Способ измерения температуры р-п перехода лавино-пролетного диода
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (») 460454
Сома Советских
Социалистических
Республик (61) Дополнительное к авт, свид-ву (22) Заявлено 28.02.72 (21) 1752847 18-10 с присоединением заявки № (23) Приоритет
Опубликовано 15.02.75. Бюллетень № 6
Дата опубликования описания 19.03.75 (51) М. Кл. G OIk 7/22
Государственный комитет
Совета Министров СССР по делам изобретений н открытий (53) УДК 536.51(088.8) (72) Авторы изобретения
В. Н. Ештокин и В. С. Соллогуб (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЪ| р-и ПЕРЕХОДА
ЛАВИНО-ПРОЛЕТНОГО ДИОДА (3) Изобретение относится к области приборостроения, а именно предназначено для измерения параметров лавино-пролетных диодов.
Известен способ измерения температуры р-и перехода лавино-пролетного диода, заключающийся в измерении динамических сопротивлений перехода при высокой и низкой частотах, нагревании диода при неизменном напряжении питания, измерении температуры его корпуса и вычислении температуры между корпусом и переходом по мощности, рассеиваемой на р-и переходе, и тепловым характеристикам диода.
Недостатком известного способа является низкая точность определения температуры, обусловленная значительным разбросом тепловых характеристик у различных диодов.
С целью повышения точности измерения температуры перехода измеряют температуру корпуса диода в момент, когда значение тока через диод уменьшается до величины, определяемой отношением динамических сопротивлений р-и перехода, измеренных на высокой и низкой частотах, и по значению измеренной температуры находят искому.
Сущность способа заключается в следующем.
Температура перехода диода определяется температурой корпуса диода и перепадом температур на тепловом сопротивлении перехода относительно корпуса, обусловленного рассеиваемой на переходе мощностью P=V i, где
V u i — соответственно, напряжение и ток перехода, тогда
T„=T„+ R,U i, где Т вЂ” температура перехода диода, Т„. — температура корпуса диода, R, †теплов сопротивление.
Величину теплового сопротивления R, можно определить по формуле:
R,= (2) где P — температурный коэффициент напряжения на переходе.
Приращение напряжения на р-и переходе диода A V определяется приращениями тока
Ai и температуры перехода ATÄ
М3 = r,Ai+ )UAT
Приращение электрической мощности, выделяющейся на переходе бр, равно
Ьр=UA +|AU= " ", (4) т где AT„„— приращение температуры корпуса.
При питании p-n перехода диода от неизЗо менного напряжения АУ=О, тогда из (3) и
460454
Предмет изобретения (7) Составитель Н. Никитин
Техред Е. Борисова Корректор И. Позняковская
Редактор Е. Семанова
Заказ 612/14 Изд. № 1080 Тираж 740 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр Сапунова, 2 (4) связь между приращениями тока и температурой корпуса при нагреве его от внешнего источника имеет вид, (i,— 1,)(r,+R,)U ) = — 8 /(7„,— 7 .,), (5) где Т„, и Т„, — температура корпуса до и после нагрева.
Если диод находится в рабочем состоянии, определяемом следующими параметрами: .Vt — напряжение перехода, 4 — ток через переход, ҄— температура корпуса диода, ҄— температура перехода диода, которую нужно измерить, и если при неизменном рабочем напряжении перехода (АУ=О) повысить с помощью внешнего теплового источника температуру корпуса диода до Т„, то ток через переход уменьшается, а его новое, уменьшенное значение можно определить, решая совместно (2), (3), (4) при ЛУ=О
Откуда, принимая во внимание (1), можно получить
Тогда при 4= оудем иметь Т„, =Т„,.
° ° в
Гн
Таким образом, температура р-и перехода
5 лавино-пролетного диода Т„, определяется как температура корпуса диода Т... до которой нужно нагреть корпус для того, чтобы снизить ток в отношении значений динамического сопротивления р-и перехода, измеренного на выI0 сокой и низкой частоте.
Способ измерения температуры р-и nepeI5 хода лавино-пролетного диода, заключающийся в измерении динамических сопротивлений перехода при низкой и высокой частотах, нагревании диода при неизменном напряжении питания и измерении температуры его корпу20 са, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, измеряют температуру корпуса диода в момент, когда значение тока через диод уменьшается до величины, определяемой отношением динамических сопротивле25 ний р-и перехода, измеренных на высокой и низкой частотах, и по значению измеренной температуры находят искомую.
