Способ определения времени проявления и оптимальной экспозиции

 

О П И С А Н И Е (ii1 49376G

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (б1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 26.08.74 (21) 2054589/18-10 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 30.11.75. Бюллетень ¹ 44

Дата опубликования описания 04.03.7б (51) М. Кл. О 03с 5, 02

Государственный комитет

Совета Мннистров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 771.534,52

{088.8) (72) Авторы изобретения (71) Заявитель

Э. Д. Тамицкий и В. С. Пейрик

Государственный научно-исследовательский институт земельных ресурсов (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВРЕМЕНИ ПРОЯВЛЕНИЯ

И ОПТИМАЛЬНОЙ ЭКСПОЗИЦИИ

Изобретение относится к фотографическим способам и процессам.

Известны способы определения времени проявления и оптимальной экспозиции путем визуального сравнения плотности испытуемого негатива с плотностью эталонного нейтрально-серого поля.

С целью упрощения и ускорения процесса ступенчатую шкалу клина-компенсатора совмещают со ступенчатой шкалой пробного негатива до получения равномерного ceiporo поля суммарных плотностей, а затем полученное серое поле уравнивают с эталонным нейтрально-серым полем путем смещения клина-компенсатора на целое число полей, по которому считывают экспозицию.

На фиг. 1 показана схема определения времени проявления, не фиг. 2 — схема определения экспозиции.

При осуществлении способа последовательно выполняют следующие операции: предварительно экспонируют серую ступенчатую шкалу; полученное скрытое изображение проявляют, фиксируют и промывают; негативное изображение серой шкалы рассматривают визуально вместе с набором ступенчатых клиньев-компенсаторов, плотность полей которых нарастает навстречу плотностям негатива серой шкалы, образуя в сумме равномерное серое поле.

Далее наблюдают на просвет шкалу, представляющую собой сумму оптических плотностей испытуемого негатива и одного из эталонных клиньев-компенсаторов. Рассматри5 вая одновременно все поля, обнаруживают нарастание плотностей полей вправо илп влево, что является показателем перепроявления (фиг. 1, в) или недопроявления (фиг. 1,а) негатива по отношению к задан10 ному оптимальному коэффициенту контрастности (фиг. 1, б). Вводят поочередно,ряд клиньев-компенсаторов до получения равномерного серого поля и получают поправку во время проявления в процентах.

15 Сопоставляя полученное равномерное серое поле с оптимальной эталонной плотностью, обнаруживают либо совпадение оптических плотностей негатива и компенсатора с эталонной, что свидетельствует о пра20 вильной экспозиции (фиг. 2, д), либо разницу в плотностях, что указывает на недодержку (фиг. 2,г) или передержку (фиг. 2, е). Смещая компенсатор на одну — две ступени вправо или влево, добиваются равенства

25 плотностей негатива и компенсатора с эталонной плотностью и отсчитывают поправку в экспозицию.

Определение поправок занимает несколько минут и обеспечивает высокую точность бла30 годаря одновременному визуальному сопоставлению оптических плотностей.

493760

Предмет изобретения б

Фиг.1

Составитель Л. Теплова

Техред Е. Митрофанова

Редактор Н, Батурина

Корректор М. Лейзерман

Закаа 145/19 Изд. № 2029 Тираж 529 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Способ определения времени проявления и оптимальной экспозиции путем визуального сравнения плотности испытуемого негатива с плотностью эталонного нейтрально-серого поля, отличающийся тем, что, с целью упрощения и уск1зрения процесса, ступенчатую шкалу клина-компенсатора совмещают со ступенчатой шкалой пробного негатива до получения равномерного серого поля суммарных плотностей, а затем полученное серое поле уравнивают с эталонным нейтрально-се5 рым полем путем смещения клина компенсатора на целое число полей, по которому считывают экспозицию.

Приоритет 02.04.73.