Способ измерения температуры поверхности подложки в процессе вакуумного напыления тонких пленок

 

ОПИСАНИЕ 47УЗГ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

А@И Совотвнни

Союионистическик

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (51) М. Кл. G 01k 17/06

С 23с 13/00 (22) Заявлено 03.05.73 (21) 1913392/26-21 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 15.07.75. Бюллетень № 26

Дата опубликования описания 09.10.75

Государственный комитет

Совета Министров СССР ло делам изобретений и открытий (53) УДК 621.382.002 (088.8) (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ

ПОДЛО)ККИ В ПРОЦЕССЕ ВАКУУМНОГО НАПЫЛЕНИЯ

ТОНКИХ ПЛЕНОК

Изобретение относится к микроэлектронике.

Известен способ измерения температуры поверхности подложки в процессе вакуумного напыления тонких пленок, основанный на периодическом нанесении на подложку парообразного теплоносителя. Однако этот способ имеет большую погрешность измерения.

В целях повышения точности измерения по предлагаемому способу один конец подложки нагревают до температуры испарения напыляемого вещества, а другой ее конец — до температуры в два раза меньшей, затем производят три последовательных напыления с заданной плотностью парообразного теплового носителя с определением после каждого напыления положения границы пленки и чистой поверхности подложки.

Измерение температуры подложки производят следующим образом.

На исследуемую подложку напыляют в виде тонкой пленки парообразный теплоноситель, зависимость скорости С осаждения атомов которого от температуры поверхностного слоя подложки имеет вид

С = Аехр где А и  — коэффициенты, зависящие от температуры подложки и условий измерения, T„1, — критическая температура, выше которой прекращается конденсация атомов теплоносителя на поверхности подложки вследствие испарения напыляемого вещества. Посредством нагревания одного из концов подложки до температуры Т„р, а другого конца до температуры вдвое меньшей, на всей длине

1 подложки поддерживают одинаковый градиент температуры, в результате часть поверхностного слоя подложки, нагреваемая до10 полнительно тепловым потоком теплоносителя на температуру AT, имеет температуру, превышающую Т„.р, и не покрывается тонкой пленкой. Визуально различимая граница пленки, находящаяся на расстоянии Х от более горячего края подложки, имеет температуру, равную сумме величин температуры AT и температуры Т„массивного тела подложки, зависящей от расстояния Х по закону

0,5Т,@(2à — Х)

20 причем эта сумма равна температуре Т„р.

Для исключения трудноопределимых величин А, В и С производят последовательное нанесение трех тонких пленок с заданной плотностью соответственно П, П,)П, парообразного теплоносителя. После каждого напыления измеряют положение соответствующих границ Хь Хз, Хз, вычисляют соответст30 вующие им значения температур Т„„Т„ и

477317

Предмет изобретения

Составитель А. Степанов

Текред 3. Таранснко

Редактор Т. Юрчикова

Корректоры: Т. Добровольская и Т. Гревцова

Заказ 2345/1 Изд. № 1633 Тираж 740 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, УК-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Т„, по приведенной выше формуле и, определив соответствующий упомянутым плотностям теплоносителя дополнительный нагрев ХТ, вычисляют температуру поверхностного слоя подложки.

Способ измерения температуры поверхности подложки в процессе вакуумного напыления тонких пленок, основанный на периодическом нанесении на подложку парообразного теплоносителя, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, один конец подложки нагревают до температуры

5 испарения напыляемого вещества, а другой ее конец — до температуры в два раза меньшей, затем производят три последовательных напыления с заданной плотностью парообразного теплового носителя с определением пос10 ле каждого напыления положения границы пленки и чистой поверхности подложки,

Способ измерения температуры поверхности подложки в процессе вакуумного напыления тонких пленок Способ измерения температуры поверхности подложки в процессе вакуумного напыления тонких пленок 

 

Похожие патенты:

Тепломер // 474707

Изобретение относится к области централизованного теплоснабжения жилых, коммунальных и производственных объектов

Изобретение относится к области централизованного теплоснабжения жилых, коммунальных и производственных объектов

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам термостатирования контрольных спаев дифференциальных термопар

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к приборам для определения величины плотности теплового потока на плоской поверхности

Изобретение относится к области микроэлектроники и теплотехники, в частности к способам измерения малых тепловых потоков, и может быть использовано для измерения быстроменяющихся тепловых потоков

Изобретение относится к информационно-измерительной технике и может быть использовано в медицине, психологии, педагогике

Изобретение относится к области приборостроения, в частности к системам контроля измерительной информации по первичным параметрам, определяющим потребление квартиросъемщиками коммунальных услуг (горячая и холодная вода, тепловая энергия и электроэнергия, газ)

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения энергетических параметров лазерного излучения в установках для лазерной технологии, а также в лазерной связи и локации, в лабораторных установках при проведении научных экспериментов

Изобретение относится к области измерительной техники

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам термостатирования контрольных спаев дифференциальных термопар
Наверх