Электромагнитный дефектоскоп

 

{11) 492797

Союз Советских

Социалистических

Респубпик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 14.06.74 (21) 2037786/25-28 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (43) Опубликовано 25.11.75,Бюллетень № 43 (45) Дата опубликования описания 23.02.76 (51) М. Кл. Q 01@ 27/86

Государственный комитет

Совета Министров СССР оо делам изобретений и открытий (53) УДК 620.179.. 1 4{088.8 ) (72) Авторы изобретения

В. В. Сухоруков, Ю. М. Улитин и С. С. Ерчев (71) Заявитель Московский ордена Ленина энергетический институт (54) ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП

Изобретение относится к средствам э екI тромагнитной структуроскопии изделий и может. быть использовано для контроля и сортировки протяженных электропроводящих материалов. 5

Известен электромагнитный дефектоскоп, содержаший токовихревой преобразователь и связанный с ним входом анализатор сигналов по длительности и амплитуде, Однако производительность контрольносортировочных операций при применении известного дефектоскопа недостаточная. Селектор сигналов по длительности и амплитуде в известном дефектоскопе выполнен в виде последовательно связанных триггеров и генератора счетных импульсов.

I1enbm изобретения является повышение производительности контрольно-сортировочных операций при дефектоскопии движушихся изделий.

Для этого анализатор сигналов по длительности и амплитуде выполнен в виде решаюшего блока, связанных с ним выхода мии амплитудного дискриминатора и блока .сравнения, один вход которого соединен с .

25.входом амплитудного дискриминатора, подl-. ключенных к другому входу задатчика вре-1 менных интервалов и преобразователя скорости движения изделия в электрический сигнал и счетчиков дефектов, соединенных с выходами решающего блока.

На чертеже пр иведена структурна я элек— трическая схема дефектоскопа.

Электромагнитный дефектоскоп содержит генератор 1, соединенный с ним токовихревой преобразователь 2, с которым связан через детектор 3 анализатор сигналов по длительности и амплитуде, состояший из амплитудного дискриминатора 4, связанного входом с одним из входов блока сравнения 5, с вторым входом которого соединен задатчик 6 временных интервалов, решаюшего блока 7, связанного входами с амплитудным дискриминатором 4 и блоком сравнения 5, а выходами - со счетчиками

8, 9, 10 дефектов, преобразователя 11 скорости движения изделия в электрический сигнал, соединенного выходом с задатчиком

6 временных интервалов.

Дефектоскоп работает следующим обра- зом.

192797

Состав ител A äóõàíèí

РедактоР А.Зиньковский ТехРед E. одурушина Корректор H.äå6åäåâà

Заказ - В

Изд. ле Д 5

ТиРаж 9()2

Подписное

ЦНИИПИ Государственного (омитета Совета Министров СССР по делам изо(плетений и открытий

Москва, l l303- Раушская наб., 4

Предприятие «Патент», Мос:ва, Г-59, Бережковская наб., 24

Генератор 1 возбуждает преобразова, тель 2, выходной сигнал последнего пост пает на детектор 3. На выходе детектора

3 выделяется огибающая и подается на дискриминатор 4 и блок 5 сравнения. На другой вход блока 5 йодаются импульсы . от задатчика 6 временных интервалов. В зависимости от длительности сигнала, поступающего с детектора 3, появляется сигнал на одном из выходов блока 5. На входы решающего блока 7 поступают сигналы с дискриминатора 4 и блока 5. Блок

7 посылает импульсы тока в один из счет чиков 8, 9, 10 в зависимости от глубины

I дефекта.

Блок 7 представляет собой дешифратор, который выдает сигналы, эквивалентные зависимостям параметров сигнала преобразователя 2 от протяженности и глубины дефектов. Задатчик 6 временных интервалов управляется преобразователем 1 1.

Таким образом распознавание дефектов по глубине ведется с учетом их длины и

14 независимо от скорости перемещения изделия. формула изобретения

5; Электромагнитный дефектоскоп, содерI жащий токовихревой преобразователь и связанный с ним входом анализатор сигналов по длительности и амплитуде,,о тличающийся тем,что,сцелью повышения производительности контрольно-, сортировочных, операций. при дефектоскопии движущихся изделий, анализатор сигналов по длительности и амплитуде выполнен в виде решающего блока, связан ных с ним выходами амплитудного дискри- минатора и блока сравнения, один вход которого соединен с входом амплитудного дискриминатора, подключенных к другому входу задатчика временных интервалов

® и преобразователя скорости движения изделия в электрический сигнал и счетчиков дефектов, соединенных с выходами решающего блока.

Электромагнитный дефектоскоп Электромагнитный дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительным приборам и может быть использовано для контроля жидких сред, например молочных продуктов

Изобретение относится к аналитическому приборостроению и может быть использовано для определения концентрации паров ароматических углеводородов в атмосфере промышленных объектов и при экологическом контроле

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля анизотропии прочности твердых металлических и строительных материалов и изделий

Изобретение относится к области исследования физико-механических свойств металлов и может быть использовано при диагностировании фактического состояния конструкции летательного аппарата после определенной наработки в процессе профилактических осмотров самолета

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа материалов путем определения их физических свойств, в частности предела прочности

Изобретение относится к геофизике (гравиметрии, геомагнетизму), к общей физике и может быть использовано при определении взаимодействия материальных тел, при расчетах магнитной напряженности вращающихся тел, объектов, тяжелых деталей аппаратов, вращающихся с большой скоростью

Изобретение относится к способам анализа смесей газов с целью установления их количественного и качественного состава и может быть использовано в газовых сенсорах
Наверх