Способ определения шероховатости поверхности диэлектриков

 

СССР

5 7 .Класс 42 k, 29„

ОписАние изОБРРтениЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ, Заявлено 28 ноября i938 года за лв 20167.

Опубликовано 30 июня 1939 года.

Тяп. арт. «Соя. Пея». Зак. X 507 (— 550

Изобретение относится к определению шероховатости и степени полировки поверхности диэлектриков и ос новано на том общеизвестном факте. что тонкий слой металла, нанесенный на шероховатую поверхность, может изменяться в весьма мелкую сетку, заполняющую лишь углубления поверхности, или, наоборот, может скопляться преимущественно на микровозвышениях на поверхности, в зависимости от способа нанесения металла. И в том и в другом случае электрическая проводимость слоя будет отличаться от проводимости аналогичного слоя на идеальной поверхности. То же будет и относительно сопротивления. Только в случае слоев, превосходящих по толщине величину неровностей на поверхности, можно пренебрегать этими неровностями.

При достаточно тонких слоях элек-грические сопротивления их могут служить индикатором для оценки степени полировки. Нанесение таких исключительно тонких слоев можн:i осуществить катодным распылением, конденсацией паров или осаждением проводящего вещества химическим, способом.

Сравнение сопротивления полученного слоя с сопротивлением аналогичного слоя на эталонной поверхности дает шкалу для оценки неровностей.

Предмет изобретения.

Способ определения степени шероховатости поверхности диэлектриков, отличающийся тем, что как на испытуемую поверхность, так и на поверхность эталона наносят одним из известных приемов тончайший слой проводящего электрический ток вещества и о степени шероховатости судят путем сравнения проводимостей указанных поверхностей.

Способ определения шероховатости поверхности диэлектриков 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к средствам обнаружения движения активного устройства относительно поверхности для управления работой этого устройства при обработке поверхности

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при активном контроле шероховатости поверхности детали в процессе ее обработки преимущественно на станках токарной группы

Изобретение относится к области материаловедения, точнее к исследованию поверхностной структуры кристаллов и пленок в мезоскопическом диапазоне размеров методом атомно-силовой микроскопии и прецизионному инструментарию для научных и производственно-технологических исследований

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а именно к способам измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с применением сканирующего зонда (атомно-силового микроскопа, магнитосилового микроскопа)

Изобретение относится к транспортной измерительной технике и предназначено для использования при измерении ускорения автомобиля в системе электронного управления двигателем
Наверх