем, что, с целью повышения эффективности коррекции, 30 оно снабжено направляющей, располагаемой

429330

Составитель О. Строганов

Техред 3. Тараненко

Корректоры: В. Петрова и О. Данишева

Редактор Т. Шагова

Заказ 2763/!8 Изд. № 884 Тираж %1 Подписное

ЦНИИЛИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, 5К-35, Раушская, наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 на графике-планшете с возможностью поворота вокруг оси, Расположенной на одном из ее концов, перпендикулярной плоскости графика-планшета и визиром с нанесенным на нем взаимно перпендикулярными визирными линиями, перемещаемым по направляющей.

Патент ссср 429330 Патент ссср 429330 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх