Способ определения остаточного несведения лучей на экране многолучевых кинескопов

 

СПИ

ИЗОБРЕТЕНИЯ (ii) 464О 2 9

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДИ ЕДЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 21.12.73 (21) 1979066/26-25 с присоединением заявки № (32) Приоритет

Опубликовано 15.03.75. Бюллетень № 10

Дата опубликования описания 28.04.75 (51) M. Кл. Н ОЦ 9/18

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621.385.832 (088.8.) (72) Авторы изобретения

Г. П. Мешкаускас и А. Л. Травин

Вильнюсский завод радиокомпонентов (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСТАТОЧНОГО НЕСВЕДЕНИЯ

ЛУЧЕЙ НА ЭКРАНЕ МНОГОЛУЧЕВЫХ КИНЕСКОПОВ

Изобретение относится к области телевидения, в частности к измерению параметров кинескопов и отклоняющих систем для цветного телевидения.

Известный способ определения остаточного несведения лучей на экране кинескопа заключается в том, что в катушки отклоняющей снсте tel и системы сведения подаются токи, обеспечивающие совмещения лучей на вертикальной и горизонтальной осях растра. Остаточное несведение лучей в диагональных областях экрана оценивается визуально путем измерения расстояния между пятнами люминофора, светящимися под воздействием отдельных лучей (следов).

Такой способ оценки содержит значительную погрешность в связи с необходимостью измерения малых расстояний (порядка нескольких миллиметров) между светящимися пятнами люминофора, имеющими размытие границы, что усугубляется явлением паралакса. Кроме того, простое измерение расстояния между лучами не дает представления о характере остаточного несведения, так как при этом не сообщается информация об отклонении каждого из лучей от условного центра сведения.

Для определения характера остаточного несведения лучей на экране многолучевого кинескопа и повышения точности измерения вели-. чины остаточного несведения по предлагаемому способу оценку остаточного несведения лучей производят по расстоянию следов лучей от условного центра сведения, что вводит информацию о характере остаточного несведения.

Считывание результатов производят не методом оптического измерения расстояний между следами лучей, а измерением величины тока, необходимого для перемещения каждого из лучей в условный центр сведения, что существенно повышает точность отсчета, Для перемещения каждого из лучей в условный центр сведения на магнитопроводах

15 систем сведения размещают дополнительные обмотки, в которые от источника постоянного напряжения подаются регулируемые токи.

По величине и знаку этих токов, которые могут быть пересчитаны в линейные величины

2о остаточного несведения, можно судить î характере и величине остаточного несведения в данной точке растра.

Предмет изобретения

Способ определения остаточного несведения лучей на экране многолучевых кинескопов путем подачи регулируемых токов в катушки отклоняющей системы и системы сведения для

Зо обеспечения совмещения лучей в центре све464029

Составитель Н. Таборко

Техред О. Гуменюк

Редактор И. Шубина

Корректоры: E. Давыдкина и В. Дод

Заказ 974/!2 Изд. № 1190 - Тираж 833 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 дения кинескопа, отличаю щи и с я тем, что, с целью повышения точности измерения, в дополнительные обмотки, размещенные на магнитопроводвх системы сведения, от источника постоянного напряжения подают регулируемые токи, необходимые для полного совмещения лучей в условный центр сведения экрана, а по величине и знаку этих токов производят оценку остаточного несведения лу5 чей.

Способ определения остаточного несведения лучей на экране многолучевых кинескопов Способ определения остаточного несведения лучей на экране многолучевых кинескопов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электровакуумной технике, в частности к способу изготовления ЭОП 3-го поколения методом переноса и устройству для его осуществления

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано в производстве газоразрядных индикаторных панелей (ГИП)

Изобретение относится к технологии изготовления фотоэлектронных приборов

Изобретение относится к электровакуумной технике, в частности к изготовлению ЭОП с прямым переносом изображения

Изобретение относится к электронным устройствам, использующим микроканальные пластины (МКП), а более конкретно - к способам соединения микроканальной пластины с диэлектрическим изолятором

Изобретение относится к электронным устройствам, использующим микроканальные пластины (МКП), а более конкретно к способам соединения микроканальной пластины с другими компонентами
Наверх