Устройство для измерения параметров листовых диэлектриков

 

О Il И С А Н И Е 445925

ИЗОБРЕТЕН Ия

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистицеских оееспубпик (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено15.01.73 (21) 1876119/26-9 с присоединением заявки № (5Ц М Кл Г 01е 27/26 С- 01у 31/00 (23) Приоритет

Государствеииый каиитет

Совета Мииистрав СССР оо делам изобретеиий и открытий (43) Опубликованс405.10.74Яэюллетеиь № 37 (53) УДК 621. 3 17. 335. 3 (088. 8) (45) Дата опубликования описания 27.10.7 (72) Автор изобретения

В. Ф. Алимин (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЛИСТОВЫХ

ДИЭЛЕКТРИКОВ

Известно устройство для измерения параметров листовых диэлектриков, состоящее из генератора СВЧ, антенны и неотражоющей стенки, в котором между облучающс-.й антенной и испытуемым диэлектриком введен импедансный трансформатор в виде плоскопараллельных пластин из диэлектрика с известной проницаемостью.

Импедансный трансформатор устройства очень чувствителен к плоскопараллельности- диэлектрических пластин, что сказывается на точности определения диэлектрической проницаемости измеряемого листа диэлектрика.

Цель изобретения — повышение точности измерений — достигается тем, что в предлагаемом устройстве на измеряемый образец и на каждую диэлектрическую пластину наложена электропроводящая пленка.

На чертеже показана блок-.схема устройства.

Высокочастотный сигнал от генератора

СВЧ 1, распространяясь через развязываюшие элементы и коаксиальный кабель, поступает в кооксияльно-волноводный переход и излучается рупорной антенной 2 в пространство. При этом из проходящей волны часть мощности отбирается с помощью зонда, детектируется и поступает в индикаторное устройство 3, показания которого пропорциональны отбираемой мощности. Перед раскрывом антенны установлены плоскопараллельные диэлектрические пластины 47. На верхнюю пл:1стипу клоду1 измеряетп мый образец 8, а на каждую пластину— ! электропроводяшую пленку 4-8.

Пластины устанавливают ио металличе— ский лист 9: Часть падающей ца нпх энергии отражается в приемо — передающую

)5 систему, в результате чего в месте расположения зонда изменяется напряженность электрического поля и, следовательно, величина извлекаемой мощности. I 1f)}l изменении положения отражающей поверхности

;ср относительно приемо-передающей системйi изменяется фаза отраженного сигнала в месте расположения зонда, что приводит

К BOSB 1&lfHY3 MOKCHJv1BJlbHOI 0 ($ ) 31 мокс минимального (11 ) показаний индп ill ll .каторнот о устройства 3.

Модуль коэффициента отражения от систекш диэлектрических пластин в процентах определяется по формуле накс

1+ "пин

Usage

Для устранения отражения и согласования измерительного устройства служит поглощающая стенка 10.

Для системы плоскопараллельных диэлектрических пластин, на каждую из которых наложена электропроводящая пленка с определенным номиналом поверхностногоi сопротивления, зависимости коэффициента отражения от длины волны теоретически рассчитывают на круговой диаграмме проводимостей или с помощью электронно-вычеспителЬной машины с заданной, точностью и представляют в виде графиков.

Йзмерив коэффициент отражения в сврбодном пространстве, сравнивают его с вЂ,расчетным значением и определяют диэлектрическую проницаемость измеряемого листа диэлектрика.

Относительная погрешность диэлектрической проницаемости, измеренной с помощью предложенного устройства, в котором на измеряемый диэлектрик накладывают электропроводящую пленку, поверхностное сопротивление которой отличается or номинала на + 1%, менее 0,5%, так 0 как с помощью электронно-вычислительной машины изменение диэлектрической проницаемости измеряемого образца можно вычислить с любой наперед заданной точностью. ! б

Предмет изобретения

Устройство для измерения параметров листовых диэлектриков, содержащее генератор СВЧ, антенну, плоскопараллельные

;. ц) диэлектрические пластины, отражатель и поглощаюшую стенку, о т л и ч а ю щ ее с я тем, что, с целью повышения точности измерений, на измеряемый образец и на каждую диэлектрическую пластину наложена электропроводящая пленка.

445Ж5

Редактор Б.Федотов

Заказ !() g(J

Ц11И!411!! осударстненного комнтла Совета Министров СССР но делам изобретений н открытий

Москва, 113035, Раушская наб., 4

1!редпрнятне «Патент», Москва, Г-59, 1зережкоаская наб., 24

7 б 1 цт

7

5 ц

Составитель . Гнлинская

Те„ред ! Ханеевя Корректор .Добровоаг-окая

Изд. ¹ $/) Тираж С! уя

Подписное

Устройство для измерения параметров листовых диэлектриков Устройство для измерения параметров листовых диэлектриков Устройство для измерения параметров листовых диэлектриков 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, индуктивных или резистивных датчиков
Наверх